Mật độ mức kích thích ρ và hàm lực photo nk của các dịch chuyển nối tầng

nối tầng

Theo các nghiên cứu về dịch chuyển gamma nối tầng, mối liên hệ giữa hàm lực của các dịch chuyển gamma nối tầng k và mật độ mức cĩ quan hệ . Độ rộng bức xạ riêng phần và cường độ phân rã cĩ quan hệ như sau:

3 2/ 3/( ) /( ) i k=Γ_λ E_γ ×A ×D_λ i m λ = λ × Γ Γ _λi, (1.49) , , if if i i i f i _i f _{i i if if} I m m λ λ γγ λ λ _λ λ _{λ λ} =

∑∑

∑

Trong đĩ

Γ

A là khối lượng của hạt nhân và D là khoảng cách giữa các mức phân rã

λ

λ

Các tính tốn được tiến hành với một khoảng giá trị

∆

các mức cuối f của nối tầng phụ thuộc vào khả năng thực nghiệm. Khoảng của spin lấy tổng trên các mức trung gian i được xác định bằng quy tắc lọc lựa. Các phương trình (1.49) và (1.50) khơng cho phép xác định trực tiếp k và

ρ

một cách độc lập tường minh. Ví dụ, độ lệch của ρ từ các giá trị thực nghiệm cĩ thể bù trừ với độ lệch của hàm lực với biên độ tương ứng. Các đại lượng này xác định độ rộng tồn phần và cường độ của các nối tầng. Như vậy số liệu thực nghiệm về mật độ mức và cường độ dịch chuyển gamma càng chính xác bao nhiêu thì khả năng xác định mật độ mức và hàm lực bức xạ gamma càng chính xác bấy nhiêu.

I.4. Kết luận

Chương này trình bày một số vấn đề về nghiên cứu số liệu và cấu trúc hạt nhân dựa trên phản ứng (n,γ):

- Các ưu và nhược điểm của một số hệ đo thực nghiệm trong nghiên cứu phản ứng (n,γ).

- Việc sử dụng phương pháp cộng biên độ các xung trùng phùng.

- Sau khi xem xét các nội dung chính của các mẫu lý thuyết để lựa chọn áp dụng vào thực nghiệm, nghiên cứu sinh và các cán bộ hướng dẫn đã lựa chọn mẫu khí Fermi cĩ dịch chuyển ngược (cĩ tính đến bổ chính lớp) và sử dụng cơng thức (1.8) để làm khớp với số liệu thực nghiệm của luận án. Đồng thời, việc phân tích sự phù hợp giữa số liệu của các phịng thí nghiệm khác với lý thuyết cũng được thực hiện.

Chương II