3.1. Khảo sát các tính chất hóa lý của vật liệu polyuretan
3.1.2. Đánh giá hình thái học của vật liệu
Mẫu polyuretan đo SEM được đặt trong buồng chân không để thu được hình ảnh điện tử thứ cấp có độ phân giải cao. Để giảm hiện tượng tích điện phát sinh khi chiếu tia X vào, bề mặt mẫu cần được phủ một lớp mỏng cacbon (đối với mẫu thông thường), hay lớp kim loại như vàng, platin (dùng cho mẫu có độ phân giải cao) dày cỡ vài chục đến 100 Å. Tuy nhiên, khi phủ màng phải cẩn thận để tránh mẫu bị
nhiễm bẩn và bị biến dạng, ngoài ra lớp phủ này có thể nhìn thấy ở độ phóng đại cao và điều này hạn chế khả năng phân giải các chi tiết siêu nhỏ. Phủ bằng phương pháp bốc bay, hoặc phún xạ. Tín hiệu tạo ra ở dạng ảnh có độ phân giải cao của bề mặt mẫu vật bằng cách sử dụng một chùm điện tử hẹp quét trên bề mặt mẫu. Chùm điện tử sẽ tương tác với các nguyên tử nằm gần hoặc tại bề mặt mẫu vật sinh ra các tín hiệu (bức xạ) chứa các thơng tin về hình ảnh của bề mặt mẫu, thành phần nguyên tố, và các tính chất khác như tính chất dẫn điện.
Các quan sát về hình thái mẫu polyuretan được thể hiện trong hình 3.3:
(a) (b)
Hình 3.3: Hình ảnh SEM của các vật liệu tổng hợp được (a): mẫu PU nguyên bản; (b): mẫu PU có phụ gia ATH/TPP 50/20 % (Độ phóng 1000 vào 3000)
Hình thái vật liệu được quan sát thông qua ảnh SEM đối với vật liệu polyuretan không sử dụng phụ gia cho bề mặt tương đối phẳng và đồng nhất, trong
hạt này chính là nguyên nhân làm tính chất cơ lý của vật liệu bị giảm đi, có thể do sự phân tán ATH chưa được hồn tồn, bề mặt vẫn cịn một số ít lỗ nhỏ là bọt trong q trình gia cơng vật liệu. Đồng thời, sự tồn tại của các hạt phụ gia dạng rắn cũng giúp giải thích về hiện tượng suy giảm khả năng bám dính trên nền vải của nhựa polyuretan. TPP tan tốt trong dung môi hữu cơ, tuy nhiên lại gây ra sự gồ ghề, lượn sóng trên bề mặt vật liệu. Vì vậy cả hai phụ gia này đều được kiểm soát về mặt hàm lượng khi thêm vào vật liệu nền polyuretan.