Tài liệu tham khảo |
Loại |
Chi tiết |
1.Lê Hoàng Anh, Phân tích các yếu tố ảnh hưởng đến độ rộng đường nhiễu xạ x quang , Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM , 2009 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Phân tích các yếu tố ảnh hưởng đến độ rộng đường nhiễu xạ x quang |
|
2. Văn Quốc Hữu, Xác định tỷ lệ pha của thép không gỉ song pha Ferrit và Austenite có đề bền cao bằng nhiễu xạ x-quang, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2011 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Xác định tỷ lệ pha của thép không gỉ song pha Ferrit và Austenite có đề bền cao bằng nhiễu xạ x-quang |
|
3. Ngô Xuân Phú, Ứng dụng nhiễu xạ tia x phân tích ảnh hưởng của vận tốc cắt tới ứng suất dư bề mặt trên máy cắt dây CNC, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2012 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Ứng dụng nhiễu xạ tia x phân tích ảnh hưởng của vận tốc cắt tới ứng suất dư bề mặt trên máy cắt dây C |
|
4. Nguyễn Thị Kim Uyên, Khảo sát tình trạng phân bố ứng suất dư trong mối hàn ma sát hợp kim nhôm 1060 dùng nhiễu xạ x-quang, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM , 2009 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Khảo sát tình trạng phân bố ứng suất dư trong mối hàn ma sát hợp kim nhôm 1060 dùng nhiễu xạ x-quang |
|
5. Nguyễn Quang Hiến, Khảo sát ứng suất dư của thép C50 với vận tốc cắt trong phay thuận và phay nghịch sử dụng phương pháp nhiễu xạ tia x, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM , 2009.TIẾNG NƯỚC NGOÀI |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Khảo sát ứng suất dư của thép C50 với vận tốc cắt trong phay thuận và phay nghịch sử dụng phương pháp nhiễu xạ tia x |
|
6. B.D.Culity, Element of X – Ray Diffraction, Prentice Hall Upper Ssddle River, 2001 7. Viktor Hauk, Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Method,Elsevier, 1997 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Element of X – Ray Diffraction", Prentice Hall Upper Ssddle River, 2001 7. Viktor Hauk, "Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive M |
|
8. Viktor Hauk, Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Method, Elsevier, 1997 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Method |
|
9. Bob B. H., Two-dimensional x-ray diffraction, John Wiley & Sons, Inc., Hoboken, New Jersey, 2009 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Two-dimensional x-ray diffraction |
|
11. Le Chi Cuong, Development of Automated X – Ray Stress Measurement with Its Application, Doctoral Thesis, 2004 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Development of Automated X – Ray Stress Measurement with Its Application |
|
12. Noyan IC.; Cohen JB, Residual Stress Measurement by Diffraction and Interpretation, New York: Springer-Verlag; 1987 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Residual Stress Measurement by Diffraction and Interpretation |
|
13. Bob B. H., Two-dimensional x-ray diffraction, John Wiley & Sons, Inc., Hoboken, New Jersey, 2009 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Two-dimensional x-ray diffraction |
|
14. Ewald P. P., Fifty years of x-ray diffraction, international union of crystallography by n.v. a. oosthoek’s uitgeversmaatschappij utreght, 1962 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Fifty years of x-ray diffraction |
|
15.William H. Press, Saul A. Teukolsky, William T. Vetterling, Brian P. Flannery, Numerical Recipes In C: The Art of Scientific Computing, Second Edition, CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS, 1988-1992 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Numerical Recipes In C: The Art of Scientific Computing |
|
10. Ewald P. P., Fifty years of x-ray diffraction, international union of crystallography by n.v. a. oosthoek’s uitgeversmaatschappij utreght, 1962 |
Khác |
|