1. Trang chủ
  2. » Kỹ Thuật - Công Nghệ

Bài giảng Nhập môn mạch số: Chương 6.1 - ĐH Công nghệ Thông tin TP. HCM

33 105 0

Đang tải... (xem toàn văn)

Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống

THÔNG TIN TÀI LIỆU

Thông tin cơ bản

Định dạng
Số trang 33
Dung lượng 0,9 MB

Nội dung

Bài giảng Chương 6 - Mạch tuần tự: Chốt và Flip-flop cung cấp cho người học các kiến thức: Chốt S-R (S-R latch), chốt D, Flip-flop D, Flip-flop T, Flip-flop S-R, Flip-flop J-K, Flip-flop Scan. Mời các bạn cùng tham khảo.

NHẬP MƠN MẠCH SỐ CHƯƠNG 6 – PHẦN  Mạch tuần tự:  Chốt và Flip­flop  (Sequential circuit: Latches and Flip­flop) Tổng quan Các hệ thống Số ngày nay đều gồm có hai thành  phần: mạch tổ hợp (chương 5) để thực hiện các chức  năng logic và các thành phần có tính chất nhớ  (memory element) để lưu giữ các trạng thái trong  mạch Chương này sẽ học về: Các thành phần có tính chất nhớ (Chốt, Flip­flop,  thanh ghi,…) Kết hợp các thành phần tổ hợp và thành phần  tính chất nhớ để tạo nên các mạch tuần tự Phân biệt mạch tổ hợp và tuần  tự inputs inputs : : : : Mạch tổ hợp Mạch tổ hợp : : : : outputs outputs MẠCH TỔ HỢP - Ngõ thay đổi ngõ vào thay đổi M e m o r y MẠCH TUẦN TỰ - Ngõ thay đổi phụ thuộc vào ngõ vào trạng thái trước - Mạch có tính Nội dung Chốt S­R (S­R latch) Chốt D Flip­flop D Flip­flop T Flip­flop S­R Flip­flop J­K Flip­flop Scan 1. Chốt S­R (Set­Reset  latch) Chốt S­R dùng cổng NOR Bảng sự thật Ký hiệu Mạch logic  Ký hiệu Ký hiệu sai Chốt S­R dùng cổng NOR (tt) Ngõ vào thông thường Bảng sự thật Mạch logic  S và R chuyển từ mức 1 xuống mức 0 đồng thời  không xác định ngõ ra Chốt S­R dùng cổng NAND Bảng sự thật Mạch logic  Ký hiệu Chốt S­R với ngõ vào cho phép Mạch logic  Bảng sự thật Ký hiệu Chốt S­R với ngõ vào cho phép (tt) SR=11, C:10 Hoạt động của chốt S­R với trường hợp ngõ ra khơng xác định 10 FF­D với ngõ vào bất đồng bộ  (D­FF with asynchronous inputs) Bảng sự thật • • • Ký hiệu Mạch logic  Các ngõ vào bất đồng bộ (Asynchronous inputs) thường được  sử dụng để ép ngõ ra Q của FF­D đến một giá trị mong muốn  mà khơng phụ thuộc ngõ vào D và xung CLK Những ngõ vào này thường ký hiệu PR (preset) và CLR  (clear) PR và CLR thường được dùng để khởi tạo giá trị ban đầu  cho các FF hoặc phục vụ cho mục đích kiểm tra hoạt động  của mạch 19 4. Flip­lop T(Toggle)  20 Flip­flop T(FF­T) - - Ký hiệu Ngõ ra Q hoặc QN của FF­T sẽ đảo trạng thái  mỗi khi có cạnh lên của xung T Ngõ ra Q có tần số bằng ½ tần số của ngõ vào T   FF­T thường được sử dụng trong các bộ đếm  hoặc bộ chia tần số Hoạt động của FF­T tích cực cạnh lên của T FF­T được thiết kế từ FF­D 21 FF­T với ngõ vào cho phép - Flip­flop thay đổi trạng thái tại cạnh lên của xung T  chỉ khi ngõ vào cho phép EN (enable) tích cực Ký hiệu Hoạt động của FF­T tích cực cạnh lên của T  và ngõ vào cho phép EN tích cực mức cao FF­T với ngõ vào cho  phép EN được thiết kế từ  FF­D 22 FF­T với ngõ vào điều khiển và xung Clock - Flip­flop thay đổi trạng thái tại cạnh lên của  xung Clock (CLK) chỉ khi ngõ vào EN và T  tích cực Ký hiệu Bảng sự thật Hoạt động của FF­T tích  cực cạnh lên của xung  Clock 23 5. Flip­flop  S_R(Set_Reset)  24 FF­S_R kích cạnh lên (Positive­edge­triggered S_R flip­flop ) Ký hiệu FF­S_R kích cạnh lên được thiết  kế từ FF­D kích cạnh lên Bảng sự thật Hoạt động của FF­S_R kích cạnh lên 25 6. Flip­Flop J­K 26 FF­J_K kích cạnh lên (Edge­triggered J_K flip­flop) Bảng sự thật FF­J_K kích cạnh lên được  thiết kế từ FF­D kích cạnh lên Ký hiệu Hoạt động của FF­J_K kích cạnh lên 27 FF­JK với ngõ vào bất đồng bộ  Ký hiệu Bảng sự thật 28 7. Flip­Flop Scan 29 Flip­flop Scan(FF­Scan) Chế độ  bình thường Chế độ  kiểm tra Ký hiệu Bảng sự thật FF­D kích cạnh lên có chế độ Scan 30 FF­Scan (tt) Một chuỗi 4 FFs hoạt động trong chế độ Scan - Một tính năng quan trọng của các FF được chế tạo ở mức ASIC là  khả năng Scan (khả năng kiểm tra) Các ngõ vào phụ TI, TE, TO được kết nối đến các FF theo một chuỗi  Scan để phục vụ cho mục đích kiểm tra 31 FF­Scan (tt) Một chuỗi 4 FFs hoạt động trong chế độ Scan - - - Trong chế độ kiểm tra (testing mode), một chuỗi dữ liệu kiểm tra (test  pattern) được đưa vào các FF thay thế cho chuỗi dữ liệu thơng thường Sau khi các test pattern được đưa vào các FF, các FF sẽ quay trở lại chế  độ hoạt động bình thường (normal mode) Sau một hay nhiều cạnh lên của xung Clock, các FF quay lại chế độ  kiểm tra và kết quả kiểm tra được xuất ra ngồi tại ngõ ra của các FF 32 Thảo luận? 33 ... tính chất nhớ để tạo nên các mạch tuần tự Phân biệt mạch tổ hợp và tuần  tự inputs inputs : : : : Mạch tổ hợp Mạch tổ hợp : : : : outputs outputs MẠCH TỔ HỢP - Ngõ thay đổi ngõ vào thay đổi M e m o r y MẠCH TUẦN TỰ - Ngõ... Bảng sự thật Mạch logic  - Ký hiệu Một FF­D kích cạnh xuống thiết kế giống với  FF­D kích cạnh lên, nhưng đảo ngõ vào xung  Clock của 2 chốt D 17 FF­D với ngõ vào điều khiển Bảng sự thật Mạch logic  - -. ..  chốt đóng  (close latch) 12 - Ký hiệu Chốt D (tt)  Bảng sự thật Hoạt động của chốt D 13 3. Flip­flop D (Data) 14 Flip­flop D(FF­D) kích cạnh lên (Positive­edge­triggered D flip­flop) Bảng sự thật Mạch logic  - - Ký hiệu

Ngày đăng: 11/02/2020, 17:10

TỪ KHÓA LIÊN QUAN

TÀI LIỆU CÙNG NGƯỜI DÙNG

TÀI LIỆU LIÊN QUAN