Crystal structure and surface morphology of LNO film layer were investigated by using X-ray diffraction system (Bruker D5005, Germany) and scanning electron microscope (NO[r]
Đang tải... (xem toàn văn)
THÔNG TIN TÀI LIỆU
Thông tin cơ bản
| Định dạng | |
|---|---|
| Số trang | 7 |
| Dung lượng | 626,27 KB |
Nội dung
Crystal structure and surface morphology of LNO film layer were investigated by using X-ray diffraction system (Bruker D5005, Germany) and scanning electron microscope (NO[r]
Ngày đăng: 26/01/2021, 23:59
TÀI LIỆU CÙNG NGƯỜI DÙNG
TÀI LIỆU LIÊN QUAN