Kính hiểu vi điện tử quét (Scanning Electron Microscope - SEM) là phương pháp phân tích vật lý hữu ích trong nghiên cứu kích thước và hình dạng của bề mặt các hạt. Thông tin đưa ra bởi những phương pháp này còn hỗ trợ cho các dữ liệu thu được từ các đường đẳng nhiệt hấp phụ và phân tích XRD.
Nguyên tắc cơ bản của hiển vi điện tử quét là dùng chùm điện tử để tạo ảnh của mẫu nghiên cứu. Ảnh đó khi đến màn huỳnh quang có thể đạt độ phóng đại theo yêu cầu. Phương pháp này cho phép xác định hình dạng và kích thước tinh thể của sản phẩm kết tinh cần nghiên cứu.
Chùm điện tử được tạo ra từ Catot (súng điện tử) qua 2 tụ quang sẽ được hội tụ lên mẫu nghiên cứu. Chùm điện tử này được quét đều lên mẫu. Khi chùm điện tử đập vào mẫu, trên bề mặt mẫu phát ra các điện tử phát xạ thứ cấp. Mỗi một điện tử phát xạ này qua điện thế gia tốc vào phần thu và biến đổi sẽ biến thành một tín hiệu ánh sáng, chúng được khuếch đại, đưa vào mạng lưới điều khiển tạo độ sáng trên màn ảnh. Ðộ sáng tối trên màn ảnh tùy thuộc lượng điện tử phát ra và tới bộ thu, và phụ thuộc tình trạng bề mặt mẫu nghiên cứu. Do có khả năng hội tụ chùm tia nên chùm điện tử có thể đi sâu vào trong mẫu, cho phép nghiên cứu cả phần bên trong của vất chất.
Hiển vi diện tử quét thường được sử dụng dể nghiên cứu kích thước và hình dạng tinh thể vật chất do nó có khả năng phóng đại ảnh và tạo ảnh mầu rất rõ nét và chi tiết. Trước khi chụp ảnh SEM, nếu mẫu dẫn điện thì không cần gia công mẫu, còn mẫu cách điện thì cần được rửa sạch bằng etanol, phân tán mẫu, sấy khô và phủ một lớp vật liệu dẫn điện cực mỏng lên bề mặt như cacbon, vàng.., để tránh tích điện trên bề mặt mẫu.
CHƯƠNG 3. THỰC NGHIỆM
Phần thực nghiệm đã tiến hành điều chế các xúc tác, xác định một số đặc trưng quan trọng của xúc tác, khảo sát hiệu suất xử lý naphtalen bằng phương pháp oxi hóa trên hệ xúc tác, đồng thời, nghiên cứu một số yếu tố ảnh hưởng tới hiệu suất xử lý naphtalen, so sánh hiệu suất xử lý naphtalen và antraxen trên cùng một hệ xúc tác.