CHƯƠNG 3 KẾT QUẢ VÀ THẢO LUẬN 3.1.Tính chất cấu trúc

3.1.

3.1.1.

Từ các kết quả thu được khi đo cường độ nhiễu xạ tia X với các giá trị nhiệt độ (720, 740, 760, 780, 800)°c và áp suất oxy không đổi 200mTorr ta thu được các đồ thị hình 3.1.

10 20 30 40 50 60 70 80 9020 (do) 20 (do)

Hình 3.1. Đồ thị nhiễu xạ tia X của mau YBCI2CU3O7-S chế tạo tại các nhiệt độ khác nhau 27 C u o n g d o n 20 4 35 00 0 Ệ3 00 00 29 (do) ç* Õ vi 5 40 50 60 70 80 90 20 (do) L

Từ đồ thị vẽ được ta rút ra nhận xét: cả năm mẫu YBCO chế tạo ở các nhiệt độ khác nhau đều có các đinh nhiễu xạ tia X định hướng theo hướng (00/) (với l từ 2 đến 7). Khi đi từ nhiệt độ thấp đến nhiệt độ 780/800°C , tính định hướng theo trục с tăng dần thể hiện qua cường độ nhiễu xạ tia X của các đỉnh tăng dần. Riêng với mẫu 800°c do có hiện tượng nhiệt độ cao khiến bề mặt mẫu bị rạn nên giảm tính định hướng theo trục с (các đỉnh của mẫu 800°c là nhỏ nhất).

Vì vậy từ đồ thị ta thấy rằng ở nhiệt độ 780°c có cường độ nhiễu xạ tia X là lớn nhất, gợi ý rằng tính định hướng theo trục с của mẫu này tốt nhất.

3.1.2.

740 c°

' o■

5|im

780 c°

Hình 3.2. Hình ảnh SEM của mẫu YBCO chế tạo ở các nhiệt độ khác nhau.

Quan sát mẫu chụp ảnh SEM từ 3 nhiệt độ khác nhau ta có thể rút ra nhận xét sau:

-

bim (do hệ PLD). Khi ta kiểm tra thành phần thì các hạt này là các hạt chứa Cu, Ba và phần nền là YBCO[5].

-

Từ các nhận xét trên ta có thể rút ra được là ở nhiệt độ 780°c là điều kiện