Phương phỏp nhiễu xạ tia X được sử dụng rất phổ biến để xỏc định, phõn tớch cấu trỳc tinh thể và khảo sỏt độ sạch pha của vật liệu. XRD là hiện tượng chựm tia X bị nhiễu xạ trờn cỏc mặt tinh thể của vật rắn do tớnh tuần hoàn của
cấu trỳc tinh thể. Khi chiếu chựm tia X vào tinh thể thỡ cỏc nguyờn tử trở thành tõm phỏt súng thứ cấp. Do sự giao thoa của cỏc súng thứ cấp, biờn độ của cỏc súng đồng pha sẽ được tăng cường trong khi đú cỏc súng ngược pha sẽ triệt tiờu nhau, tạo nờn ảnh nhiễu xạ với cỏc đỉnh cực đại và cực tiểu. Điều kiện nhiễu xạ được xỏc định từ phương trỡnh Bragg (Hỡnh 2.2):
(2.1)
Trong đú d là khoảng cỏch giữa cỏc mặt phẳng mạng tinh thể, n= 1,2,3… là số bậc phản xạ, là gúc tới và là bước súng của tia X.
Hỡnh 2.2. Minh họa về mặt hỡnh học của định luật nhiễu xạ Bragg
Phộp đo XRD của cỏc NC được thực hiện trờn thiết bị SIEMENS D-5005 tại trung tõm Khoa học Vật liệu trường Đại học Khoa học Tự nhiờn Hà Nội. Pha tinh thể của một mẫu được xỏc định bằng cỏch so sỏnh số lượng, vị trớ và cường độ của cỏc vạch nhiễu xạ đo được với thẻ chuẩn JCPDS – ICDD cú trong thư viện số liệu tinh thể.
Cỏc NC CdSe1-xTex trong luận văn được chế tạo bằng phương phỏp húa học trong dung mụi ODE, vỡ thế để đo XRD của cỏc NC tinh thể này thỡ ta cần chuyển chỳng thành dạng bột. Cỏc NC tinh thể CdSe1-xTex sẽ được ly tõm làm sạch, sau đú được lấy ra sấy khụ và được ộp chặt trờn đế thủy tinh. Núi chung, tớn hiệu XRD của NC là yếu, vỡ vậy khi đo cần một tốc độ quột chậm.