1. Trang chủ
  2. » Giáo Dục - Đào Tạo

(Luận văn thạc sĩ) nghiên cứu và phát triển phần mềm phân tích vật liệu nhiễu xạ tia

96 1 0

Đang tải... (xem toàn văn)

Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống

THÔNG TIN TÀI LIỆU

Thông tin cơ bản

Định dạng
Số trang 96
Dung lượng 4,63 MB

Nội dung

BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC SƯ PHẠM KỸ THUẬT THÀNH PHỐ HỒ CHÍ MINH LUẬN VĂN THẠC SĨ NGUYỄN VŨ LONG NGHIÊN CỨU VÀ PHÁT TRIỂN PHẦN MỀM PHÂN TÍCH VẬT LIỆU NHIỄU XẠ TIA X S K C 0 9 NGÀNH: CÔNG NGHỆ CHẾ TẠO MÁY- 605204 S KC 0 Tp Hồ Chí Minh, 2012 BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC SƯ PHẠM KỸ THUẬT THÀNH PHỐ HỒ CHÍ MINH LUẬN VĂN THẠC SĨ NGUYỄN VŨ LONG NGHIÊN CỨU VÀ PHÁT TRIỂN PHẦN MỀM PHÂN TÍCH VẬT LIỆU NHIỄU XẠ TIA X NGÀNH: CƠNG NGHỆ CHẾ TẠO MÁY- 605204 Tp Hồ Chí Minh, tháng 12/2012 BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC SƯ PHẠM KỸ THUẬT THÀNH PHỐ HỒ CHÍ MINH LUẬN VĂN THẠC SĨ NGUYỄN VŨ LONG NGHIÊN CỨU VÀ PHÁT TRIỂN PHẦN MỀM PHÂN TÍCH VẬT LIỆU NHIỄU XẠ TIA X NGÀNH: CÔNG NGHỆ CHẾ TẠO MÁY- 605204 GIÁO VIÊN HƯỚNG DẪN: TS LÊ CHÍ CƯƠNG Tp Hồ Chí Minh, tháng 12/2012 LÝ LỊCH KHOA HỌC I LÝ LỊCH SƠ LƢỢC: Họ & tên: Nguyễn Vũ Long Giới tính: Nam Ngày, tháng, năm sinh: 16-04-1987 Nơi sinh: Bến Tre Quê quán: Bến Tre Dân tộc: Kinh Địa liên lạc: 281A, ấp 3, xã Quới Sơn, huyện Châu Thành, tỉnh Bến Tre Điện thoại quan: Điện thoại nhà: (075)3860488 Fax: E-mail: vulonghui87@yahoo.com II QUÁ TRÌNH ĐÀO TẠO: Trung học chuyên nghiệp: Hệ đào tạo: Thời gian đào tạo từ …./… đến …./ …… Nơi học (trƣờng, thành phố): Ngành học: khí chế tạo máy Đại học: Hệ đào tạo: Chính qui Thời gian đào tạo từ 9/2005 đến 7/ 2009 Nơi học (trƣờng, thành phố): Ngành học: Tên đồ án tốt nghiệp: ứng dụng phần mềm visi-series gia cơng chi tiết khí Ngày & nơi bảo vệ đồ án tốt nghiệp: tháng 7/2009 ĐH Cơng Nghiệp Tp Hồ Chí Minh Ngƣời hƣớng dẫn: Th.s Nguyễn Tuấn Hùng III Q TRÌNH CƠNG TÁC CHUYÊN MÔN KỂ TỪ KHI TỐT NGHIỆP ĐẠI HỌC: Thời gian 2009-2012 Nơi công tác Công việc đảm nhiệm Kỹ sƣ thiết kế Công ty TNHH VuLink i LỜI CAM ĐOAN Tơi cam đoan cơng trình nghiên cứu Các số liệu, kết nêu luận văn trung thực chƣa đƣợc công bố cơng trình khác Tp Hồ Chí Minh, ngày tháng năm 2013 Nguyễn Vũ Long ii LỜI CẢM ƠN  Sau hai năm theo học chƣơng trình đào tạo sau đại học trƣờng Đại học Sƣ phạm Kỹ thuật Thành phố Hồ Chí Minh, tác giả đúc kết đƣợc kiến thức bổ ích cho chun mơn Với đề tài nghiên cứu dƣới hình thức luận văn thạc sĩ, tác giả vận dụng kiến thức mà đƣợc trang bị để tiến hành giải tốn thực tiễn Vì đề tài nghiên cứu giải vấn đề mẻ dựa sở tính tốn lý thuyết lĩnh vực vật liệu dùng kỹ thuật nhiễu xạ X–quang, nên lúc đầu tiếp cận gặp nhiều bỡ ngỡ khó khăn Nhƣng với tận tình giáo viên hƣớng dẫn TS Lê Chí Cƣơng, với hỗ trợ từ phía gia đình, bạn bè đồng nghiệp, luận văn đạt đƣợc kết nhƣ mong muốn Đến đây, cho phép tác giả gửi lời cám ơn chân thành đến: - Ban Giám Hiệu trƣờng Đại học Sƣ phạm Kỹ thuật Thành phố Hồ Chí Minh - Thầy TS Lê Chí Cƣơng – Khoa Cơ khí máy - trƣờng Đại học Sƣ phạm Kỹ thuật Thành phố Hồ Chí Minh - Viện lƣợng nguyên tử Việt nam - Trung tâm hạt nhân Tp HCM Số 217 Nguyễn Trãi, Q1, Tp HCM - Quý thầy cô khoa Cơ khí máy - trƣờng Đại học Sƣ phạm Kỹ thuật Thành phố Hồ Chí Minh - Phịng Đào tạo - Sau Đại học phòng khoa trƣờng Đại học Sƣ phạm Kỹ thuật Thành phố Hồ Chí Minh Một lần tác giả xin chân thành cảm ơn giúp đỡ, hỗ trợ, động viên quý báu tất ngƣời Xin trân trọng cảm ơn! Thành phố Hồ Chí Minh, tháng năm 2013 Học viên thực luận văn Nguyễn Vũ Long iii MỤC LỤC Tiêu đề Trang Quyết định giao đề tài LÝ LỊCH KHOA HỌC i LỜI CAM ĐOAN ii LỜI CẢM ƠN iii TÓM TẮT .iv ABSTRACT v DANH MỤC CÁC CHỮ VIẾT TẮT .vi DANH MỤC HÌNH vii DANH MỤC BẢNG .x MỤC LỤC xi Chƣơng 1: TỔNG QUAN 1.1 Ứng dụng nhiễu xạ x-ray phân tích vật liệu nƣớc giới 1.1.1 Tình hình nƣớc .1 1.1.2 Tình hình quốc tế .1 1.2 Mục đích đề tài 1.3 Nhiệm vụ đề tài giới hạn đề tài 1.3.1 Nhiệm vụ đề tài .3 1.3.2 Giới hạn đề tài 1.3.3 Phƣơng pháp nghiên cứu .3 1.3.4 Điểm luận văn Chƣơng 2: CƠ SỞ LÝ THUYẾT 2.1 Khái niệm x-quang 2.2 Định luật Bragg 2.3 Các phƣơng pháp đo 2.3.1 Phƣơng pháp đo kiểu  2.3.2 Phƣơng pháp side-inclination (kiểu ) 2.4 Hiệu chỉnh đƣờng nhiễu xạ x-ray 10 xi 2.4.1 Hiệu chỉnh 10 2.4.2 Hiệu chỉnh hệ số LPA .11 2.5 Phƣơng pháp xác định vị trí đỉnh 12 2.5.1 Phƣơng pháp parabol .12 2.5.2 Phƣơng pháp đƣờng cong Gaussian 14 2.5.3 Phƣơng pháp trọng tâm 15 2.5.4 Phƣơng pháp bề rộng trung bình 15 2.6 Làm mịn liệu 17 2.7 Nguyên lý phân tích đƣờng nhiễu xạ 19 2.7.1 Nguyên lý xác định mặt nhiễu xạ hkl .19 2.7.2 Xác định đỉnh nhiễu xạ từ mặt nhiễu xạ thu đƣợc 22 2.7.3 Xác định số hkl mặt nhiễu xạ[3] 22 2.8 Nguyên lý đo ứng suất x-ray 24 2.9 Xác định modul Young, hệ số poisson số ứng suất từ phƣơng pháp nhiễu xạ x-ray 28 2.10 Lý thuyết xác định tỉ lệ pha dƣ̣a vào lƣơ ̣ng nhiễu xa ̣ toàn phầ n của mỗi pha 29 2.10.1 Công thƣ́c tiń h tỷ lê ̣ pha dƣ̣a vào lƣơ ̣ng nhiễu xa ̣ .29 2.10.2 Xác định lƣợng Eij pha: .30 2.10.3 Phƣơng pháp tiến hành xƣ̉ lý dƣ̣ liê ̣u đo đa ̣c .31 2.10.3.1 Hiệu chỉnh nhiễu xạ 31 2.10.3.2 Chọn phạm vi bề rô ̣ng đáy nhiễu xạ X : 32 Chƣơng 3: PHÁT TRIỂN PHẦN MỀM PHÂN TÍCH VẬT LIỆU 33 3.1 Lập trình ứng dụng cơng nghiệp kỹ thuật 33 3.1.1 Tổng quan lập trình .33 3.1.1.1 Assembly 33 3.1.1.2 Fortran 34 3.1.1.3 Cobol 34 3.1.1.4 Ngơn ngữ lập trình Pascal 34 3.1.1.5 Ngôn ngữ lập tình C .36 3.1.1.6 Ngôn ngữ C++ 36 xii 3.1.1.7 Ngơn ngữ lập trình C# 37 3.1.1.8 Ngơn ngữ lập trình JAVA 38 3.1.1.9 Visual Basic 39 3.1.1.10 Các ngôn ngữ khác .39 3.1.2 Ứng dụng công nghiệp kỹ thuật 40 3.1.3 Chọn ngôn ngữ lập trình 40 3.2 Chƣơng trình phân tích vật liệu từ nhiễu xạ x-ray 41 3.2.1 Cấu trúc chƣơng trình 41 3.2.2 Sơ đồ khối chƣơng trình 42 3.2.2.1 Phân tích liệu nhiễu xạ 42 3.2.2.2 Tính ứng suất .44 3.2.2.3 Tỉ lệ pha .46 3.2.2.4 Hệ số đàn hồi .48 3.2.3 Giao diện thao tác chƣơng trình 50 3.2.3.1 Phân tích vật liệu 51 3.2.3.2 Tính ứng suất 54 3.2.3.3 Tính hệ số đàn hồi 61 3.2.3.4 Xác định tỉ lệ pha 63 Chƣơng 4: TÍNH TỐN KIỂM NGHIỆM PHẦN MỀM PHÂN TÍCH VẬT LIỆU.68 4.1 Kiểm nghiệm phân tích liệu nhiễu xạ vật liệu CeO2 68 4.2 Kiểm nghiệm xác định ứng suất ứng suất mối hàn ma sát hợp kim nhôm 1060 71 4.3 Kiểm nghiệm xác định tỉ lệ pha thép không gỉ song pha SCS 14 73 Chƣơng : KẾT LUẬN 77 5.1 Kết đạt đƣợc 77 5.2 Hƣớng phát triển đề tài 78 TÀI LIỆU THAM KHẢO 79 xiii Chƣơng TỔNG QUAN 1.1 Ứng dụng nhiễu xạ x-quang phân tích vật liệu nƣớc giới 1.1.1 Tình hình nƣớc Việc nghiên cứu ứng dụng x-quang kỹ thuật dần đƣợc thực nhiều nƣớc ta Ở nƣớc ta x-quang đƣợc sử dụng rộng rãi y học để chuẩn đón hình ảnh, có nhiều đề tài nghiên cứu x-quang lĩnh vực địa chất Trong lĩnh vực khí, có nhiều đề tài nghiên cứu x quang để phân tích vật liệu nhƣ tính ứng suất, tỉ lệ pha, kích thƣớc tinh thể, chiều dày lớp mạ … Tuy nhiên việc nghiên cứu dừng lại mức tìm hiểu, nắm bắt vấn đề để ứng dụng vào thực tiễn Chƣa có nghiên cứu đột phá, phát x-quang nƣớc ta Ứng dụng x-quang để phân tích vật liệu nƣớc ta bƣớc đầu phát triển dần ứng dụng vào thực tế Nhƣng chƣa có phần mềm phân tích vật liệu sử dụng lý thuyết nhiễu xạ x quang để giúp việc tính tốn diễn nhanh chóng đạt tính kinh tế, việc tính tốn phân tích cịn thực thủ cơng sử dụng số phần mềm khơng chun dụng để hỗ trợ tính tốn nhƣ Ogirin, Excell … 1.1.2 Tình hình quốc tế Trên giới, việc nghiên cứu ứng dụng x quang đƣợc phát triển từ lâu Năm 1896 Rogen phát tia x, ảnh chụp x quang đƣợc chụp Rontgen bàn bàn tay vợ ông Từ nghiên cứu Rontgen, nha khoa học Russell Reynold phát minh máy chụp chiếu tia X-quang giới vào năm 1896 Phát minh gây sửng sốt y học giới đại Ngƣời ta khơng ngờ đƣợc máy móc cho phép nhìn thấu phận bên thể phát đƣợc bệnh tật Trƣớc nghiên cứu bị coi viễn tƣởng Vào khoảng năm 1975, việc Hình 1.1: Máy chụp tia x quang Russell Reynold phát triển Thực tƣơng tự cho vùng 2, vùng 3, vùng ta có kết ứng suất (phụ lục) So sánh kết tính tốn đƣợc từ X-Pro 1.0 tính tốn phƣơng pháp dùng Origin Pro 8.5.1 xác định đỉnh nhiễu xạ hàm Gaussian Ta có bảng so sánh 4.2 Origin Pro 8.5.1 Phần mềm X-Pro 1.0 Vùng Gaussian, MPa Parabola, MPa Bề rộng trung bình, MPa Trọng tâm, MPa Gaussian, MPa -17.25 ± 2.77 -17.28 ± 0.22 5.42 ± 19.74 7.48 ±9.39 - 25.33 -26.02 ± 8.9 26 ± 0.41 -3.20 ± 18.32 -2.40 ±7.17 -30.37 13.21 ± 3.12 13.23 ± 0.35 11.58 ± 42.84 8.74 ± 8.51 10.05 -29.49 ± 5.97 -29.42 ± 0.55 -19.81 ± 27.72 -23 ± 9.59 -28.33 Bảng 4.2 : So sánh kết tính ứng suất Từ bảng 4.2 ta nhận thấy kết tính ứng suất từ X-Pro 1.0 phƣơng pháp Parabola, Gaussian, Bề rộng trung bình, Trọng tâm có sai số phƣơng pháp tính So với kết tính tính sử dụng phần mềm Ogirin Pro 8.5.1 ta nhận thấy phƣơng pháp nội suy đỉnh Gaussian, sai số kết phần mềm không đáng kể 4.3 Kiểm nghiệm xác định tỉ lệ pha thép không gỉ song pha SCS14 Dữ liệu nhiễu xạ x-quang thép không gỉ song pha SCS14 đƣợc lấy từ [2] Trong tài liệu [2] việc thực tính tốn tỉ lệ pha đƣợc thực hoàn toàn thủ công, tốn nhiều thời gian công sức Ta thực lại việc xác định tỉ lệ pha phần mềm X-Pro 1.0 Chọn tính xác định tỉ lệ pha phần mềm, ta thực mở tập tin chứa liệu nhiễu xạ thép gỉ song pha SCS14, cửa sổ chƣơng trình xuất nhƣ hình 4.8: 73 Hình 4.8: Cửa sổ mở liệu xác định tỉ lệ pha Ở cửa sổ ta thực nhập vào bƣớc sóng ống phóng Cu 1.5419 thực chọn pha Austensis Ferit có vật liệu để xác định tỉ lệ pha Sau chọn đƣợc pha tồn vật liệu, cửa sổ thị nhƣ hình 4.10 Nếu ngƣời sử dụng chƣa nhập vào bƣớc sóng phép đo nhiễu xạ, chƣơng trình đƣa thơng báo nhƣ hình 4.9 Sau ngƣời sử dụng nhập vào bƣớc sóng chƣơng trình cho phép chọn pha để tiến hành xác định tỉ lệ pha Hình 4.9: Hộp thoại thơng báo lỗi chƣa nhập bƣớc sóng 74 Hình 4.10: Cửa sổ chọn pha để xác định tỉ lệ Từ thông tin mặt nhiễu xạ pha Austenitic Ferit đồ thị liệu nhiễu xạ Ta nhận thấy đỉnh nhiễu xạ đồ thị pha Austenitic đỉnh nhiễu xạ pha Ferit không xuất đồ thị bị hịa lẫn vào Do đó, ta chọn pha Austennitic tách biệt chọn vào mặt nhiễu xạ xuất đồ thị nhƣ 111, 200, 20, 311, 222, 400, 331, 420 chƣơng trình tính lƣợng nhiễu xạ mặt nhiễu xạ đƣợc chọn (hình 4.11) Mặt 422 khơng xảy nhiễu xạ Hình 4.11: Cửa sổ xác định lƣợng nhiễu xạ 75 Ta thực bấm vào nút Tính Tỉ Lệ Pha, kết thị cửa sổ nhƣ hình 4.12: Hình 4.12: Cửa sổ hiển thị kết xác định tỉ lệ pha Sau thực tính tốn kết tỉ lệ pha nhƣ sau: Kết Tỉ lệ 0.54 0.43 Pha %A %F So sánh với kết tính tốn [2] ta có bảng: Pha Austenitic Phƣơng pháp Phần mềm Tính thủ công Kim tƣơng 54 % 55 % 55.93 % Ferit 43.19 % 43 % 42.89 % Bảng 4.3: So sánh kết xác định tỉ lệ pha Từ bảng kết ta thấy phần mềm thực tính tốn kết xác so với kết thực phƣơng pháp khác Do đó, đƣợc ứng dụng vào việc tính tốn thực tế, phần mềm giúp cho việc tính tốn nhanh chóng đạt hiệu kinh tế cao 76 Chƣơng KẾT LUẬN 5.1 Kết đạt đƣợc Nhiễu xạ X–quang kỹ thuật không phá huỷ phƣơng pháp tốt để phân tích vật liệu Kết hợp với phát triển công nghệ thông tin, khả xử lý máy vi tính ngày cao, thực hàng tỉ phép tính thời gian cực ngắn Đề tài “Nghiên cứu phát triển phần mềm phân tích vật liệu X-quang” đƣợc tác giả nghiên cứu thực thời gian khoảng 10 tháng Trong thời gian đó, tác giả nghiên cứu tài liệu nhiễu xạ x-quang, cơng trình nghiên cứu nƣớc Ứng dụng lý thuyết nghiên cứu đƣợc vào lập trình Đến tác giả hoàn thành đƣợc mục tiêu đề ra, phần mềm X-Pro 1.0 đƣợc phát triển để thực phân tích vật liệu dựa lý thuyết nhiễu xạ x-quang Hiện tại, phần mềm X-Pro 1.0 thực chức phân tích tính tốn nhƣ sau: + Chức phân tích liệu giúp ngƣời sử dụng có liệu nhiễu xạ xquang vật liệu đó, muốn thực vẽ đồ thị liệu nhiễu xạ xác định thông số liệu nhƣ số hkl, vị trí đỉnh, bề rộng mặt nhiễu xạ Giúp ngƣời sử dụng hiệu chỉnh liệu nhiễu xạ xuất lại kết sang tập tin Excel + Chức tính ứng suất giúp việc tính tốn ứng suất vật liệu dựa liệu nhiễu xạ X-quang đƣợc thực cách nhanh chóng Cho phép ngƣời sử dụng hiệu chỉnh liệu nhiễu xạ X-quang so sánh kết tính tốn ứng suất liệu nhiễu xạ hiệu chỉnh chƣa hiệu chỉnh cách trực quan phần mềm So sánh kết tính tốn phƣơng pháp gaussian, parabola, bề rộng trung bình, tâm Vẽ đồ thị liệu, đồ thị sin sin2 Xuất kết tính tốn tập tin báo cáo để ngƣời sử dụng dễ dàng tổng kết đƣợc kết tính tốn đƣợc + Chức tính tỉ lệ pha giúp việc xác định tỉ lệ pha vật liệu song pha trở nên nhanh chóng thuận tiện Phần mềm vẽ đồ thị liệu nhiễu xạ tính toán tỉ lệ pha 77 + Chức tính hệ số đàn hồi module Young giúp ta xác định đƣợc tính vật liệu cách nhanh chóng có đủ liệu nhiễu xạ X-quang thích hợp Phần mềm phân tích vật liệu X-pro 1.0 phần mềm việt dựa nhiễu xạ X-quang để phân tích vật liệu 5.2 Hƣớng phát triển đề tài Đƣa phần mềm X-Pro 1.0 vào sử dụng rộng rãi việc phân tích vật liệu, nhận phản hồi từ ngƣời sử dụng để sửa lỗi, nâng cấp phần mềm ngày xác tiện dụng trình sử dụng Tiếp tục phát triển phần mềm X-pro 1.0 để thực phân tích nhiều vấn đề vật liệu: + Xác định tỉ lệ pha vật liệu có nhiều pha + Phát triển chức tính độ cứng vật liệu nhiễu xạ X-quang + Phát triển chức xác định độ dày lớp mạ Phát triển phiên quốc tể hỗ trợ nhiều ngôn ngữ để đƣa phần mềm ngồi giới 78 TÀI LIỆU THAM KHẢO TIẾNG VIỆT 1.Lê Hoàng Anh, Phân tích yếu tố ảnh hưởng đến độ rộng đường nhiễu xạ x quang , Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM , 2009 Văn Quốc Hữu, Xác định tỷ lệ pha thép khơng gỉ song pha Ferrit Austenite có đề bền cao nhiễu xạ x-quang, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2011 Ngô Xuân Phú, Ứng dụng nhiễu xạ tia x phân tích ảnh hưởng vận tốc cắt tới ứng suất dư bề mặt máy cắt dây CNC, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2012 Nguyễn Thị Kim Uyên, Khảo sát tình trạng phân bố ứng suất dư mối hàn ma sát hợp kim nhôm 1060 dùng nhiễu xạ x-quang, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM , 2009 Nguyễn Quang Hiến, Khảo sát ứng suất dư thép C50 với vận tốc cắt phay thuận phay nghịch sử dụng phương pháp nhiễu xạ tia x, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM , 2009 TIẾNG NƢỚC NGOÀI B.D.Culity, Element of X – Ray Diffraction, Prentice Hall Upper Ssddle River, 2001 Viktor Hauk, Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Method, Elsevier, 1997 Viktor Hauk, Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Method, Elsevier, 1997 Bob B H., Two-dimensional x-ray diffraction, John Wiley & Sons, Inc., Hoboken, New Jersey, 2009 10 Ewald P P., Fifty years of x-ray diffraction, international union of crystallography by n.v a oosthoek’s uitgeversmaatschappij utreght, 1962 11 Le Chi Cuong, Development of Automated X – Ray Stress Measurement with Its Application, Doctoral Thesis, 2004 79 12 Noyan IC.; Cohen JB, Residual Stress Measurement by Diffraction and Interpretation, New York: Springer-Verlag; 1987 13 Bob B H., Two-dimensional x-ray diffraction, John Wiley & Sons, Inc., Hoboken, New Jersey, 2009 14 Ewald P P., Fifty years of x-ray diffraction, international union of crystallography by n.v a oosthoek’s uitgeversmaatschappij utreght, 1962 15.William H Press, Saul A Teukolsky, William T Vetterling, Brian P Flannery, Numerical Recipes In C: The Art of Scientific Computing, Second Edition, CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS, 1988-1992 80 PHỤ LỤC Bắt đầu Nhập liệu nhiễu xạ i=0 Đọc giá trị nhiễu xạ thứ i i=i+1 Tính zi = liy zi>Rzmax khơng có Tính tizi, Tizi Tính t w T w i i i i Tính x d Tính p  p Ngƣng Phụ lục 1: Giản đồ xác định đỉnh phƣơng pháp Parabola 81 Bắt đầu Nhập liệu nhiễu xạ i=0 Đọc giá trị nhiễu xạ thứ i i=i+1 Tính zi = lnliyi khơng zi>Rzmax có Tính tizi, Tizi Tính t w T w i i i i Tính x d Tính p  p Ngƣng Phục lục 2: Giản đồ xác định đỉnh phƣơng pháp Parabola 82 Bắt đầu Nhập liệu nhiễu xạ i=0 Đọc giá trị nhiễu xạ thứ i i=i+1 Tính zi = liyi Tính zi, xizi Tính p  p Ngƣng Phụ lục 3: Giản đồ xác định đỉnh phƣơng pháp Trọng tâm 83 Bắt đầu Nhập liệu nhiễu xạ Tính ztb=z2=z6= 0.5 zmax Xác định (x2,z2),(x6,z6) Xác định (x1,z1),(x3,z3) (x5,z5),(x7,z7) Xác định (x4,z4) Tính p  p Ngƣng Phụ lục 4: Giản đồ xác định đỉnh phƣơng pháp Bề rộng trung bình 84 Phụ lục 5: Kết tính ứng suất vùng Phụ lục 6: Kết tính ứng suất vùng 85 Phụ lục 7: Kết tính ứng suất vùng Phụ lục 8: Kết tính ứng suất vùng 86 ... nhiễu xạ x-ray 3.2.1 Cấu trúc chƣơng trình Chƣơng trình phân tích vật liệu X-Pro 1.0 đƣợc phát triển để phân tích vật liệu dựa phƣơng pháp nhiễu xạ x-quang Dựa vào liệu nhiễu xạ x-ray vật liệu. .. 12/2012 BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC SƯ PHẠM KỸ THUẬT THÀNH PHỐ HỒ CHÍ MINH LUẬN VĂN THẠC SĨ NGUYỄN VŨ LONG NGHIÊN CỨU VÀ PHÁT TRIỂN PHẦN MỀM PHÂN TÍCH VẬT LIỆU NHIỄU XẠ TIA X NGÀNH: CÔNG... mạ vật liệu có liệu nhiễu xạ vật liệu 1.3 Nhiệm vụ đề tài giới hạn đề tài 1.3.1 Nhiệm vụ đề tài Nghiên cứu lý thuyết liên quan nhiễu xạ x-quang ứng dụng vào việc phân tích vật liệu từ kết nhiễu

Ngày đăng: 06/12/2021, 21:32

Nguồn tham khảo

Tài liệu tham khảo Loại Chi tiết
1.Lê Hoàng Anh, Phân tích các yếu tố ảnh hưởng đến độ rộng đường nhiễu xạ x quang , Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM , 2009 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Phân tích các yếu tố ảnh hưởng đến độ rộng đường nhiễu xạ x quang
2. Văn Quốc Hữu, Xác định tỷ lệ pha của thép không gỉ song pha Ferrit và Austenite có đề bền cao bằng nhiễu xạ x-quang, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2011 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Xác định tỷ lệ pha của thép không gỉ song pha Ferrit và Austenite có đề bền cao bằng nhiễu xạ x-quang
3. Ngô Xuân Phú, Ứng dụng nhiễu xạ tia x phân tích ảnh hưởng của vận tốc cắt tới ứng suất dư bề mặt trên máy cắt dây CNC, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM, 2012 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Ứng dụng nhiễu xạ tia x phân tích ảnh hưởng của vận tốc cắt tới ứng suất dư bề mặt trên máy cắt dây C
4. Nguyễn Thị Kim Uyên, Khảo sát tình trạng phân bố ứng suất dư trong mối hàn ma sát hợp kim nhôm 1060 dùng nhiễu xạ x-quang, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM , 2009 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Khảo sát tình trạng phân bố ứng suất dư trong mối hàn ma sát hợp kim nhôm 1060 dùng nhiễu xạ x-quang
5. Nguyễn Quang Hiến, Khảo sát ứng suất dư của thép C50 với vận tốc cắt trong phay thuận và phay nghịch sử dụng phương pháp nhiễu xạ tia x, Luận văn thạc sĩ ĐH Sƣ Phạm Kỹ Thuật TP.HCM , 2009.TIẾNG NƯỚC NGOÀI Sách, tạp chí
Tiêu đề: Khảo sát ứng suất dư của thép C50 với vận tốc cắt trong phay thuận và phay nghịch sử dụng phương pháp nhiễu xạ tia x
6. B.D.Culity, Element of X – Ray Diffraction, Prentice Hall Upper Ssddle River, 2001 7. Viktor Hauk, Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Method,Elsevier, 1997 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Element of X – Ray Diffraction", Prentice Hall Upper Ssddle River, 2001 7. Viktor Hauk, "Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive M
8. Viktor Hauk, Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Method, Elsevier, 1997 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Method
9. Bob B. H., Two-dimensional x-ray diffraction, John Wiley & Sons, Inc., Hoboken, New Jersey, 2009 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Two-dimensional x-ray diffraction
11. Le Chi Cuong, Development of Automated X – Ray Stress Measurement with Its Application, Doctoral Thesis, 2004 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Development of Automated X – Ray Stress Measurement with Its Application
12. Noyan IC.; Cohen JB, Residual Stress Measurement by Diffraction and Interpretation, New York: Springer-Verlag; 1987 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Residual Stress Measurement by Diffraction and Interpretation
13. Bob B. H., Two-dimensional x-ray diffraction, John Wiley & Sons, Inc., Hoboken, New Jersey, 2009 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Two-dimensional x-ray diffraction
14. Ewald P. P., Fifty years of x-ray diffraction, international union of crystallography by n.v. a. oosthoek’s uitgeversmaatschappij utreght, 1962 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Fifty years of x-ray diffraction
15.William H. Press, Saul A. Teukolsky, William T. Vetterling, Brian P. Flannery, Numerical Recipes In C: The Art of Scientific Computing, Second Edition, CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS, 1988-1992 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Numerical Recipes In C: The Art of Scientific Computing
10. Ewald P. P., Fifty years of x-ray diffraction, international union of crystallography by n.v. a. oosthoek’s uitgeversmaatschappij utreght, 1962 Khác

TÀI LIỆU CÙNG NGƯỜI DÙNG

  • Đang cập nhật ...

TÀI LIỆU LIÊN QUAN

w