tinh thể với độ chính xác cao. Ảnh nhiễu xạ là các điểm sáng rõ nét (nếu mẫu đơn tinh thể), tinh thể càng hồn hảo càng rõ nét.
•Áp dụng cơng thức Bragg: 2d.sin(θ)=λn hay 2sin(θ)=λn/d , n=1
•Do gĩc θ rất nhỏ, cĩ thể tính xấp xỉ
sin(θ)≈tan(θ)=x/L
với x,L lần lượt là khoảng cách từ vân trung tâm đến vị trí vân sáng, và khoảng cách từ thấu kính đến màn tạo ảnh => d=λ.L/ (2.x)
=> Cần biết λ , x, L
Từ các dữ liệu về nhiễu xạ điện tử, ta cĩ thể xác định cấu trúc tinh thể các hạt nano, loại tinh thể, sự định hướng, các thơng số mạng tinh thể từ đĩ cho ta các thơng tin chính xác về hạt.
III.1.2.3 Ảnh cấu trúc Domain (Ảnh Fresnel):
-Khi điện tử truyền qua mẫu, nĩ sẽ tán xạ khác nhau ở các vùng mà mơmen từ định hướng khá nhau, dựa trên sự lệch hướng của điện tử sau khi truyền qua => thu ảnh Fresnel cấu trúc domain
Gĩc lệch này rất nhỏ và cho bởi cơng thức :
với e là điện tích của điện tử, B0 là cảm ứng từ trong mẫu, λ là bước sĩng của sĩng điện tử, t là chiều dày của mẫu, h là hằng số Planck.
Định nghĩa: là một chế độ ghi ảnh của kính hiển vi điện tử truyền qua cho phép quan sát ảnh vi cấu trúc của vật rắn với độ phân giải rất cao, đủ quan sát được sự tương phản của các lớp nguyên tử trong vật rắn cĩ cấu trúc tinh thể. Ngày nay HRTEM là một trong những cơng cụ mạnh để quan sát vi cấu trúc tới cấp độ nguyên tử.
Nguyên lý của HRTEM:
Khác với các ảnh TEM thơng thường cĩ độ tương phản chủ yếu là tương phản biên độ (ampltitude contrast) do hiệu ứng hấp thụ thì HRTEM hoạt động dựa trên nguyên lý tương phản pha, tức là ảnh tạo ra nhờ sự giao
thoa giữa chùm tia thẳng gĩc và chùm tia tán xạ. Khi chùm điện tử chiếu qua mẫu (cĩ chiều dày, độ sạch và sự định hướng thích hợp) sẽ bị tán xạ theo nhiều hướng khác nhau và sĩng tán xạ sẽ ghi lại thơng tin về cấu trúc, vị trí các nguyên tử... Vật kính phải cĩ độ quang sai đủ nhỏ và cĩ độ phân giải
III.1.2.4 Ảnh hiển vi điện tử truyền qua phân giải cao:
Viết tắt là HRTEM (là chữ viết tắt High-Resolution Transmission Electron Microscopy).
Cĩ thể thực hiện được khi: