IEC • NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STAN DARD CEI IEC 60759 1983 AMENDEMENT 1 AMENDMENT 1 1991 11 Amendement 1 Méthodes d''''essais normalisés des spectromètres d''''énergie X à semicteur Amendment 1 S[.]
NORME INTERNATIONALE CEI IEC 60759 INTERNATIONAL STAN DARD 1983 AMENDEMENT AMENDMENT 1991-11 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Amendement Méthodes d'essais normalisés des spectromètres d'énergie X semicteur Amendment Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers © IEC 1991 Droits de reproduction réservés — Copyright - all rights reserved International Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http: //www.iec.ch IEC • Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission McHlgyuapomian 3rleKTpoTeXHH4ecnaR CODE PRIX PRICE CODE B HOMHCCHA • Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- 759 amend © CEI AVANT- PROPOS Le présent amendement a été établi par le Comité d'Etudes n° 45 de la CEI: Instrumentation nucléaire Le texte de cet amendement est issu des documents suivants: Procédure des Deux Mois Rapport de vote 45(BC)191 45(BC)196 Page 54 7.4.1 Sources de rayonnement X Remplacer au dernier alinéa de ce paragraphe, page 56: « et au paragraphe 4.1 de la Publication 340 de la CEI.» par: « et au paragraphe 6.3 de la Publication 973 de la CEI.» LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti l'approbation de cet amendement –3– 759 Amend © IEC FOREWORD This amendment has been prepared by IEC Technical Committee No 45: Nuclear instrumentation The text of this amendment is based on the following documents: Two Months' Procedure Report on Voting 45(CO)191 45(CO)196 Page 55 7.4.1 X-ray sources Replace, in the last paragraph of this subclause, on page 57: " and Sub-clause 4.1 of IEC Publication 340." by: " and Sub-clause 6.3 of IEC Publication 973." LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the Voting Repo rt indicated in the above table - 759 amend © CEI 4- Page 94 Figure 15a Remplacer la figure existante par la nouvelle figure suivante: Replace the existing figure by the following new figure: Verre normalisé (tableau I)/Standard glass (Table I) Diamètre 25 mm Diameter Epaisseur Rondelles d'épaisseur en plastique Thickness mm Plastic spacers Face avant du verre la fenêtre de la source = mm Front surface of glass to window of source = mm Face avant du verre la fenêtre du détecteur = 30 mm Front surface of glass to window of detector = 30 mm Rondelles d'épaisseur en plastique Plastic spacers Face avant du verre Front su rface of glass Fenêtre de la source Window of source Rondelles d'épaisseur en plastique Plastic spacers Fenêtre du détecteur Window of detector CEI-!EC 763/91 Fig 15a - Appareil pour la mesure des épaisseurs de fenêtre Apparatus for window thickness measurements LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Rondelles d'épaisseur en plastique Plastic spacers LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU ICS 17.240 Typeset and printed by the IEC Central Office GENEVA, SWITZERLAND