CHƢƠNG II : PHƢƠNG PHÁP NGHIÊN CỨU
2.3. Sử dụng phƣơng pháp tích liều chiều dài DLP
Với ba phương pháp được nêu ra ở trên, phương pháp sử dụng giá trị CTDI thì giá trị CTDI100 là chỉ số quan trọng được sử dụng nhưng nó lại xem như có thể gây ra sai sót trong việc đánh giá liều bệnh nhân. Phương pháp sử dụng sơ đồ đồng liều theo tài liệu BIR-IPEM được đánh giá cao về tính che chắn nhưng khơng đảm bảo về mặt kinh tế. Với phương pháp sử dụng giá trị DLP, trong suốt quá trình số liệu được ghi lại một cách thường xuyên và liên tục với các hệ số tán xạ theo các hướng khác nhau. Tuy rằng khơng có một kết quả cụ thể nào về ưu điểm của việc sử dụng DLP cho việc tính tốn che chắn nhưng phương pháp này được xem là phương pháp khuyến khích được sử dụng trong các bài toán che chắn cho phòng máy CT Scanner[5]. Vì vậy tác giả mạnh dạn sử dụng phương pháp tích liều chiều dài DLP cho luận văn của mình.
Mục đích của việc tính tốn che chắn là xác định bề dày của lớp che chắn sao cho giá trị air kerma tại khu vực lưu trú bên ngoài lớp che chắn giảm tới giá trị (mục tiêu của việc tính tốn che chắn P được hiệu chỉnh bởi hệ số chiếm cứ T đối với khu vực tiến hành thiết kế che chắn ). Trong đó, P là mục tiêu của việc che chắn – là mức air kerma được sử dụng trong việc trong việc tính tốn thiết kế và đánh giá cấu trúc lớp che chắn nhằm mục đích bảo vệ nhân viên bức xạ và quần chúng. Mục tiêu che chắn là khác nhau đối với khu vực kiểm sốt và khu vực khơng kiểm soát. Giá trị hàng tuần cho khu vực kiểm soát là 0,1mGy/week, cho khu vực khơng kiểm sốt là 0,02mGy/week [11]. Hệ số chiếm cứ T đối với một khu vực tỉ lệ với thời gian trung bình mà cá nhân bị chiếu xạ tối đa. Bảng hệ số chiếm cứ đối với một số khu vực cụ thể đã được đưa ra tại tài liệu [11]
Đối với phương pháp sử dụng CTDI và DLP đều đưa về giá trị air kerma thứ cấp tại khoảng cách 1m đối với vị trí isocenter khi chưa được che chắn. Từ đó xác định tỉ số truyền qua đối với chùm tia rộng B(x) được định nghĩa là tỉ số giữa giá trị air kerma tại vị trí sau lớp che chắn bề dày x và giá trị air kerma tại cùng vị trí mà
khơng có sự can thiệp của che chắn bức xạ. Khi đó, bề dày xbarier tối ưu nhất của lớp che chắn sẽ thỏa biểu thức:
(2.10) Trong đó, P là mục tiêu của việc tính tốn che chắn
T là hệ số chiếm cứ đối với khu vực thiết kế che chắn
d là khoảng cách ngắn nhất từ nguồn phát bức xạ tới vị trí lưu trú bên ngồi lớp che chắn.
N là số pha chụp CT trong một tuần.
K1 là giá trị air kerma trung bình ứng với mỗi pha chụp CT tại khoảng cách 1m từ nguồn phát bức xạ khi chưa được che chắn.
Đối với máy CT Scanner, ta chỉ quan tâm tới bức xạ thứ cấp do đó biểu thức (2.10) được viết lại:
(2.11) Trong đó:
là giá trị air kerma thứ cấp ứng với mỗi pha chụp CT tại khoảng cách 1m chưa được che chắn.
dsec là khoảng cách từ nguồn phát bức xạ thứ cấp tới vị trí bị chiếm cứ bên ngồi lớp che chắn.
Từ các giá trị Bsec(Xbarrier) ta dễ dàng xác định được bề dày tối ưu nhất cho lớp che chắn dựa vào việc xác định được nghiệm đại số của Xbarrier theo công thức:
(2.12) Trong đó, α, β, γ là các tham số phụ thuộc vào vật liệu của lớp che chắn, cũng như sự phân bố tải làm việc theo giá trị của kVp.
Ngoài ra, ta cũng có thể xác định bề dày cho lớp che chắn dựa trên đường cong thể hiện sự truyền qua một số vật liệu che chắn của bức xạ thứ cấp đối với máy CT Scanner tại phụ lục (Hình B.1, B.2).