Phương phỏp kớnh hiển vi điện tử quột(SEM)

Một phần của tài liệu Nghiên cứu tổng hợp hạt nano bạc và ứng dụng (Trang 37 - 38)

CHƢƠNG 2: NGHIấN CỨU THỰC NGHIỆM

2.5.3. Phương phỏp kớnh hiển vi điện tử quột(SEM)

Kớnh hiển vi điện tử quột (SEM) là thiết bị dựng để chụp ảnh vi cấu trỳc bề mặt với độ phúng đại lớn gấp nhiều lần so với kớnh hiển vi quang học, vỡ bước súng của chựm tia điện tử nhỏ hơn rất nhiều so với bước súng của ỏnh sỏng vựng khả kiến.

Nguyờn lý hoạt động: Một chựm tia điện tử rất mảnh quột theo hàng, theo cột trờn một diện tớch rất nhỏ trờn bề mặt mẫu nghiờn cứu, làm cho từ mẫu thoỏt ra cỏc điện tử thứ cấp, photon tia X… mang một thụng tin phản ỏnh

Nguyễn Thị Anh - K34A - Khoa Húa học 38

một tớnh chất nào đú ở chỗ tia điện tử tới đập vào mẫu. Vớ dụ, khi điện tử đú chiếu vào chỗ lồi trờn mẫu thỡ cỏc điện tử thứ cấp thoỏt ra nhiều hơn khi chiếu vào chỗ lừm. Vậy căn cứ vào điện tử thứ cấp, ta cú thể biết được chỗ lồi hay chỗ lừm trờn mẫu nghiờn cứu.Tia điện tử từ ống tia điện tử quột trờn màn hỡnh một cỏch rất đồng bộ với tia điện tử quột trờn mẫu. Nếu dựng detector thu điện tử thứ cấp từ mẫu thoỏt ra, khuếch đại lờn để điều khiển độ mạnh yếu của của điện tử quột trờn màn hỡnh thỡ kết quả trờn màn hỡnh ta thấy được chỗ sỏng tối ứng với chỗ lồi lừm trờn bề mặt mẫu. Kớnh hiển vi điện tử quột cho ta ảnh bề mặt với độ phúng đại cao, độ sõu rất hữu hiệu trong việc nghiờn cứu bề mặt mẫu.

Cỏc hạt nano bạc tồn tại dưới dạng hệ keo được nhỏ lờn một băng đồng và đem sấy khụ. Hỡnh thỏi bề mặt của cỏc hạt nano bạc được xỏc định trờn hệ FE - SEM tại phũng thớ nghiệm Trọng điểm - Viện Khoa Học Vật Liệu với Điện thế gia tốc từ 1 15 KV.

Một phần của tài liệu Nghiên cứu tổng hợp hạt nano bạc và ứng dụng (Trang 37 - 38)