IEC 62007-2 Edition 2.0 2009-01 INTERNATIONAL STANDARD Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications – Part 2: Measuring methods IEC 62007-2:2009 Dispositifs optoélectroniques semiconducteurs pour application dans les systèmes fibres optiques – Partie 2: Méthodes de mesure LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU NORME INTERNATIONALE THIS PUBLICATION IS COPYRIGHT PROTECTED Copyright © 2009 IEC, Geneva, Switzerland All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de la CEI ou du Comité national de la CEI du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de la CEI ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de la CEI de votre pays de résidence 0H 1H About the IEC The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes International Standards for all electrical, electronic and related technologies About IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published Catalogue of IEC publications: www.iec.ch/searchpub The IEC on-line Catalogue enables you to search by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, withdrawn and replaced publications IEC Just Published: www.iec.ch/online_news/justpub Stay up to date on all new IEC publications Just Published details twice a month all new publications released Available on-line and also by email Electropedia: www.electropedia.org The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 20 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary online Customer Service Centre: www.iec.ch/webstore/custserv If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please visit the Customer Service Centre FAQ or contact us: Email: c sc@iec.ch Tel.: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 2H 3H 4H 5H 6H A propos de la CEI La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A propos des publications CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié Catalogue des publications de la CEI: www.iec.ch/searchpub/cur_fut-f.htm Le Catalogue en-ligne de la CEI vous permet d’effectuer des recherches en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Il donne aussi des informations sur les projets et les publications retirées ou remplacées Just Published CEI: www.iec.ch/online_news/justpub Restez informé sur les nouvelles publications de la CEI Just Published détaille deux fois par mois les nouvelles publications parues Disponible en-ligne et aussi par email Electropedia: www.electropedia.org Le premier dictionnaire en ligne au monde de termes électroniques et électriques Il contient plus de 20 000 termes et dộfinitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes équivalents dans les langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International en ligne Service Clients: www.iec.ch/webstore/custserv/custserv_entry-f.htm Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions, visitez le FAQ du Service clients ou contactez-nous: Email: c sc@iec.ch Tél.: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 7H 8H 9H 1H 10H LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1211 Geneva 20 Switzerland Email: i nmail@iec.ch Web: w ww.iec.ch IEC 62007-2 Edition 2.0 2009-01 INTERNATIONAL STANDARD LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU NORME INTERNATIONALE Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications – Part 2: Measuring methods Dispositifs optoélectroniques semiconducteurs pour application dans les systèmes fibres optiques – Partie 2: Méthodes de mesure INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE PRICE CODE CODE PRIX ICS 31.080.01; 31.260; 33.180.01 ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission Marque déposée de la Commission Electrotechnique Internationale W ISBN 2-8318-1023-6 –2– 62007-2 © IEC:2009 CONTENTS FOREWORD 0H INTRODUCTION 1H Scope Normative references Terms, definitions and abbreviations 3.1 Terms and definitions 3.2 Abbreviations Measuring methods for photoemitters 2H 3H 4H 5H 6H 7H Outline of the measuring methods Radiant power or forward current of LEDs and LDs with or without optical fibre pigtails Small signal cut-off frequency (f c ) of LEDs and LDs with or without optical fibre pigtails Threshold current of LDs with or without optical fibre pigtails Relative intensity noise of LEDs and LDs with or without optical fibre pigtails S 11 parameter of LEDs, LDs and LD modules with or without optical fibre pigtails Tracking error for LD modules with optical fibre pigtails, with or without cooler Spectral linewidth of LDs with or without optical fibre pigtails Modulation current at dB efficacy compression (I F (1 dB) ) of LEDs 8H 9H 4.3 10H 4.4 4.5 4.6 1H 12H 13H 4.7 14H 4.8 4.9 15H 16H 4.10 Differential efficiency ( η d ) of a LD with or without pigtail and an LD module 4.11 Differential (forward) resistance r d of an LD with or without pigtail 2 Measuring methods for receivers 17H 18H 19H 5.1 5.2 5.3 5.4 5.5 5.6 Outline of the measuring methods Noise of a PIN photodiode Excess noise factor of an APD with or without optical fibre pigtails Small-signal cut-off frequency of a photodiode with or without optical fibre pigtails Multiplication factor of an APD with or without optical fibre pigtails Responsivity of a PIN-TIA module 5.7 Frequency response flatness (ΔS/S) of a PIN-TIA module 5.8 Output noise power (spectral) density P no, λ of a PIN-TIA module 3 20H 21H 2H 23H 24H 25H 26H 27H 5.9 Low frequency output noise power (spectral) density (P no , λ , LF ) and corner frequency (f cor ) of a PIN-TIA module 5.10 Minimum detectable power of PIN-TIA module Bibliography 28H 29H 30H Figure – Equipment setup for measuring radiant power and forward current of LEDs and LDs 31H Figure – Circuit diagram for measuring small-signal cut-off frequency LEDs and LDs 32H Figure – Circuit diagram for measuring threshold current of a LD 1 3H Figure – Graph to determine threshold current of lasers 1 34H Figure – Circuit diagram for measuring RIN of LEDs and LDs 35H Figure – Circuit diagram for measuring the S 11 parameter LEDs, LDs and LD modules 36H LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 4.1 4.2 62007-2 © IEC:2009 –3– Figure 7– Cathode and anode connected to the package of a LD 37H Figure – Output radiant power versus time 38H Figure – Output radiant power versus case temperature 39H Figure 10 – Circuit diagram for measuring linewidth of LDs 40H Figure 11 – Circuit diagram for measuring dB efficacy compression of LDs 41H Figure 12 – Plot of log V versus log I 42H Figure 13 – Circuit diagram for measuring differential efficiency of a LD 43H Figure 14 – Current waveform for differential efficiency measurement 4H Figure 15 – Circuit diagram for measuring differential resistance 2 45H Figure 16 – Current waveform for differential resistance 46H Figure 17 – Circuit diagram for measuring noise of a PIN photoreceiver 47H 48H Figure 19 – Circuit diagram for measuring excess noise of an APD 49H Figure 20 – Circuit diagram for measuring small-signal cut-off wavelength of a photodiode 50H Figure 21 – Circuit diagram for measuring multiplication factor of an APD 51H Figure 22 – Graph showing measurement of I R1 and I R2 52H Figure 23 – Circuit diagram for measuring responsivity of a PIN-TIA module 53H Figure 24 – Circuit diagram for measuring frequency response flatness of a PIN-TIA module 54H Figure 25 – Circuit diagram for measuring output noise power (spectral) density of a PIN-TIA module under matched output conditions 5H Figure 26 – Circuit diagram for measuring output noise power (spectral) density of a non-irradiated PIN-TIA module in the low frequency region 56H Figure 27 – Graph of V m versus frequency 57H Figure 28 – Circuit diagram for measuring minimum detectable power of a PIN-TIA module at a specified bit-error rate (BER) or carrier-to-noise ratio (C/N) 58H LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Figure 18 – Circuit diagram for measuring noise with synchronous detection C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –4– 62007-2 © IEC:2009 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONIC DEVICES FOR FIBRE OPTIC SYSTEM APPLICATIONS – Part 2: Measuring methods FOREWORD 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any misinterpretation by any end user 4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications Any divergence between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter 5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with an IEC Publication 6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication 7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC Publications 8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication Use of the referenced publications is indispensable for the correct application of this publication 9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of patent rights IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights International Standard IEC 62007-2 has been prepared by subcommittee 86C: Fibre optic systems and active devices, of IEC technical committee 86: Fibre optics This second edition cancels and replaces the first edition published in 1997, and its amendment 1(1998) It is a technical revision This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) descriptions related to analogue characteristics have been removed; b) some definitions and terms have been revised for harmonisation with other standards originating from SC 86C Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees) The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”) Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work International, governmental and nongovernmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © IEC:2009 –5– The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 86C/868/FDIS 86C/870/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part A list of all parts of the IEC 62007 series can be found, under the general title Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications, on the IEC website • • • • reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition; or amended Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until the maintenance result date indicated on the IEC web site under "http://webstore.iec.ch" in the data related to the specific publication At this date, the publication will be C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an –6– 62007-2 © IEC:2009 INTRODUCTION Semiconductor optical signal transmitters and receivers play important roles in optical information networks This standard covers the measurement procedures for their optical and electrical properties that are intended for digital communication systems These properties are essential to specify their performance LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © IEC:2009 –7– SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONIC DEVICES FOR FIBRE OPTIC SYSTEM APPLICATIONS – Part 2: Measuring methods Scope This part of IEC 62007 describes the measuring methods applicable to the semiconductor optoelectronic devices to be used in the field of fibre optic digital communication systems and subsystems Normative references The following referenced documents are indispensable for the application of this document For dated references, only the edition cited applies For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies IEC 60050-731:1991, International Electrotechnical Vocabulary – Chapter 731: Optical fibre communication IEC 60793 (all parts), Optical fibres IEC 60794 (all parts), Optical fibre cables IEC 60874 (all parts), Connectors for optical fibres and cables Terms, definitions and abbreviations For the purposes of this document, the following terms, definitions and abbreviations apply 3.1 Terms and definitions 3.1.1 PIN photodiode photodiode with a large intrinsic region sandwiched between p- and n-doped semiconducting regions used for the detection of optical radiation [IEV 731-06-29] 3.1.2 avalanche photodiode photodiode operating with a bias voltage such that the primary photocurrent undergoes amplification by cumulative multiplication of charge carriers [IEV 731-06-30] 3.1.3 pigtail short optical fibre or optical fibre cable that is attached to a device being measured Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU All optical fibres and cables that are defined in IEC 60793 series, IEC 60794 series are applicable All optical connectors that are defined in IEC 60874 series are applicable, if a pigtail is to be terminated with an optical connector C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © IEC:2009 –8– 3.2 Abbreviations LED light emitting diodes LD laser diode PD photodiode TIA transimpedance amplifier APD avalanche photodiode 4.1 Measuring methods for photoemitters Outline of the measuring methods a) Purpose b) “Equipment setup” or “Circuit diagram” for measurement c) “Equipment descriptions and requirements” or “Circuit descriptions and requirements” d) Precautions to be observed e) Measurement procedures f) 4.2 Specified conditions Radiant power or forward current of LEDs and LDs with or without optical fibre pigtails a) Purpose To measure the radiant power Φ e or the forward current I F of light-emitting diodes (LED) and laser diodes, with or without optical fibre pigtails, under specified conditions b) Measuring equipment Figure shows an equipment setup for measuring radiant power and forward current of LEDs and LDs Integrating sphere Detector (calibrated) Device being measured Diffusing opaque screen IF IEC 2305/08 Figure – Equipment setup for measuring radiant power and forward current of LEDs and LDs c) Equipment description and requirements The radiation emitted by the device is submitted to multiple reflections from the walls of the integrating sphere; this leads to a uniform irradiance of the surface proportional to Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU The LEDs and LDs have various opto-electronic properties Some of them are important specifications for using them in the optical communication systems The measuring methods for their opto-electronic properties are described in the following subclauses Each subclause consists of following items C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 66 – 62007-2 © CEI:2009 ó k est égal au rapport cyclique du générateur de modulation G (par exemple pour un rapport cyclique d'onde carrée de 50 %, k = 1/2) 2) Augmenter la tension de polarisation V R jusqu'à ce que la tension V 31 lue sur V atteigne la valeur M × V 30 : M = V31 V30 3) Relever la valeur de la tension V 21 lue sur V et calculer le facteur d'excès de bruit F e par la formule: Fe = V212 q × I po × M × RL × Δf N ó q est la charge de l'électron Cette méthode n’est pas précise pour un dispositif dont le gain unitaire (M ≈ 1) ne peut être obtenu quand le dispositif est totalement déserté, c'est-à-dire lorsqu'il a atteint sa sensibilité et sa vitesse assignées e) Conditions spécifiées – Température ambiante ou de btier – Facteur de multiplication (M) – Courant photoélectrique (I po ) f o , Δf N du filtre F – Longueur d'onde d'émission crête et largeur d’onde spectrale de rayonnement ( λ p , Δ λ ) V R1 – – 5.4 Fréquence de coupure en petits signaux d'une photodiode avec ou sans fibre amorce a) But Mesurer la fréquence de coupure en petits signaux d'une photodiode, avec ou sans fibre amorce, dans des conditions spécifiées b) Schéma du circuit La Figure 20 représente le schéma du circuit de mesure de la fréquence de coupure en petits signaux d'une photodiode Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU d) Précautions prendre C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © CEI:2009 – 67 – C L D V1 RL V V2 V G – + IEC 2324/08 Légende dispositif en cours de mesure L source de lumière bande étroite émettant de la lumière modulée en amplitude par une onde sinusoïdale en petits signaux, de fréquence ajustable G source de tension continue V1 voltmètre continu V2 appareil de mesure de tension large bande RL résistance de charge, de valeur faible par rapport celle de la source du dispositif en cours de mesure C capacité de couplage Figure 20 – Schéma du circuit de mesure de la fréquence de la longueur d’onde de coupure en petits signaux d'une photodiode c) Précaution prendre Seul le port optique du dispositif doit être complètement soumis au rayonnement d) Procédure de mesure Appliquer la tension continue inverse spécifiée la photodiode en cours de mesure Ajuster la source de rayonnement pour obtenir la valeur moyenne spécifiée Φ e au port optique Moduler cette source une fréquence basse (inférieure f c / 100) et mesurer le signal alternatif de sortie sur V2 Augmenter la fréquence de modulation de la source de rayonnement en conservant la valeur moyenne de Φ e et le niveau de modulation constant jusqu'à ce que le signal de sortie mesuré sur V ait diminué de petits signaux f c Cette fréquence est la fréquence de coupure en e) Conditions spécifiées – Température ambiante ou de btier – Tension inverse ( V R ) Résistance de charge ( R L ) Longueur d'onde d'émission crête et largeur de bande spectrale de la source lumineuse ( λ p , Δ λ ) – – – 5.5 Flux énergétique ( Φ e ) Facteur de multiplication d'une APD avec ou sans fibre amorce a) But Mesurer le facteur de multiplication M d'une photodiode avalanche (APD) avec ou sans fibre amorce b) Schéma du circuit La Figure 21 représente le schéma du circuit de mesure du facteur de multiplication d’une APD Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU D C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © CEI:2009 – 68 – IR LS D VR V G2 G1 – G + Syn IEC 2325/08 Légende source de lumière ou de rayonnement D dispositif en cours de mesure G1 générateur de modulation G2 source de tension continue SA ampèremètre synchrone Syn signal de synchronisation IR courant inverse sous rayonnement optique G source de tension V voltmètre VR tension de polarisation Figure 21 – Schéma du circuit de mesure du facteur de multiplication d’une APD c) Précautions prendre Seul le port optique du dispositif en mesure doit être pris en compte d) Procédure de mesure Appliquer la faible tension de polarisation spécifiée V R2 du générateur G au dispositif en mesure Régler le flux énergétique Φ e la valeur spécifiée Mesurer le courant I R2 sur l'ampèremètre synchrone Modifier la tension continue de polarisation appliquée au dispositif en mesure jusqu'à la valeur spécifiée V R1 Mesurer le courant I R1 sur l'ampèremètre synchrone La Figure 22 représente le graphique des mesures de I R1 et I R2 Calculer le facteur de multiplication M partir de l'équation: M = I R1 I R2 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU LS C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © CEI:2009 – 69 – IR IRΦe IRo IR1 IR2 VR2 VR1 VR Légende I Ro courant dans l'obscurité I Rφe courant sous rayonnement optique VR tension de polarisation Figure 22 – Graphique présentant les mesures de I R1 et I R2 e) Conditions spécifiées – Température ambiante ou de btier – Tensions inverses ( V R1 , V R2 ) Flux énergétique ( Φ e ) – – Longueur d'onde d'émission crête ( λ p ) Largeur de bande spectrale de rayonnement ( Δ λ ) – Port optique – Configuration optique – 5.6 Sensibilité d'un module PIN-TIA a) But Mesurer la sensibilité d'un module rayonnement d'entrée modulé PIN-TIA dans des conditions spécifiées de b) Schéma du circuit La Figure 23 représente le schéma du circuit de mesure de la sensibilité d’un module PINTIA Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU IEC 2326/08 C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © CEI:2009 – 70 – L C D RL V P IEC 2327/08 Légende dispositif en cours de mesure L source de rayonnement de bande étroite, avec flux énergétique Φ e réglable, modulée en amplitude avec une onde sinusoïdale en petits signaux fréquence réglable de valeur efficace ΔΦ e (eff) P source d'alimentation fournissant D les tensions et courants de fonctionnement spécifiés R L résistance de charge permettant d'adapter l'impédance de sortie spécifiée pour D C capacité de couplage V voltmètre efficace ou appareil de mesure de tension large bande Figure 23 – Schéma du circuit de mesure de la sensibilité d’un module PIN-TIA c) Précautions prendre Le port optique du dispositif en mesure doit être entièrement soumis au rayonnement La valeur de ΔΦ e(eff) doit être nettement inférieure celle du flux énergétique en courant continu Φ e , et doit rester constante dans la bande de fréquences spécifiées de fréquences de modulation f f Un signal doit être considéré comme petit si le fait de doubler son amplitude ne produit pas de modification de la valeur mesurée du paramètre supérieure l'erreur permise pour la mesure d) Procédure de mesure Appliquer les tensions d’alimentation spécifiées fournies par P aux connexions appropriées de D Régler L de manière fournir la valeur spécifiée du flux énergétique d'entrée Φ e en courant continu, et la fréquence de modulation spécifiée Mesurer sur V la tension efficace de sortie, V o(eff) Etablir la sensibilité S en utilisant la relation suivante: S = V0( eff ) ΔΦ e(eff) Noter les valeurs maximales ( S max) et minimales ( S ) de S mesurées dans la gamme de fréquences de f f , ainsi que la valeur centrale S mb en milieu de bande définie par: Fmb = f1 × f ou correspondant une valeur spécifiée NOTE Les analyseurs de spectre /réseau r.f comportent généralement les fonctions de résistance de charge, capacité de couplage et voltmètre en courant alternatif Ils peuvent être utilisés la place des éléments des circuits séparés représentés dans le schéma e) Conditions spécifiées – – Température ambiante ou de btier ( T amb ou T case ) Tensions d'alimentation spécifiées fournies par P – Résistance de charge ( R L ) Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU D C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © CEI:2009 – Longueur d'onde d'émission crête et largeur du spectre du flux de la source lumineuse ( λ p , Δ λ ) – Flux énergétique continu ( Φ e ) Fréquence de modulation ( f ) – 5.7 – 71 – Monotonie de la réponse en fréquence ( Δ S/S) d'un module PIN-TIA a) But Mesurer la monotonie de la réponse en fréquence d'un module PIN-TIA dans une bande de fréquences de modulation spécifiée b) Schéma du circuit La Figure 24 représente le schéma du circuit de mesure de la monotonie de la réponse en fréquence d’un module PIN-TIA C D RL V P IEC 2327/08 Légende D dispositif en cours de mesure L source de rayonnement bande étroite, avec flux énergétique Φ e réglable, modulée en amplitude avec une onde sinusọdale en petits signaux ó fréquence réglable et de valeur efficace ΔΦ e(eff) P source d'alimentation fournissant D les tensions et courants de fonctionnement spécifiés RL résistance de charge permettant d'adapter l'impédance de sortie spécifiée pour D C capacité de couplage V voltmètre alternatif ou appareil de mesure de tension large bande Figure 24 – Schéma du circuit de mesure de la monotonie de la réponse en fréquence d’un module PIN-TIA c) Précautions prendre Le port optique du dispositif en mesure doit être entièrement soumis au rayonnement La valeur ΔΦ e(eff) doit être nettement inférieure celle du flux énergétique en courant continu Φ e , et suffisamment constante dans la bande de fréquences de modulation spécifiées entre f et f Un signal doit être considéré comme petit si le fait de doubler son amplitude ne produit pas de modification de la valeur du paramètre mesuré supérieure l'erreur permise pour la mesure d) Procédure de mesure Appliquer les tensions d’alimentation spécifiées fournies par P aux connexions appropriées de D Régler L de manière obtenir la valeur spécifiée du flux énergétique d'entrée Φ e en courant continu Faire varier la fréquence de modulation entre f et f sur la bande spécifiée Mesurer sur V la tension de sortie en courant alternatif V o(eff) en fonction de la fréquence Etablir la sensibilité S en utilisant la relation suivante: S = V0(eff) Φ e(eff) Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU L C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © CEI:2009 – 72 – Déterminer les valeurs maximale ( S max) et minimale ( S ) de S dans la bande de fréquences de modulation spécifiée, et sa valeur S ( f mb ) la fréquence centrale f mb La monotonie de la réponse en fréquence, exprimée en décibels, est calculée selon l'équation suivante: ΔS / S = 10 log S max − S S mb où f mb est la fréquence centrale définie par f mb = f × f , sauf indication contraire, et S ( f mb ) est la valeur de sensibilité la fréquence f mb NOTE Les analyseurs de spectre /réseau r.f comportent généralement les fonctions de résistance de charge, capacité de couplage et voltmètre en courant alternatif Ils peuvent être utilisés la place des éléments des circuits séparés décrits dans le schéma – – – – Température ambiante ou de btier ( T amb ou T case ) Tensions de polarisation spécifiées, générées par P Résistance de charge ( R L ) Longueur d'onde d'émission crête et largeur de bande spectrale de rayonnement de la source lumineuse ( λ p , Δ λ ) – Flux énergétique en courant continu ( Φ e ) Plage de fréquences de modulation du flux énergétique ( f , f ) – Fréquence centrale ( f mb ), si différente de – f1 × f 5.8 Densité (spectrale) de la puissance de bruit P no,λ en sortie d'un module PIN-TIA a) But Mesurer la densité spectrale de la puissance de bruit en sortie d'un module PIN-TIA dans des conditions d'adaptation en sortie b) Schéma du circuit La Figure 25 représente le schéma du circuit de mesure de la densité (spectrale) de la puissance de bruit en sortie d’un module PIN-TIA avec sorties adaptées Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU e) Conditions spécifiées C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © CEI:2009 – 73 – C D L F A RL V P IEC 2328/08 D dispositif en cours de mesure L source de rayonnement bande étroite avec flux énergétique Φ e réglable P source d'alimentation fournissant D les tensions et courants de fonctionnement spécifiés RL résistance de charge permettant d'adapter l'impédance électrique spécifiée pour D F filtre passe-bande haute sélectivité A amplificateur gain de tension G v V appareil de mesure de tension de bruit efficace destiné mesurer la tension de bruit en sortie V m la fréquence f m C capacité de couplage Figure 25 – Schéma du circuit de mesure de la densité (spectrale) de la puissance de bruit en sortie d’un module PIN-TIA avec sortie adaptée c) Précautions prendre Le port optique du dispositif en mesure doit être entièrement soumis au rayonnement du flux énergétique d'entrée spécifié Φ e L'amplificateur doit avoir une bande suffisamment large pour que le filtre F puisse déterminer la largeur de bande de mesure du bruit Le circuit de mesure doit être relié la terre et blindé pour que les signaux parasites ne gênent pas la mesure des signaux de faible niveau d) Procédure de mesure Appliquer aux connexions appropriées de D les tensions et courants d'alimentation spécifiés fournies par P Régler L de manière fournir au port optique de D le flux énergétique Φ e spécifié Régler la fréquence centrale de F sur la fréquence f m spécifiée pour mesurer la densité (spectrale) de puissance de bruit en sortie Lire sur le voltmètre V la valeur de la tension du bruit efficace en sortie V m Calculer la densité (spectrale) de puissance de bruit en sortie de la faỗon suivante: Pno, = (Vm / G v ) RL × B NOTE Les analyseurs de spectres r.f comportent généralement les fonctions de résistance de charge, filtre, amplificateur et mesureur de tension de bruit efficace Ils peuvent être utilisés la place des éléments du circuit séparés décrits dans le schéma e) Conditions spécifiées – Température ambiante ou du btier ( T amb ou T case ) – Tensions et courants d'alimentation spécifiés fournis par P – Résistance de charge ( R L ) Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Légende C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © CEI:2009 – 74 – – Longueur d'onde d'émission crête et largeur de bande spectrale de rayonnement de la source lumineuse ( λ p , Δ λ ) – Flux énergétique en entrée ( Φ e ) Fréquence centrale ( f m ) et largeur de bande utile ( B ) de F – 5.9 Densité (spectrale) de la puissance de bruit en basse fréquence (P no,λ, LF ) et de la fréquence de cassure (f cor ) en sortie d'un module PIN-TIA a) But Mesurer la densité (spectrale) de puissance du bruit en basse fréquence en sortie d'un module PIN-TIA non-irradié, où domine ce qu'il est convenu d'appeler le bruit en 1/ f , ainsi que sa fréquence de remontée, avec sa sortie adaptée b) Schéma du circuit C D F A RL V P IEC 2329/08 Légende D dispositif en cours de mesure (non irradié) P source d'alimentation fournissant D les tensions et courants de fonctionnement spécifiés RL résistance de charge permettant d'adapter l'impédance de sortie spécifiée pour D F filtre passe-bande haute sélectivité fréquence centrale réglable f m et largeur de bande utile B A amplificateur gain en tension G v V appareil de mesure de tension efficace destiné mesurer la tension de bruit en sortie V m la fréquence fm C capacité de couplage Figure 26 – Schéma du circuit de mesure de la densité (spectrale) de la puissance de bruit en sortie d‘un module PIN-TIA non-irradié en basse fréquence c) Précautions prendre Le port optique de D ne doit pas être soumis au rayonnement L'amplificateur doit avoir une largeur de bande suffisante pour que toute la largeur de bande du bruit soit déterminée par F Le circuit de mesure doit être électriquement relié la terre et blindé pour que les signaux parasites ne gênent pas la mesure des signaux de bruit de faible niveau La largeur de bande (de bruit) utile B de F doit être égale 15 % au plus de sa fréquence centrale d) Procédure de mesure Appliquer aux connexions appropriées de D les tensions et courants d'alimentation spécifiés fournies par P Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU La Figure 26 représente le schéma du circuit de mesure de la densité (spectrale) de la puissance de bruit en sortie d‘un module PIN-TIA non-irradié en basse fréquence C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © CEI:2009 – 75 – Augmenter la fréquence centrale du filtre F, en partant d'une valeur très faible, laquelle la tension de bruit V m décrt lorsque la fréquence augmente, jusqu'à une valeur laquelle V m devient presque constante La Figure 27 montre V m en décibels en fonction de f Relever la valeur V m * cette fréquence Diminuer la fréquence jusqu'à ce que V m augmente de dB (d'un facteur ≅ rapport V m * Cette fréquence est la fréquence de remontée F cor ) par Diminuer encore la fréquence et mesurer V m ( f m ) la fréquence spécifiée f m , qui correspond un point dans la zone presque linéaire de la courbe décrite en Figure 27 Calculer la densité (spectrale) de la puissance de bruit basse fréquence en sortie de la faỗon suivante: Pno, ,LF = (Vm / G v ) RL × B e) Conditions spécifiées – Température ambiante ou de btier ( T amb ou T case ) Tensions et courants d'alimentation fournis par P – – Résistance de charge ( R L ) Fréquence de mesure ( f m ) pour P no,λ,LF Largeur de bande utile ( B ) de F – – La Figure 27 représente la courbe V m en fonction de la fréquence Vm dB Vm (fm) dB ∗ V m fm fcor Log f IEC 2330/08 Figure 27 – Graphique présentant V m en fonction de la fréquence 5.10 Puissance minimale détectable d'un module PIN-TIA a) But Mesurer la puissance minimale détectable d'un module PIN-TIA pour un taux d'erreur sur les bits ( BER ) ou un rapport porteuse/bruit ( C/N ) spécifiés b) Schéma du circuit Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU NOTE Les analyseurs de spectres r.f comportent généralement les fonctions de résistance de charge, filtre, amplificateur et mesureur de tension de bruit efficace Ils peuvent être utilisés la place des éléments du circuit séparés décrits dans le schéma Dans ce cas, il faut veiller ce que les analyseurs de spectres soient bien étalonnés et que l'impédance corresponde bien D C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © CEI:2009 – 76 – La Figure 28 représente le schéma du circuit de mesure de la puissance minimale détectable d'un module PIN-TIA pour un taux d'erreur sur les bits ( BER ) ou un rapport porteuse/bruit ( C/N ) spécifié BS L D F C A RL S PM M P Légende L source de rayonnement avec flux énergétique modulé, réglable par courant continu (Φ e , ΔΦ e ) S source de signaux sinusoïdaux (mesures analogiques) ou source de signaux permettant de générer le signal numérique approprié dans des conditions spécifiques (mesures numériques) BS dispositif optique diviseur de faisceaux PM appareil de mesure de signaux optiques D dispositif en cours de mesure P source d'alimentation fournissant D les tensions et courants de fonctionnement spécifiés RL résistance de charge EQ égaliseur, si nécessaire C capacité de couplage A amplificateur de fréquence centrale f mb et largeur de bande B (mesures analogiques) ou amplificateur gain variable (mesures numériques) M voltmètre efficace (mesures analogiques) ou mesureur de taux d'erreurs sur les bits (mesures numériques) Figure 28 – Schéma du circuit de la mesure de la puissance minimale détectable d'un module PIN-TIA pour un taux d'erreur sur les bits (BER) ou un rapport porteuse/bruit (C/N) spécifiés c) Précautions prendre La puissance optique de PM doit être étalonnée de manière pouvoir mesurer le signal alternatif contenu dans la puissance rayonnộe reỗue au port optique de D Le rapport porteuse/bruit de L doit être suffisamment important pour éviter un accroissement du bruit détecté Seul le port optique de D doit être soumis au rayonnement d) Procédure de mesure Ajuster P pour appliquer D les tensions d'alimentation spécifiées et ajuster S pour obtenir un taux d'extinction suffisamment élevé Régler le flux énergétique mesuré sur PM pour obtenir le taux d'erreurs spécifié sur les bits et régler le gain de A pour que le taux d'extinction de L et les conditions d'entrée appropriées de M demeurent inchangés Mesurer le flux énergétique sur PM Cette valeur est la puissance détectable minimale de D Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU IEC 2331/08 C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 62007-2 © CEI:2009 – 77 – e) Conditions spécifiées – – Température ambiante ou de btier ( T amb ou T case ) Source d'alimentation fournissant les tensions D – Longueur d'onde d'émission crête et largeur du spectre de rayonnement de L ( λ p , Δ λ ) – Débit binaire du signal – Type de modulation (RZ ou NRZ) – Taux d'erreurs sur les bits – Forme du signal (séquence binaire et densité des points remarquables) – Paramètres de l'égaliseur, si nécessaire LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an – 78 – 62007-2 © CEI:2009 Bibliographie CEI 60617, Symboles graphiques pour schémas CEI 61300 (toutes les parties), Dispositifs d'interconnexion et composants passifs fibres optiques – Procédures fondamentales d'essais et de mesures CEI 61315, Etalonnage de wattmètres pour dispositifs fibres optiques CEI/TR 61930, Symbologie des graphiques de fibres optiques CEI/TR 61931, Fibres optiques – Terminologie _ Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU ISO 1101, Spécification géométrique des produits (GPS) – Tolérancement géométrique – Tolérancement de forme, orientation, position et battement C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn