Công nghệ NG SDH và quy trình đo kiểm đầu cuối của hệ thống NG SDH tại VNPT

Bộ giáo dục đào tạo Trờng đại học bạch khoa ====== ====== PHAN ĐứC DũNG MạNG THÔNG TIN QUANG, BƯớC PHáT TRIểN Và QUY TRìNH ĐO KIểM ĐầU CUốI CủA Hệ THốNG NG-SDH TạI VNPT Chuyên ngành: Điện Tử-Viễn Thông Luận văn thạc sỹ NgƯời hớng dẫn khoa học PGS.TS NGUYễN VIệT HƯƠNG Hà Nội - 10/2008 MụC LụC DANH MụC CáC BảNG ix DANH MụC CáC HìNH xii DANH MụC CáC HìNH xii CáC CHữ VIếT TắT xvi LêI NI §ÇU xx CHƯƠNG BƯớC pháT Triển CÔNG NGHệ NG-SDH Và CáC TIÊU CHUẩN LIÊN QUAN 2.1 C«ng nghƯ NG-SDH Error! Bookmark not defined 2.1.1 Tæng quan 13 2.1.2 Thđ tơc t¹o khung chung (GFP) 15 2.1.2.1 CÊu tróc khung GFP 17 2.1.2.2 Các chức độc lập thuê bao GFP 20 2.1.2.3 Çc chøc phụ thuộc thuê bao GFP 20 2.1.3 Liªn kÕt (Concatenation) 24 2.1.3.1 Liªn kÕt nèi tiÕp VC-4 25 2.1.3.2 Liªn kÕt ¶o 26 2.1.4 Giao thức điều chỉnh dung lợng tuyến (LCAS) 30 2.1.4.1 Çc øng dơng LCAS 30 2.1.4.2 Giao thøc LCAS 34 CHƯƠNG NGHIÊN CứU PHƯƠNG PHáP ĐO KIểM Và ĐáNH GIá CHấT LƯợNG THIếT Bị ĐầU CUốI QUANG NG-SDH 36 2.1 Phơng pháp kiểm tra tu©n thđ GFP 36 2.2.1 Mơc ®Ých 36 i 2.1.2 CÊu h×nh kiÓm tra 36 2.1.3 Çc phÐp kiĨm tra 37 2.2 Phơng pháp kiểm tra tuân thủ VCAT 38 2.2.1 Mơc ®Ých 38 2.2.2 CÊu h×nh kiĨm tra 38 2.2.3 Çc phÐp kiĨm tra 39 2.3 Phơng pháp kiểm tra tuân thủ LCAS 40 2.3.1 Mơc ®Ých 40 2.3.2 CÊu h×nh kiĨm tra 40 2.3.3 Çc phÐp kiÓm tra 41 2.4 Kiểm tra tính thiết bị với trễ liên kết ảo 41 2.4.1 Mơc ®Ých 41 2.4.2 CÊu h×nh kiÓm tra 42 2.4.3 Çc phÐp kiĨm tra 43 2.5 Các yêu cầu khả phối hợp thiết bị đo 43 2.6 Kết luận 44 CHƯƠNG DANH M CáC THIếT Bị §O 45 3.1 OmniBER OTN 45 3.2 OTN-50 51 3.3 VictoriaCombo NG 2.5G 54 3.4 Thiết bị phân tích NG-SONET/SDH FTB-8100 55 CHƯƠNG QUY TRìNH ĐO KIểM HOà MạNG THIếT Bị ĐầU CUốI QUANG NG-SDH 63 ii 4.1 KiÓm tra thiÕt bÞ 63 4.2.1 KiĨm tra gi¸ m¸y thiÕt bÞ 63 4.1.2 Kiểm tra điện áp cấp nguồn 63 4.1.2.1 Thiết bị đo 63 4.1.2.2 Çc b−íc thùc hiƯn 63 4.1.3 Kiểm tra chức phần mỊm thiÕt bÞ 64 4.2 §o kiĨm tra líp vËt lý 66 4.2.1 §o kiĨm tra công suất phát quang 66 4.2.2.1 Thiết bị đo 66 4.2.1.2 Cấu hình đo 66 4.2.1.3 Çc b−íc thùc hiƯn 66 4.2.2 Đo dải động thu quang độ nhạy thu quang 67 4.2.2.1 Thiết bị đo 67 4.2.2.2 Cấu hình đo 67 4.2.2.3 Çc b−íc thùc hiƯn 68 4.2.3 Đo tham số bớc sóng 69 4.2.3.1 ThiÕt bị đo 69 4.2.3.2 Cấu hình đo 69 4.2.3.3 Çc b−íc thùc hiÖn 69 4.2.4 Đo kiểm tra dạng xung tín hiệu 70 4.2.4.1 Thiết bị đo 70 4.2.4.2 Cấu hình đo 70 4.2.4.3 Çc b−íc thùc hiƯn 70 4.2.5 KiÓm tra hoạt động cảnh báo thiết bị 71 4.2.5.1 Thiết bị đo 71 4.2.5.2 CÊu hình đo 71 4.2.5.3 Çc b−íc thùc hiƯn 72 iii 4.2.6 KiÓm tra khả giám sát đặc tính lỗi thiết bị 73 4.2.6.1 Thiết bị đo 73 4.2.6.2 CÊu hình đo 73 4.2.6.3 Çc b−íc thùc hiƯn 74 4.2.7 §o kiĨm tra hoạt động đồng 75 4.2.7.1 Cấu hình đo 75 4.2.7.2 Çc b−íc thùc hiÖn 76 4.2.8 Đo dung sai Jitter đầu vào 77 4.2.8.1 Thiết bị đo 77 4.2.8.2 Cấu hình đo 77 4.2.8.3 Çc b−íc thùc hiƯn 78 4.2.9 §o jitter ®Çu quang 78 4.2.9.1 Thiết bị đo 79 4.2.9.2 Sơ đồ đo 79 4.2.9.3 Çc b−íc thùc hiƯn 79 4.2.10 §o jitter trá (jitter kÕt hỵp) 80 4.2.10.1 Thiết bị đo 80 4.2.10.2 Cấu hình đo 80 4.2.10.3 Çc b−íc thùc hiƯn 80 4.2.11 Đo wander đầu 84 4.2.12.1 ThiÕt bÞ ®o 84 4.2.11.2 Cấu hình đo 84 4.2.11.3 Çc b−íc thùc hiƯn 84 4.2.12 Đo dung sai wander đầu vào 85 4.2.12.1 Thiết bị đo 85 4.2.12.2 CÊu hình đo 85 4.2.12.3 Çc b−íc thùc hiƯn 86 4.2.13 Đáp ứng nhảy pha ngắn 86 iv 4.2.13.1 Thiết bị đo 87 4.2.13.2 Cấu hình đo 87 4.2.13.3 Çc b−íc thùc hiƯn 87 4.2.14 Đo kiểm tra đặc tính chế độ lu giữ (holdover) 87 4.2.14.1 Cấu hình đo 88 4.2.14.2 Çc b−íc thùc hiƯn 88 4.2.15 KiÓm tra chức chuyển mạch bảo vệ 89 4.2.15.1 Cấu hình đo 89 4.2.15.2 Çc b−íc thùc hiÖn 89 4.2.16 Đo kiểm hoạt động cảnh báo toàn hệ thống 90 4.2.17 Đo lỗi bit 90 4.2.17.1 Thiết bị đo 90 4.2.17.2 Cấu hình đo 90 4.2.17.3 Çc b−íc thùc hiƯn 92 4.3 §o kiĨm GFP/MAC 93 4.3.1 KiÓm tra cảnh báo/lỗi 93 4.3.2.1 Thiết bị đo 93 4.3.1.2 CÊu h×nh ®o 93 4.3.1.3 Çc b−íc thùc hiƯn 93 4.3.1.4 Phân tích, đánh giá kÕt qu¶ 94 4.3.2 Kiểm tra trình tạo FCS tải GFP 95 4.3.2.1 Thiết bị đo 95 4.3.2.2 Cấu hình đo 95 4.3.2.3 Çc b−íc thùc hiƯn 95 4.3.3 Tác động FCS khung Ethernet kích thớc khác nhau95 4.3.3.1 Thiết bị đo 95 4.3.3.2 Cấu hình đo 95 v 4.3.3.3 Çc b−íc thùc hiƯn 95 4.3.3.4 Phân tích, đánh giá kết qu¶ 96 4.3.4 KiĨm tra khả xử lý khung cỡ 96 4.3.4.1 Thiết bị đo 96 4.3.4.2 Cấu hình đo 96 4.3.4.3 Çc b−íc thùc hiƯn 96 4.4 §o kiĨm VCAT 97 4.4.1 Kiểm tra khả thay đổi thành viên VCG 97 4.4.2.1 Thiết bị đo 97 4.4.1.2 Cấu hình đo 97 4.4.1.3 Çc b−íc thùc hiÖn 97 4.4.2 Đo kiểm trình truyền dẫn SDH sử dụng VC 98 4.4.2.1 Thiết bị đo 98 4.4.2.2 Cấu hình đo 98 4.4.2.3 Çc b−íc thùc hiƯn 98 4.5 §o kiĨm LCAS 107 4.5.1 Kiểm tra trình tăng giảm băng thông 107 4.5.2.1 Thiết bị ®o 107 4.5.1.2 Cấu hình đo 107 4.5.1.3 Çc b−íc thùc hiƯn 107 4.5.2 §o kiÓm LCAS CRC-8 107 4.5.2.1 Thiết bị đo 108 4.5.2.2 CÊu hình đo 108 4.5.2.3 Çc b−íc thùc hiƯn 108 4.6 §o kiĨm tra chun m¹ch líp 108 4.6.1 KiÓm tra khung bÊt th−êng 108 4.6.2.1 ThiÕt bÞ ®o Error! Bookmark not defined vi 4.6.1.2 Cấu hình đo Error! Bookmark not defined 4.6.1.3 Çc b−íc thùc hiƯn Error! Bookmark not defined 4.6.2 Điều khiển lu lợng 109 4.6.2.1 Thiết bị đo Error! Bookmark not defined 4.6.2.2 CÊu h×nh ®o Error! Bookmark not defined 4.6.2.3 Çc b−íc thùc hiƯn Error! Bookmark not defined 4.6.3 Xư lý çc khung Unicast/Multicast/Broadcast 109 4.6.3.1 Thiết bị đo 109 4.6.3.2 Cấu hình đo 109 4.6.3.3 Çc b−íc thùc hiƯn 110 4.6.4 NhËn biÕt MAC vµ MAC tÜnh 110 4.6.4.1 ThiÕt bÞ ®o 110 4.6.4.2 Cấu hình đo 110 4.6.4.3 Çc b−íc thùc hiƯn 110 4.6.5 Tèc ®é nhËn biÕt MAC 111 4.6.5.1 Thiết bị đo 111 4.6.5.2 CÊu hình đo 111 4.6.5.3 Çc b−íc thùc hiƯn 111 4.6.6 Thêi gian tån t¹i MAC 111 4.6.6.1 Thiết bị đo 111 4.6.6.2 Cấu hình đo 111 4.6.6.3 Çc b−íc thùc hiƯn 112 4.6.7 Dung lơng bảng địa MAC 112 4.6.7.1 ThiÕt bị đo 112 4.6.7.2 Cấu hình đo 112 4.6.7.3 Çc b−íc thùc hiÖn 112 4.6.8 Cấu hình băng thông 112 4.6.8.1 Thiết bị đo 112 vii 4.6.8.2 Cấu hình đo 112 4.6.8.3 Çc b−íc thùc hiƯn 113 4.6.9 Th«ng l−ỵng 113 4.6.9.1 Thiết bị đo 113 4.6.9.2 Cấu hình đo 113 4.6.9.3 Çc b−íc thùc hiƯn 113 4.6.10 Các chức VLAN 114 4.6.10.1 Thiết bị đo 114 4.6.10.2 Cấu hình đo 114 4.6.10.3 Çc b−íc thùc hiÖn 114 4.6.11 Kiểm tra số lợng ID VLAN hỗ trợ 114 4.6.12.1 Thiết bị đo 114 4.6.11.2 Cấu hình đo 115 4.6.11.3 Çc b−íc thùc hiƯn 115 4.6.12 KiÓm tra −u tiªn VLAN 115 4.6.12.1 Thiết bị đo 115 4.6.12.2 Cấu hình đo 115 4.6.12.3 Çc b−íc thùc hiƯn 116 TàI LIệU THAM KHảO 160 viii DANH MơC ÇC BảNG Bảng 1-1: So sánh GFP-F GFP-T 23 Bảng 1-2:Liên kết nối tiếp VC-4-Xc X thị số VC-n 25 Bảng 1-3: Dung lợng liên kết ảo SDH VC-n-Xv SONET STS-3Xv SPE 27 Bảng 4-1: Tín hiệu giả ngẫu nhiên (ITU-T O.151) 69 Bảng A-1: Giá trị công suất phát giao diện quang STM-1 thiết bị SDH 117 Bảng A-2: Giá trị công suất phát giao diện quang STM-4 thiết bị SDH 117 Bảng A-3: Giá trị công suất phát giao diện quang STM-16 thiết bị SDH 118 Bảng A-4: Giá trị công suất phát giao diện quang STM-16 thiết bị SDH 118 Bảng A-5: Giá trị công suất phát giao diện quang STM-64 thiết bị SDH 119 Bảng A-6: Giá trị công suất phát giao diện quang STM-64 thiết bị SDH 120 Bảng A-7: Giá trị công suất phát giao diện quang STM-64 thiết bị SDH 120 B¶ng B-1: Giao diƯn quang STM-1 121 B¶ng B-2: Giao diÖn quang STM-1(tiÕp) 121 B¶ng B-3: Giao diƯn quang STM-4 121 B¶ng B-4: Giao diÖn quang STM-4 122 B¶ng B-5: Giao diƯn quang STM-16 122 ix 1000 467 100 70 TDEV (nsec) 10 T1315430-99 0.1 10 0.1 100 1000 10 000 100 4.3 Observation Interval (sec) 100 000 100 000 Hình 0-7: Giới hạn mạng wander giao diện SSU tính theo TDEV Giao diện SEC Bảng 0-8: Giới hạn mạng wander giao diện SEC tính theo MTIE Khoảng thời gian Yêu cầu MTIE quan sát (ns) ô(sec) 0.1 < τ ≤ 2.5 250 2.5 < τ ≤ 20 100 τ 20 < τ ≤ 000 000 τ > 000 433 τ0.2 + 0.01 τ 147 10 000 5330 2000 MTIE (nsec) 1000 250 100 0.1 0.1 T1315440-99 10 2.5 100 20 000 10 000 2000 100 000 100 000 Observation Interval τ (sec) Hình 0-8: Giới hạn mạng wander giao diện SEC tính theo MTIE Bảng 0-9: Giới hạn mạng wander giao diện SEC tính theo TDEV Khoảng thời gian Yêu cầu TDEV quan sát (ns) τ (sec) 0.1 < τ ≤ 17.14 12 17.14 < τ ≤ 100 0.7 τ 100 < τ ≤ 000 000 58 + 1.2 τ0.5 + 0.000 τ 148 1000 467 TDEV (nsec) 100 70 12 T1315450-99 10 0.1 10 0.1 17.4 1000 100 10 000 100 100 000 100 000 Observation Interval τ (sec) H×nh 0-9: Giới hạn mạng wander giao diện SEC tính theo TDEV Đối với giao diện đồng PDH Bảng 0-10: Giới hạn mạng wander giao diƯn ®ång bé PDH (tÝnh theo MTIE) Observation MTIE requirement Interval (ns) τ (sec) 0.1 < τ ≤ 7.3 732 7.3 < τ ≤ 20 100 τ 20 < τ ≤ 000 000 τ > 000 433 τ0.2 + 0.01 τ 149 10 000 5330 2000 MTIE (nsec) 1000 732 100 0.1 T1315460-99 10 0.1 100 1000 7.3 20 100 000 10 000 2000 100 000 Observation Interval (sec) Hình 0-10: Giới hạn mạng vỊ wander ®èi víi giao diƯn ®ång bé PDH (tÝnh theo MTIE) Bảng 0-11: Giới hạn mạng wander đối víi giao diƯn ®ång bé PDH (tÝnh theo TDEV) Observation TDEV Interval requirement τ (sec) (ns) 0.1 < τ ≤ 48 34 48 < τ ≤ 100 0.7 τ 100 < τ ≤ 000 000 58 + 1.2 τ0.5 + 0.000 τ 150 000 467 100 TDEV (nsec) 70 34 10 0.1 0.1 T1315470-99 10 100 48 1000 100 10 000 100 000 100 000 Observation Interval (sec) Hình 0-11: Giới hạn mạng wander ®èi víi giao diƯn ®ång bé PDH (tÝnh theo TDEV) 151 PHụ LụC F QUI ĐịNH ĐáP ứNG KHI NHảY PHA NGằN Và ĐặC TíNH CHế Độ LƯU GIữ Qui định đáp ứng nhảy pha ngắn Đồng hồ SSU Bảng 0-1: Qui định đặc tính đáp ứng nhảy pha ngắn SSU (đối với giao diện 2048 kHz 2048 kbit/s) (G.812) Giới hạn MTIE Khoảng thời gian quan sát t (ns) (s) 25 0.001 < τ ≤ 0.003 7500 τ 0.003 < τ ≤ 0.016 120 + 0.5 τ 0.016 < τ ≤ 240 240 240 < τ ≤ 1000 B¶ng 0-2: Qui định đặc tính đáp ứng nhảy pha ngắn SSU (giao diện STM-N) (G.812) Giới hạn MTIE Khoảng thêi gian quan (ns) s¸t t (s) 7500 τ 0.001 < τ ≤ 0.016 120 + 0.5 τ 0.016 < τ ≤ 240 240 240 < τ ≤ 10 000 152 1000 182 120 240 150 100 52 20 25 10 MTIE (ns) (Log scale) 7.5 280 240 16 m 14 m 1m 3.3 m 10 m 0.1 0.16 10 Observation interval τ (s) (Log scale) 100 1K 10 K T1313320-98/d09 Type I at 2048 kHz and 2048 kbit/s Type I at STM-N Types II and III at 1544 kbit/s Types II and III at STM-N H×nh 0-1: Giới hạn đáp ứng nhảy pha ngắn SSU (MTIE) §ång hå SEC 1000 Phase error [ns] 240 120 0.016 15 Time S [s] T1306570-95 H×nh 0-2: Giíi hạn đáp ứng nhảy pha ngắn SEC (MTIE) (G.813) Đặc tính chế độ lu giữ Đối với SSU Lỗi pha x đầu đồng hồ chu kỳ S giây sau tín hiệu chuẩn đầu vào phải thoà mÃn điều kiÖn sau: ⏐∆x(S)⏐≤ {(a1 + a2)S + 0,5 b S2 + c} ns Vi phân x(S) chu kỳ S giây phải thoả mÃn điều kiện sau: 153 ⏐d(∆x(S))/dS⏐≤ {a1 + a2 + b S} ns/s Vi phân bậc x(S) chu kỳ S giây phải thoả mÃn điều kiện sau: d2 (x(S))/dS2 d ns/s2 Trong đó, giá trị tham số a1, a2, b, c, d đợc qui định bảng dới đây: Bảng 0-3: Yêu cầu đặc tính đáp ứng chế độ lu giữ SSU (G.812) Type I Type III a1 (ns/s) 0.5 1.0 a2 (ns/s) 10 b (ns/s2) 2.3 × 10-6 2.16 × 10-5 c (ns) 60 150 d (ns/s2) NA 2.16 ì 10-5 NA: Not applicable Đối với SEC Lỗi pha T đầu SEC so với đầu vào thời điểm sau tín hiệu chuẩn khoảng thời gian lớn 15 s (S>15s) không đợc vợt qua giới hạn sau: DT(S) = {(a1 + a2) S + 0.5 b S2 + c} [ns] víi a1 = 50 ns/s (see Note 1); a2 = 2000 ns/s (see Note 2); 154 b = 2.16 × 10-4 ns/s2 (see Note 3); c = 120 ns (see Note 4) 155 PHơ LơC G Y£U CÇU TíNH NĂNG THIếT Bị ĐO NG-SDH Yêu cầu chung Trong trình đo đánh giá chất lợng thiết bị SDH, thiết bị đo đợc sử dụng nh thiết bị chuẩn để so sánh đo kiểm, đảm bảo tính tơng thích thành phần khác hệ thống Ngoài thiết bị đo đợc sử dụng để mô điều kiện khắt khe cã thĨ cã triĨn khai SDH, nhÊt lµ môi trờng có nhiều nhà cung cấp thiết bị Vì vậy, thiết bị đo phải đảm bảo yêu cầu sau: - Máy đo phải đảm bảo đủ chức sử dụng môi trờng PDH/SDH - Có chức đo nhanh tự động để thực chuỗi phép đo nhanh Phần mềm hệ thống đo thực phép đo cách dế dàng nhanh chóng Ngôn ngữ lập trình đơn giản dễ sử dụng thờng ngôn ngữ hớng đối tợng, cho phép lập trình giao diện đồ hoạ thông qua khối, modul, biểu tợng khác hẳn với ngôn ngữ lập trình truyền thống phức tạp - Máy đo có khả mở rộng thêm chức cách dễ dàng, có khả cập nhật đợc tiêu, tiêu chuẩn đánh giá t−¬ng lai - Cã giao diƯn ng−êi sư dơng thích hợp, dễ sử dụng, dễ nhớ - Có khả lu trữ thông tin lớn thực phép ®o thêi gian dµi - Cã cÊu tróc modul cho phép tổ hợp mềm dẻo khả nâng cấp mở rộng phần cứng lẫn phần mềm cách dễ dàng Hiện nay, bên cạnh số thiêt bị đo thực chức đơn lẻ ví dụ nh có loại thiết bị thực chức phân tích khung, có loại thiết bị thực phép đo BER có nhiều thiết bị đo SDH thực đầy đủ đo SDH đÃ nêu Để thực đầy đủ đo thiết bị đo SDH phải đảm bảo chức sau: 156 - Có khả tạo phân tích tín hiệu STM-N có cấu trúc đợc qui đinh ITU-T G.707 - Có khả phát cấu trúc tín hiệu thử khác TSS1- TSS8 theo nh qui định O.181 - Có thể thực mô đánh giá byte SOH/POH - Tạo phân tích bất thờng sai hỏng - Có khả chèn lỗi bit B1, B2, B3 - Tạo chuỗi thử trỏ theo G.783 phân tích hoạt động trỏ - Có khả đo đánh giá lỗi bit theo G.826, G.828, G.829 M.2101 - Có khả tạo/phân tích wander/Jitter theo ITU-T G.783, G.823, G.825, O.171, O.172 - Yêu cầu khả phối hợp hoạt động:Yêu cầu đặt tải lu lợng MAC thiết bị đo NGS thiết bị đo Ethernet cần phải giống để phân tích lu lợng đợc cấp tới cổng Ethernet DUT mà thiết bị đo NGS nối tới Tuy nhiên, tất thiết bị kiểm tra Ethernet thiết bị đo NGS có tải Ethernet riêng theo nhà sản xt Th«ng th−êng, khung tÝn hiƯu kiĨm tra cã chøa trờng đánh dấu thời gian (timestamp) dùng cho đo trễ trờng số chuỗi dùng cho phép đo thông lợng (các khung bị mất), đợc cung cấp tải Hiện nay, cha có chuẩn chung cho khung tín hiệu kiểm tra Mỗi nhà sản xuất thiết bị đo quy định kiểu riêng Do vậy, thực phép đo thiết bị NG-SDH cần lu ý: Lựa chọn thiết bị đo tích hợp có modul Ethernet sử dụng nhiều thiết bị đo có chức riêng: thiết bị đo Ethernet thiết bị đo NGS nhng nhà sản xuất Yêu cầu giao diện chức Giao diện 157 1) Cung cấp tất tốc độ từ 1.5Mbpstới 10Gb/s 2) Tuân theo đầy đủ tiêu chuẩn NG-SONET/SDH OTN (ITU-T G.709) Chức đo kiểm Phần SDH - Sắp xếp mức cao (HO):STS-1/3c/6c/9c/12c/24c/48c AU-3/Au-4/AU-42c/3c/4c/8c/16c - S¾p xÕp møc thÊp (LO): VT1.5/2/6, VC-11/12/2/3 - VËn hành kiểm tra mào đầu đờng dẫn HO, LO, đờng truyền thành phần - Tạo kiểm tra cảnh báo đờng dẫn HO, LO, đờng truyền thành phần - Tạo xử lý kiểm tra trỏ chèn lỗi đờng dẫn HO, LO, đờng truyền thành phần - Đo lợng phân tích tần số quang điện - Kiểm tra chất lợng lỗi - Kiểm tra phơng thức tổng thể - Các phép đo định thời tách dịch vụ - MÃ hoá/ giải mÃ nhÃn tín hiệu APS (K1/K2), bit SS , SSM - Kiểm tra hai đầu nhận DS1/DS3 Phần NG-SDH GFP-F: - Tạo phân tích dạng khung (quản lý thuê bao/ liệu thuê bao) - Tạo kiểm tra cảnh báo/ lỗi - Vận hành mào đầu kiểm tra - Kiểm tra trạng thái truyền nhận 158 VCAT: - Đồng thời vận hành thành phần nhóm VCAT - Tạo kiểm tra cảnh báo/ lỗi - Chỉ thị chuỗi vận hành xử lý - Phân tích theo nhóm tóm tắt - Đa vào phân tích trễ nhóm sai khác LCAS: - Vận hành phân tích giao thức LCAS (hai phơng thức: tự động tự điều chỉnh) - Kiểm tra điều khiển trạng thái nguồn thu nguồn phát - Tạo thời gian thực kiểm tra trờng điều khiển LCAS - Đa vào kiểm tra thời gian thực với cảnh báo/lỗi LCAS 159 TàI LIệU THAM KHảO [1] H Qureshi, S Ferguson, C Scotland., “Generic Framing Procedure ITU-T G.7041”, Agilent Technologies, Inc USA, Jul, 23 2002 [2] Harry G Perros., Connection-oriented Networks SONET/SDH, ATM, MPLS and Optical Networks John Willey&Son, Ltd 2005 [3] Tỉng c«ng ty BCVT ViƯt Nam, Đề tài 078-2004-TCT-RDP-VT-44 Nghiên cứu xây dựng đo kiểm hoà mạng thiết bị đầu cuối cáp quang SDH mạng Viễn thông TCT Hà Nội, 2004 [4] J M Caballero., “SDH Next Generation”, TrenComb, Inc 2004 [5] ITU-T Rec G.7041/Y.1303, Generic framing procedure (GPF), Aug 2005 [6] ITU-T Rec G.707/Y.1322, Network node interface for the synchronous digital hierarchy (SDH), Dec 2003 [7] ITU-T Rec G.7042/Y.1305, Link capacity adjustment scheme (LCAS) for virtual Concatenated signals, Feb 2004 [8] Brian LavallÐe., “White Paper: Next Generation SONET/SDH networking Tecknologies” Nortel Networks, Inc Aug 2003 [9] F Olsson, J ShupenÝ, A Gunn., “Virtual Concatenation + LCAS providing scalable SONET/SDH bandwidth” Agilent Technologies, Inc USA, 2001 [10] C Mazzuca., “Next generation SONET/SDH technologies and testing considerations”., EXFO Electro-Optical Engineering Inc May, 2005 [11] EXFO Electro-Optical Engineering Inc., “NEXT GENERATION SONETSDH ANALYZER FTB-8100” Sep, 2005 [12] Acterna LLC., “Practical NewGen Measurements with ONT family ONT50/ONT-506/ONT-512”., Jan, 2005 [13] Acterna LLC., “Acterna ONT-50 Optical Tester: Ethernet over SONET/SDH, V10.xx - Operating Manual”, 2005 160 [14] Acterna LLC., “Acterna ONT-50 Optical Tester: Ethernet V9.10 Operating Manual”, 2004 [15] Acterna LLC., “Acterna ONT-50 Optical Tester: Mainframe V9.10 Operating Manual”, 2004 [16] Fujitsu Ltd., “FLAHWAVETM 4060/4160 Compact SDH Multi Servive Provisioning Platform - Product Description” Issue 2.0, Jun, 2005 [17] Fujitsu Ltd., “FLAHWAVETM 4560 2.5G/10G SDH/SONET Multi Service Cross-Connect - Product Description” Issue 6a, Mar, 2003 [18] Photonic Bridge., “A New Generation of MSPPs for Metro Transport Networks”, 2003 [19] Agilent Technologies, Inc., “Test Applications for Next Generation SONET/SDH” USA Feb, 2005 20] IETF, RFC 2544 Benchmarking Methodology for Network Interconnect Devices, March 1999 [21] Acterna LLC., “New SONET/SDH-Ethernet Interworking Testing with the Acterna ONT-50”, Aug, 2004 [22] Chỉ tiêu kỹ thuật quy trình đo kiểm thiết bị NG-SDH hÃng 161 ... quy trình đo kiểm hoà m? ?ng thiết bị đầu cuối quang NGSDH Ch? ?ng danh mục số thiết bị đo NG- SDH xxii Ch? ?ng I T? ?ng quan hệ th? ?ng th? ?ng tin quang I Lịch sử phát triển hệ th? ?ng th? ?ng tin cáp sợi quang... bị đầu cuối NG- SDH có giới nhằm khái quát cấu trúc đặc điểm thiết bị đầu cuối quang NGSDH Nội dung ch? ?ng nghiên cứu ph? ?ng pháp đo kiểm đánh giá chất l? ?ng thiết bị đầu cuối quang NG- SDH Ch? ?ng quy. .. Vì c? ?ng nghệ NG- SDH đời đÃ đáp ? ?ng đợc hạn chế đợc truyền tải th? ?ng tin quang nên giảm đợc nhiều chi phí đầu t Do luận văn tập trung nghiên cứu phát triển hệ th? ?ng NG -SDH VNPT quy trình đo kiểm