Tài liệu tham khảo |
Loại |
Chi tiết |
1. Huỳnh Đình Chương (2013), Khảo sát bề dày của thép C45 bằng phương pháp tán xạ ngược gamma sử dụng chương trình MCNP5, Luận văn thạc sĩ, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên, ĐHQG Tp.HCM |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Khảo sát bề dày của thép C45 bằng phương pháp tán xạ ngược gamma sử dụng chương trình MCNP5 |
Tác giả: |
Huỳnh Đình Chương |
Năm: |
2013 |
|
3. Trương Thị Hồng Loan, Phan Thị Quý Trúc, Đặng Nguyên Phương, Trần Thiện Thanh, Trần Ái Khanh, Trần Đăng Hoàng (2008), “Nghiên cứu phổ gamma tán xạ ngược của đầu dò HPGe bằng chương trình MCNP”, Tạp chí phát triển KH&CN, 11(6), 61-66 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Nghiên cứu phổ gamma tán xạ ngược của đầu dò HPGe bằng chương trình MCNP”, "Tạp chí phát triển KH&CN |
Tác giả: |
Trương Thị Hồng Loan, Phan Thị Quý Trúc, Đặng Nguyên Phương, Trần Thiện Thanh, Trần Ái Khanh, Trần Đăng Hoàng |
Năm: |
2008 |
|
4. Võ Hoàng Nguyên (2014), Kiểm tra khuyết tật trên vật liệu thép C45 dạng tấm bằng thực nghiệm đo tán xạ ngược gamma, Luận văn thạc sĩ, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên, ĐHQG Tp.HCM |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Kiểm tra khuyết tật trên vật liệu thép C45 dạng tấm bằng thực nghiệm đo tán xạ ngược gamma |
Tác giả: |
Võ Hoàng Nguyên |
Năm: |
2014 |
|
5. Hoàng Sỹ Minh Phương, Nguyễn Văn Hùng (2010), “Mô phỏng Monte Carlo bằng chương trình MCNP và kiểm chứng thực nghiệm phép đo chiều dày vật liệu đối với hệ chuyên dụng MYO-101”, Tạp chí phát triển KH&CN, 13(2), 83-91 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Mô phỏng Monte Carlo bằng chương trình MCNP và kiểm chứng thực nghiệm phép đo chiều dày vật liệu đối với hệ chuyên dụng MYO-101”, "Tạp chí phát triển KH&CN |
Tác giả: |
Hoàng Sỹ Minh Phương, Nguyễn Văn Hùng |
Năm: |
2010 |
|
7. Hoàng Đức Tâm, Trần Thiện Thanh, Trịnh Văn Danh, Võ Thị Thắm, Châu Văn Tạo (2013), “Xác định độ dày vật liệu thép chịu nhiệt tại vùng bị ăn mòn bằng phương pháp Monte Carlo kết hợp với phương pháp giải tích”, Tạp chí Khoa học ĐHSP Tp.HCM , 47, 172-183 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Xác định độ dày vật liệu thép chịu nhiệt tại vùng bị ăn mòn bằng phương pháp Monte Carlo kết hợp với phương pháp giải tích”, "Tạp chí Khoa học ĐHSP Tp.HCM |
Tác giả: |
Hoàng Đức Tâm, Trần Thiện Thanh, Trịnh Văn Danh, Võ Thị Thắm, Châu Văn Tạo |
Năm: |
2013 |
|
8. Trần Thiện Thanh (2013), Hiệu chỉnh phổ gamma bằng phương pháp Monte Carlo, Luận án Tiến sĩ Vật lí Hạt nhân, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên, ĐHQG Tp.HCM |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Hiệu chỉnh phổ gamma bằng phương pháp Monte Carlo |
Tác giả: |
Trần Thiện Thanh |
Năm: |
2013 |
|
9. Barnea G., Dick C.E., Ginzburg A., Navon E., Seltzer S.M. (1995), “A study of multiple scattering background in Compton scatter imaging”, NDT&E International, 28(3), 155-162 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
A study of multiple scattering background in Compton scatter imaging”, "NDT&E International |
Tác giả: |
Barnea G., Dick C.E., Ginzburg A., Navon E., Seltzer S.M |
Năm: |
1995 |
|
10. Fernández, J.E. (1991), “Compton and Rayleigh double scattering of unpolarized radiation”, Physical Review A, 44(7), 4232-4248 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Compton and Rayleigh double scattering of unpolarized radiation”, "Physical Review A |
Tác giả: |
Fernández, J.E |
Năm: |
1991 |
|
11. Kadhim A.B., Mohammad A.N. (2013), “Monte Carlo simulation of the backscattering gamma ray system”, Iraqi Journal of Science, 54(1), 121-129 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Monte Carlo simulation of the backscattering gamma ray system”, "Iraqi Journal of Science |
Tác giả: |
Kadhim A.B., Mohammad A.N |
Năm: |
2013 |
|
12. Lépy, M.C. (2004), “Presentation of the Colegram software”, Laboratoire National Henri Becquerel reference technical note 26 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Presentation of the Colegram software” |
Tác giả: |
Lépy, M.C |
Năm: |
2004 |
|
13. Paramesh L., Venkataramaiah P., Gopala K., Sanjeeviah H. (1983), “Z-dependence of saturation depth for multiple backscattering of 662 keV photon from thick samples”, Nuclear Instruments and Methods, 206, 327-330 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Z-dependence of saturation depth for multiple backscattering of 662 keV photon from thick samples”, "Nuclear Instruments and Methods |
Tác giả: |
Paramesh L., Venkataramaiah P., Gopala K., Sanjeeviah H |
Năm: |
1983 |
|
14. Priyada P., Margret M., Ramar R., Shivaramu, Menaka M., Thilagam L., Venkataraman B., Raj B. (2011), “Intercomparison of gamma scattering, gammatography, and radiography techniques for mild steel nonuniform corrosion detection”, Review of Scientific Instruments, 82, 035115 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Intercomparison of gamma scattering, gammatography, and radiography techniques for mild steel nonuniform corrosion detection”, "Review of Scientific Instruments |
Tác giả: |
Priyada P., Margret M., Ramar R., Shivaramu, Menaka M., Thilagam L., Venkataraman B., Raj B |
Năm: |
2011 |
|
15. Singh M., Singh G., Sandhu B.S., Singh B. (2006), “Effect of detector collimator and sample thickness on 0.662 MeV multiply Compton scattered gamma rays”, Applied Radiation and Isotopes, 64, 373-378 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Effect of detector collimator and sample thickness on 0.662 MeV multiply Compton scattered gamma rays”, "Applied Radiation and Isotopes |
Tác giả: |
Singh M., Singh G., Sandhu B.S., Singh B |
Năm: |
2006 |
|
16. Singh M., Singh G., Sandhu B.S., Singh B. (2007), “Angular distribution of 662 KeV multiply-Compton scattered gamma rays in copper”, Radiation Measurements, 42, 420-427 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Angular distribution of 662 KeV multiply-Compton scattered gamma rays in copper”, "Radiation Measurements |
Tác giả: |
Singh M., Singh G., Sandhu B.S., Singh B |
Năm: |
2007 |
|
(2014), “Advanced gamma spectrum processing technique applied to the analysis of scattering spectra for determining material thickness”, Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry, 301(2), 0236-5731 |
Sách, tạp chí |
Tiêu đề: |
Advanced gamma spectrum processing technique applied to the analysis of scattering spectra for determining material thickness”, "Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry |
|