Đặc trưng nhiễu

Một phần của tài liệu Luận văn giá trị riêng trong các bước phổ của toán tử pauli hai chiều (Trang 48)

b. QWIPdang truyền tải đến vùng năng lượng cực tiểu (miniband transport).ở

2.2.4. Đặc trưng nhiễu

Nhiễu của detector InSb bao gồm nhiễu l / f , gây ra bởi nhiễu dòng điện; nhiễu

g-r (generation-recombination noise: nhiễu sinh - tái hợp gây ra bởi sự sinh và

tái hợp của điện tử và lỗ trống); nhiễu Johnson. Nhiễu l/f chiếm ưu thế trong

vùng tần số thấp và nhiễu g-r chiếm ưu thế trong vùng tần số cao hơn.

Chương 3

NGHIÊN CỨU CÔNG NGHỆ CHẾ TẠO DETECTOR InSb 3.1Chế tao mẫu Sơ

đồ các bước chế tạo mẫu

4 8

4 9

Mau được chế tạo dựa trên 1 phiến bán dẫn InSb tinh khiết ban đầu có thông số kỹ thuật được nêu ở bảng 3.1, sau đó ừải qua các quá trình xử lý hoá, làm sạch, quang khắc, ăn mòn để tạo cấu trúc quang trở như dưới đây:

Bảng 3.1. Thông số kỹ thuật phiến InSb dùng chế tạo linh kiện quang trở 2" InSb wafer (N type, undoped)

. Kích thước: 2" dia X 0.5mm thick

. Định hướng: <100> +/-0.2° hai chiều

. Đánh bóng: đánh bóng một mặt bên (mặt sau khắc)

Bảo quản trong Nitơ lỏng ừong phòng sạch Đóng gói:

Thuôc tính

* Phương pháp chế tạo, nuôi cấy:

* Định hướng * Định hướng Flat * Pha tạp * Loại bán dẫn * Nồng độ hạt dẫn * Độ linh động EPD 3.1.1 Xử lý hoá học bề mặt phiến

Các phiến InSb được cung cấp bởi nhà sản xuất thường được đánh bóng như gương 1 hoặc 2 mặt. Chúng được phủ bỏi một lớp keo gốc dầu mỏ để bảo yệ và có thể dễ dàng tẩy đi khi gia công. Phương pháp tẩy lớp keo này là sôi 2 đến 3 lần trong các dung dịch hữu cơ có thảnh phần khác nhau.

Có 3 họp chất dùng để làm sạch phiến InSb. càn phải thiết kế một bộ giữ mẫu và sử dụng trong suốt quá trình ăn mòn tiếp theo. Ba chất ăn mòn được kiểm tra và quá trình xử lý chi tiết được trình bày ở Bảng 3.1.

LEC (100) +/-0.2° (110) 0.2° (110) Không pha tạp Bán dẫn loại N 2xl014 ở 77K /cm3 >4xl05 cm2/ y.s -2 <300cm

r ^

Bảng 3.1: Chi tiêt vê các phương pháp xử lý theo 3 phương pháp

Phương pháp 1 CP4 ở tỉ lệ Phương pháp 2 CP4 ở tỉ lệ Phương pháp 3 Iondined -methanol

1 .An mòn trong dung dịch CP4 trong thời gian 3s

1. An mòn trong dung dịch CP4A trong thời gian 2 phút

1. An mòn trong dung dịch methanol trong thời gian 30 phút

2. Rửa trong nước khử i- on 3 phút

2. Rửa trong nước khử i- on 3 phút

2. Rửa trong côn 3 phút

3. Rửa trong côn 3 phút 3. Rửa trong côn 3 phút 3. An mòn trong HF 30s

4. Xì khô băng khí N2 4. Xì khô băng khí N2 4. Rửa trong côn 3 phút

5. Xì khô băng khí N2

Hình thái bề mặt

Sau khi ăn mòn phiến InSb, chúng tôi sử dụng hệ Alpha-Step IQ đặt tại

trung tâm ITIMS, Đại học Bách Khoa Hà nội để nghiên cứu độ nhám bề mặt. Kết quả được biểu diễn qua Bảng 2.3. số liệu chỉ ra 2 phương pháp tốt nhất để đạt được độ đồng đều bề mặt sau ăn mòn.

^ r

Bảng 3.2:Độ nhám bê mặt phiên sau khi làm sạch, đem vị đo fim

Thử nghiệm 1 Thử nghiệm 2 Thử nghiệm 3 Lây trung bình Mâu khảo sát

Phương pháp 1 0.61 0.51 0.71 0.61

Phương pháp 2 0.0008 0.00018 0.0004 0.001

Cụ thể tốc độ ăn mòn cho phương pháp 1 là 20|im/s, cho phương pháp 2 là 0.1|im/s và phương pháp 3 là 20|im/s. Rõ ràng phương pháp 2 cho kết quả tốt hơn các phương pháp khác. Kết quả phân tích SEM cũng chỉ ra bề mặt dùng dung dịch CP4A nhẵn hơn các phương pháp khác.

3.1.2 Làm sạch

Các tấm được làm sạch kế theo mỗi xử lí hóa học ướt dùng nước siêu tính khiết, song các dư thừa cũng được loại bỏ sau các quá trình khác bằng kỹ thuật làm sạch. Vì lí do đó mà có nhiều kỹ thuật làm sạch khác nhau cho mỗi loại ô nhiễm. Trong nước siêu tinh khiết gần như không có ô nhiễm, 1-2 phần trên một triệu (ppm) là cho phép.

- Sau đó sấy khô phiến bằng máy sấy

3.1.3 Tạo lớp tiếp xúc Ohmỉc

- Sau khi được làm sạch, bề mặt phiến được phủ một lớp kim loại In bằng phương pháp phún xạ Cathode hoặc bốc bay bằng chùm tia điện tà trong chân không để tạo lớp tiếp xúc Ohmic

3.1.3.1 Phương pháp bốc bay nhiệt

Bay bốc nhiệt (Thermal evaporation) hoặc bay bốc nhiệt ừong chân không là kỹ thuật tạo màng mỏng bằng cách bay hơi các vật liệu cần tạo trong môi trường chân không cao và ngưng tụ trên đế (được đốt nóng hoặc không đốt nóng). Kỹ thuật này đôi khi còn được gọi là bay hơi trong chân không nhưng ít dùng hơn.

* Nguyên lý của hệ bay bốc nhiệt:

Bộ phận chính của các thiết bị bay bốc nhiệt là một buồng chân không

được hút chân không cao (cỡ 10' - 10'5 6 Torr) nhờ các bơm chân không (bơm

khuếch tán hoặc bơm phân tử...). Người ta dùng một thuyền điện trở (thường làm bằng các vật liệu chịu nhiệt và ít tương tác với vật liệu, ví dụ như vônphram, tantan, bạch kim...) đốt nóng chảy các vật liệu nguồn, và sau đó tiếp tục đốt sao cho vật liệu bay hơi.

Vật liệu bay hơi sẽ ngưng đọng lên các đế được gắn vào giá phía trên. Đồi khi đế còn được đốt nóng (tùy theo mục đích tạo màng tinh thể hay vô định hình...) để điều khiển các quá trình lắng đọng của vật liệu trên màng. Chiều dày của màng thường được xác định trực tiếp ừong quá trình chế tạo bằng biến tử thạch anh. Khi màng bay hơi sẽ bám lên biến tử đặt cạnh đế, biến thiên tản số dao động của biến tử sẽ tỉ lệ với chiều dày của màng bám vào biến tử.[17]

^ Chuồng chân không

Giá C]ắn mẫu và lò đũi nóng đế

Cảm biến đo chiều dày Đế

Vật liệu bay hơi

\ ______Thuyền điện trở Thiết bị hút chân không cao (lò đữt) Hình 3,1. Sơ để nguyên lý hệ bắc bay nhiệt 3,13.2 Phương pháp phún xạ catot

Khác với phương pháp bay bốc nhiệt, phún xạ không làm cho vật liệu bị bay hơi do đốt nống mà thực chất quá trình phun xạ là quá trình truyền động năng. Vật liệu nguồn được tạo thành dạng các tấm bia (target) và được đặt tại điện cực (thường là cathode), trong buồng được hút chân không cao và nạp khí

hiếm với áp suất thấp (cỡ 10 2 mbar). Dưới tác dụng của điện trường, các

nguyên tử khí hiếm bị ion hóa, tăng tốc và chuyển động về phía bia với tốc độ lớn và bắn phá bề mặt bia, truyền động năng cho các nguyên tử vật liệu tại bề mặt bia. Các nguyên tử được truyền động năng sẽ bay về phía đế vàlắng đọng trên đế. Các nguyên tử này được gọi là các nguyên tử bị phún xạ. Như vậy, cơ chế của quá trình phún xạ là va chạm và trao đổi xung lượng, hoàn toàn khác với cơ chế của phương pháp bay bốc nhiệt trong chân không [17]

Hình 3.2,Nguyên lý của quá trình phún xạ

3.1.4 Quang khắc

3.1.4.1 Định nghĩa

Quang khắc (hay photolithography) là kĩ thuật sử dụng trong công nghệ bán dẫn và công nghệ vật liệu, nhằm tạo ra các chi tiết của vật liệu với hình dạng và kích thước xác định, bằng cách sử dụng bức xạ ánh sáng làm biến đổi

ĐếMSb

Bia vật liêu ắng đọng

các chất cảm quang phủ ữên bề mặt vật liệu. Do ảnh hưởng của nhiễu xạánh sáng nên phương pháp quang khắc không cho phép tạo các chỉ tiết nhỏ hơn micro mét, vì vậy phương pháp này còn được gọi là quang khắc micro (micro photolithography).

Quang khắc là tập hợp các quá trình quang hốa nhằm thu được các phầntử trên bề mặt của đế có hình dạng và kích thước xác định. Như vậy, quang khắc sử dụng các phản ứng quang hóa để tạo hình.

Bề mặt của đế sau khi xử lý được phủ một họp chất hữu cơ gọi là chất

cảm quang (photoresist). Chất cảm quang có tính chất nhạy quang, bền ttong

các môi trường kiềm hay axit. Cảm quang có vai trò bảo vệ các chi tiết của vật liệu khỏi bị ăn mòn dưới các tác dụng của ăn mòn hoặc tạo ra các khe rãnh có hình dạng của các chi tiết càn chế tạo. Cảm quang thường được phủ lên bề mặt tấm bằng kỹ thuật quay phủ (spin-coating).

Cảm quang được phân làm 2 loại:

• Cảm quang dương: Chất cảm quang sau khi bị ánh sáng chiếu vào sẽ bị hòa tan trong các dung dịch tráng rửa.

. Cảm quang âm: Chất cảm quang sau khi ánh sáng chiếu vào thì không bị hòa tan trong các dung dịch tráng rửa.

áiứi sáng ánh sáng

Một phần của tài liệu Luận văn giá trị riêng trong các bước phổ của toán tử pauli hai chiều (Trang 48)