NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE I EC 748-2-6 QC 790110 Première édition First edition 1991-11 Deuxième partie: Circuits intégrés numériques Section six - Spécification particulière cadre pour les microprocesseurs circuits intégrés Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section six - Blank detail specification for microprocessor integrated circuits IEC• de référence Reference number CEI/IEC 748-2-6: 1991 Numéro LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Dispositifs semiconducteurs Circuits intégrés Numbering Depuis le ter janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées partir de 60000 As from January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series Publications consolidées Consolidated publications Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles Par exemple, les numéros d'édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant l'amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements et Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment and the base publication incorporating amendments and Validité de la présente publication Validity of this publication Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état actuel de la technique The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue Les renseignements relatifs à, des questions l'étude et des travaux en c-urs entrepris par le comité technique qui a établi cette publication, ainsi que la liste des publications établies, se trouvent dans les documents cidessous: Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: • «Site web» de la CEI* • IEC web site* • Catalogue des publications de la CEI Publié annuellement et mis jour régulièrement (Catalogue en ligne)* • Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates • Butietin de la CEI Disponible la fois au «site web» de la CEI* et comme périodique imprimé • (On-line catalogue)* IEC Bulletin Available both at the IEC web site* and as a printed periodical Terminologie, symboles graphiques et littéraux Terminology, graphical and letter symbols En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur se reportera la CEI 60050: Vocabulaire Électrotechnique International (VEI) For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV) Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et les signes d' 'sage général approuvés par la CEI, le lecteur consulter la CEI 60027: Symboles littéraux utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles graphiques utilisables sur le matériel Index, relevé et compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: Symboles graphiques pour schémas For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams * Voir adresse «site web» sur la page de titre * See web site address on title page LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Numéros des publications CEI I EC 748-2-6 NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD OC 790110 Première édition First edition 1991-11 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Dispositifs semiconducteurs Circuits intégrés Deuxième partie: Circuits intégrés numériques Section six - Spécification particulière cadre pour les microprocesseurs circuits intégrés Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section six - Blank detail specification for microprocessor integrated circuits © CEI 1991 Droits de reproduc ti on réservés —Copy ri ght Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans raccord écrit de l'éditeur — all rights reserved No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher Bureau central de la Commission Electrotechnique Internationale 3, rue de Varembé Genève Suisse Téléfax: +41 22 919 0300 e-mail: inmaill,G7,lec.Ch IEC web site http://www.iec.ch IEC • Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE e McteilyHapoaHafi 3neKTpOTexHHVectian HOMHCCHH Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- 748-2-6 © CEI COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS Circuits intégrés Deuxième partie: Circuits intégrés numériques Section six - Spécification particulière cadre pour les microprocesseurs circuits intégrés 1) Les décisions ou accords officiels de la CEI en ce qui concerne les questions techniques, préparés par des Comités d'Etudes où sont représentés tous les Comités nationaux s'intéressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examinés 2) Ces décisions constituent des recommandations internationales et sont agréées comme telles par les Comités nationaux 3) Dans le but d'encourager l'unification internationale, la CEI exprime le voeu que tous les Comités nationaux adoptent dans leurs règles nationales le texte de la recommandation de la CEI, dans la mesure où les conditions nationales le permettent Toute divergence entre la recommandation de la CEI et la règle nationale correspondante doit, dans la mesure du possible, être indiquée en termes clairs dans cette dernière La présente norme a été établie par le Sous-Comité 47A: Circuits intégrés, et par le Comité d'Etudes n° 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs Cette norme est une spécification particulière cadre pour les microprocesseurs circuits intégrés Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Règle des Six Mois 47A(BC)191 Rapport de vote 47A(BC)216 Procédure des Deux Mois Rapport de vote 47A(BC)209 47A(BC)243 Les rapports de vote indiqués dans le tableau ci-dessus donnent toute information sur le vote ayant abouti l'approbation de cette norme Le numéro QC qui figure sur la page de couverture de la présente publication est le numéro de la spécification dans le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU AVANT- PROPOS 748-2-6 © IEC - 3- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section six - Blank detail specification for microprocessor integrated circuits 1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense 3) In order to promote international unification, the IEC expresses the wish that all National Committees should adopt the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the latter This standard has been prepared by Sub-Committee 47A: Integrated circuits, and IEC Technical Committee No 47: Semiconductor devices This standard is a blank detail specification for microprocessor integrated circuits The text of this standard is based on the following documents: Six Months' Rule Report on Voting Two Months' Procedure Report on Voting 47A(CO)191 47A(CO)216 47A(CO)209 47A(CO)243 Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the Voting Repo rt s indicated in the above table The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU FOREWORD - 4- 748-2-6 © CEI Les publications suivantes de la CEI sont citées dans le présent norme: Publications n os 68-2-17 (1978): Essais d'environnement – Deuxième partie: Essais - Essai Q: Étanchéité 134 (1961): Systèmes de valeurs limites pour les tubes électroniques et les dispositifs semiconducteurs analogues 617-12 (1991): Symboles graphiques pour schémas Douzième partie: Opérateurs logiques binaires 747-10 (1991): Dispositifs semiconducteurs Dixième partie: Spécification générique pour les dispositifs discrets et les circuits intégrés 749 (1984): Dispositifs semiconducteurs Essais mécaniques et climatiques QC 001002 (1986): Règles de procédure du système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECO) LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 748-11 (1990): Dispositifs semiconducteurs Circuits intégrés Onzième partie: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés semiconducteurs l'exclusion des circuits hybrides 748-2-6 © IEC -5— The following /EC publications are quoted in this standard: Publications Nos 68-2-17 (1978): 134 (1961): Environmental testing — Pa rt 2: Tests - Test Q: Sealing Rating systems for electronic tubes and valves and analogous semiconductor devices Graphical symbols for diagrams Pa rt 12: Binary logic elements 747-10 (1991): Semiconductor devices Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits 748-11 (1990): Semiconductor devices - Integrated circuits Pa rt 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits 749 (1984): QC 001002 (1986): Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Rules of Procedure of the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECO) LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 617-12 (1991): -6- 748-2-6 © CEI DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS Circuits intégrés Deuxième partie: Circuits intégrés numériques Section six - Spécification particulière cadre pour les microprocesseurs circuits intégrés INTRODUCTION Cette spécification particulière cadre fait partie d'une série de spécifications particulières cadres concernant les dispositifs semiconducteurs; elle doit être utilisée avec la publication suivante de la CEI: 747-10/QC 700000: Dispositifs semiconducteurs - Dixième partie: Spécification générique pour les dispositifs discrets et les circuits intégrés Renseignements nécessaires Les nombres placés entre crochets sur cette page et les pages suivantes correspondent aux indications suivantes qui doivent être portées dans les cases prévues cet effet Identification de la spécification particulière [1] Nom de l'Organisme National de Normalisation sous l'autorité duquel la spécification particulière est établie [2] Numéro IECQ de la spécification particulière [3] [4] Numéros de référence et d'édition des spécifications générique et intermédiaire Numéro national de la spécification particulière, date d'édition et toute autre information requise par le système national Identification du composant [5] Fonction principale et numéro de type, par exemple microprocesseur circuits intégrés 68 000, etc [6] Renseignements sur la construction et les applications typiques Si un dispositif peut avoir plusieurs applications, cela doit être indiqué dans la spécification particulière Les caractéristiques, les limites et les exigences de contrôle relatives ces applications doivent être respectées Une brève description comprendra les informations suivantes: - Nombre, type et longueur des registres - Nombre, type et largeur des bus - Longueur des mots - Dimension de l'espace mémoire adressable - Nombre de sorties - Tension d'alimentation - Toute autre caractéristique particulière LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques fonctionne conformément aux statuts de la CEI et sous son autorité Le but de ce système est de définir les procộdures d'assurance de la qualitộ de telle faỗon que les composants électroniques livrés par un pays participant comme étant conformes aux exigences d'une spécification applicable soient également acceptables dans les autres pays participants sans nécessiter d'autres essais 748-2-6 © IEC -7- SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section six - Blank detail specification for microprocessor integrated circuits INTRODUCTION This blank detail specification is one of a series of blank detail specifications for semiconductor devices and shall be used with the following IEC Publication: 747-10/QC 700000: Semiconductor devices Pa rt 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits Required information Numbers shown in brackets on this and the following pages correspond to the following items of required information, which should be entered in the spaces provided Identification of the detail specification [1] The name of the National Standards Organization under whose authority the detail specification is issued [2] The IECQ number of the detail specification [3] The numbers and issue numbers of the generic and sectional specifications [4] The national number of the detail specification, date of issue and any further information, if required by the national system Identification of the component [5] Main function and type number e.g microprocessor integrated circuit 68 000, etc [6] Information on typical construction and applications If a device is designed to satisfy several applications, this shall be stated here Characteristics, limits and inspection requirements for these applications shall be met A sho rt description shall include the following: - Number, type and length of registers - Number, type and width of buses - Word length - Addressable memory - Number of terminals - Supply voltage - Any other special feature LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU The IEC Quality Assessment System for Electronic Components is operated in accordance with the statutes of the IEC and under the authority of the IEC The object of this system is to define quality assessment procedures in such a manner that electronic components released by one participating count ry as conforming with the requirements of an applicable specification are equally acceptable in all other participating countries without the need for further testing - - 748-2-6 © CEI [7] Dessin d'encombrement, identification des bornes, marquage et/ou référence aux documents correspondants pour les encombrements [8] Catégorie d'assurance de la qualité conformément au paragraphe 2.6 de la spécification générique [9] Données de référence [Les articles indiqués entre crochets sur les pages suivantes de cette norme sont destinés guider le rédacteur de la spécification; ils ne doivent pas figurer dans la spécification particulière.] [Lorsqu'il existe un risque d'ambiguïté quant savoir si un paragraphe est uniquement destiné guider le rédacteur ou non, il doit être indiqué entre crochets.] LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU - 30 - 748-2-6 © CEI 11 Procédures d'assurance de la qualité 11.1 Procédures d'homologation [Voir l'article de la spécification générique et le paragraphe 5.1 de la spécification intermédiaire.] 11.2 Procédures d'agrément de savoir-faire A l'étude 12 Procédures d'associativité 13 Conditions d'essai et exigences de contr6le 13.1 Généralités 13.1.1 Conditions générales Voir l'article de la spécification générique 13.1.2 Examen visuel et dimensionnel Voir le paragraphe 4.2.1 de la spécification générique 13.1.3 Conditions générales pour les mesures électriques et fonctionnelles Voir le paragraphe 4.3.1 de la spécification générique Le programme d'essais fait partie de la spécification du produit [Le fabricant doit démontrer l'ONS que la séquence d'essais fonctionnels est appropriée en fonction de la définition du circuit donnée par le fabricant (fonction, taux de couverture, etc.).] Cette information reste confidentielle entre le fabricant et l'ONS et ne doit pas être divulguée sans le consentement du fabricant 13.1.4 Vérification fonctionnelle 13.1.4.1 Conditions générales Voir la spécification générique 13.1.4.2 Définition et vérification de la fonction [La fonction réalisée par le circuit intégré doit être décrite le plus précisément possible l'article de cette spécification particulière.] Le programme d'essais du fabricant doit être utilisé pour la vérification de la fonction Ce programme d'essais fait partie de la spécification du produit LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU [Voir l'article de la spécification intermédiaire.] 748-2-6 © IEC - 31 - 11 Quality assessment procedures 11.1 Qualification approval procedures [See clause of the generic specification and subclause 5.1 of the sectional specification.] 11.2 Capacity approval procedures Under consideration 12 Structural similarity procedures 13 Test conditions and inspection requirements 13.1 General 13.1.1 General conditions See clause of the generic specification 13.1.2 Visual and dimensional examination See subclause 4.2.1 of the generic specification 13.1.3 General conditions for electrical and functional measurements See subclause 4.3.1 of the generic specification The test program is pa rt of the product specification [The manufacturer shall demonstrate to the NSI that the functional test sequence is adequate, referring to the definition given by the manufacturer (function, test coverage, etc.).] This information is confidential between the manufacturer and the NSI and must not be disclosed without the consent of the manufacturer 13.1.4 Functional verification 13.1.4.1 General conditions See generic specification 13.1.4.2 Definition and verification of the function [The function performed by the integrated circuit shall be described as precisely as possible in clause of this detail specification.] For the verification of the function, the manufacturer's test program shall be used This test program is pa rt of the product specification LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU [See clause of the sectional specification.] – 32 – 748-2-6 © CEI Le fabricant doit garantir l'ONS que le programme d'essais est approprié aux besoins de la vérification de la fonction et, en particulier, que la vérification de la fonction par ce programme d'essais est valable dans toute la gamme des tensions d'alimentation et des températures de fonctionnement [L'ONS peut exiger que le fabricant montre le programme d'essais avec toutes les modifications éventuelles Cependant, cette information reste confidentielle.] [L'ONS est en droit de consulter des experts qui doivent être agréés par le fabricant.] [Dans le cadre de cette procédure, la vérification de la fonction n'est pas décrite dans la spécification particulière.] Voir le paragraphe 4.4 de la spécification générique et le paragraphe 12.2 de la spécification intermédiaire 13.1.6 Essais mécaniques Voir le paragraphe 4.4 de la spécification générique et le paragraphe 12.2 de la spécification intermédiaire 13.1.7 Essais d'endurance Voir le paragraphe 3.8 ou 3.9 de la spécification générique et le paragraphe 12.3 de la spécification intermédiaire [La spécification particulière doit préciser toutes les informations nécessaires pour l'exécution des essais d'endurance.] 13.2 Exigences de prélèvement et constitution des lots de contrôle - Exigences de prélèvement, voir l'article de la spécification particulière – Pour le groupe A, le choix entre les systèmes AQL et LTPD doit être fait dans la spécification particulière – Pour la constitution des lots de contrôle, voir le paragraphe 5.1.1 de la spécification intermédiaire et le paragraphe 12.2 de la Publication QC 001002 de la CEI – Pour l'associativité, voir l'article de la spécification intermédiaire et le paragraphe 8.5.3 de la Publication QC 001002 de la CEI 13.3 Séquences d'essais Les essais doivent être effectués 25 °C, sauf spécification contraire Les essais suivis de (D) sont destructifs LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 13.1.5 Essais climatiques 748-2-6 © IEC - 33 - The manufacturer shall have assured the NSI that the test program is adequate for this purpose and, in pa rt icular, shall assure the NSI that the verification of the function by the test program is valid over the supply voltage and operating temperature range [The NSI can require the manufacturer to demonstrate the test program and any changes; however, the information is confidential.] [The NSI has the right to consult experts who shall be acceptable to the manufacturer.] [Within this procedure, the verification of the function is not described in the detail specification.] See subclause 4.4 of the generic specification and subclause 12.2 of the sectional specification 13.1.6 Mechanical tests See subclause 4.4 of the generic specification and subclause 12.2 of the sectional specification 13.1.7 Endurance tests See subclause 3.8 or 3.9 of the generic specification and subclause 12.3 of the sectional specification [The detail specification shall prescribe all the necessary information for performing the endurance tests.] 13.2 Sampling requirements and formation of inspection lots - For sampling requirements, see Clause of the sectional specification - For group A, the choice between the AQL and the LTPD system shall be made in the detail specification - For the formation of inspection lots see subclause 5.1.1 of the sectional specification and subclause 12.2 of IEC Publication QC 001002 - For structural similarity, see clause of the sectional specification and subclause 8.5.3, of IEC Publication QC 001002 13.3 Inspection tables Tests shall be made at 25 °C, unless otherwise specified Tests marked (D) are destructive LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 13.1.5 Climatic tests - 34 - 748-2-6 © CEI TABLEAU I GROUPE A Contrơles lot par lot Sous– groupe Examen ou essai Conditions d'essai Limites Examen visuel externe CEI 747-10, paragraphe 4.2.1.1 A2 Vérification de la fonction 25 °C sauf spécification contraire A2a (Non applicable la catégorie I) Vérification de la fonction aux températures minimale et maximale de fonctionnement (voir note 9) A3 Caractéristiques statiques 25 °C sauf spécification contraire Voir le paragraphe 6.1 de cette spécification Pour les paramètres de sortie, les séquences de pré-réglage et la charge doivent être spécifiées Les niveaux des entrées non utilisées doivent être spécifiés si nécessaire Voir le paragraphe 6.1 de cette spécification A3a Caractéristiques statiques aux températures minimale et maximale de fonctionnement A âmb — âmb max et Les limites peuvent être différentes de celles du sous-groupe A3 A4 Caractéristiques dynamiques 25 °C sauf spécification contraire Voir le paragraphe 6.2 de cette spécification Conditions d'alimentation: les tensions, séquences et combinaisons de signaux d'entrée, et les formes d'ondes de sortie qui en résultent telles qu'elles sont indiquées par les chronogrammes Les valeurs appropriées des conditions de synchronisation essentielles doivent être spécifiées La charge en sortie dolt être spécifiée Voir le paragraphe 6.2 de cette spécification A4a (Non applicable la catégorie I) Caractéristiques dynamiques aux températures minimale et maximale de fonctionnement (voir note 9) A â mb ` Tomb max et Les limites peuvent être différentes de celles du sous-groupe A4 Conformément au paragraphe 13.1.4 de cette spécification âmb Tomb Mêmes conditions que le sous-groupe A4 ci-dessus Note – Le fabricant peut utiliser les résultats des essais 25 °C s'il peut démontrer, périodiquement, leur corrélation avec les résultats obtenus aux deux températures extrêmes LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Al 748-2-6 © IEC - 35 TABLE I GROUP A Lot-by-lot Sub– group Examination or test Conditions of test Limits Al External visual examination A2 Verification of the function at 25 °C unless otherwise specified A2a (Not applicable to category I) Verification of the function at minimum and maximum operating temperatures (see note 9) A3 Static characteristics at 25 °C, unless otherwise stated See subclause 6.1 of this specification For output parameters, pre-setting sequences and loading shall be specified The levels of unused inputs shall be specified if necessary See subclause 6.1 of this specification A3a Static characteristics at minimum and maximum operating temperatures At Tamb = Tamb max and Limits may be different from those in sub-group A3 A4 Dynamic characteristics at 25 °C, unless otherwise specified See subclause 6.2 of this specification Supply conditions: the voltages, sequences and combinations of input signals and the resulting output waveforms as given in the specified control sequence diagrams Appropriate values of essential timing conditions shall be specified Output loading shall be specified See subclause 6.2 of this specification A4a (Not applicable to category I) Dynamic characteristics at minimum and maximum operating temperatures (see note 9) At Tamb = Tamb max and Limits may be different from those in sub-group A4 IEC 747-10, subclause 4.2.1.1 T amb T amb Same conditions as subgroup A4 above Note – The manufacturer may use test results at 25 °C if he can demonstrate, on a periodic basis, the correlation with those obtained at the two extremes of temperature LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU In accordance with subclause 13.1.4 of this specification 748-2-6 © CEI - 36 TABLEAU II GROUPE B Contrôles lot par lot (dans le cas de la catégorie I, voir la spécification générique, paragraphe 2.6) Sousgroupe Examen ou essai Dimensions B2c Vérification des valeurs limites électriques B4 Soudabilité (D) B5 Variations rapides de température: Détails et conditions 747-10, par 4.2.2 et annexe B Limites Voir article de cette norme Non applicable 749, ch Il, par 2.1 Comme spécifié 749, ch Ill, par 1.1 10 cycles Etamage correct a) Bottiers avec cavité Variations rapides de température suivies de: • Essais électriques choisis en A2 et A3 • Etanchéité, détection des microfuites et • Etanchéité, détection des fuites franches Comme en A2 et A3 749, ch Ill, par 7.3 ou 7.4 Comme spécifié 68-2-17, essai Qc Comme spécifié Variations rapides de température, suivies de: 749, ch Ill, par 1.1 10 cycles • Examen visuel externe 747-10, par: 4.2.1.1 • Essai continu de chaleur humide 749, ch Ill, par 5B Comme en A2 et A3 b) Dispositifs sans cavité et avec cavité scellement époxyde • Essais électriques B8 RCLA Endurance électrique Voir le paragraphe 13.1.7 de cette spécification Informations par attributs pour B4, B5 et B8 Sévérité 1, 24 h Comme en A2 et A3 Comme en A2 et A3 168 h, conditions spécifiées aux paragraphes 12.3 et, si applicable, 12.4 de la spécification intermédiaire Voir le paragraphe 13.1.7 de cette spécification LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU B1 Publication de la CEI 748-2-6 © IEC - 37 TABLE II GROUP B Lot-by-lot (in the case of category 1, see the generic specification, subclause 2.6) Subgroup Examination or test Dimensions B2c Electrical ratings verification B4 Solderability (D) B5 Rapid change of temperature: Details and conditions 747-10, subd 4.2.2 and appendix B Limits See clause of this standard Not applicable 749, ch Ii, subd 2.1 As specified 749, ch Ill, subcl 1.1 10 cycles Good wetting a) Cavity packages Rapid change of temperature, followed by: • Electrical tests selected from A2 and A3 • Sealing, fine leak detection and • Sealing, gross leak detection As in A2 and A3 As in A2 and A3 749, ch ill, subcl 7.3 As specified or 7.4 68-2-17, test Qc As specified Rapid change of temperature, followed by: 749, ch Ill, subd 1.1 10 cycles • External visual examination 747-10, subd 4.2.1.1 • Damp heat, steady state 749, ch III, subcl 5B b) Non-cavity and epoxy- sealed cavity devices • Electrical tests B8 CRRL Electrical endurance See subclause 13.1.7 of this specification Attributes information for B4,135 and B8 Severity 1, 24 h As in A2 and A3 As in A2 and A3 168 h, conditions as specified in subdause 12.3 and, if applicable, 12.4 of sectional specification See subclause 13.1.7 of this specification LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU B1 IEC publication - 38 - 748-2-6 © CEI TABLEAU III GROUPE C Contrôles périodiques Sousgroupe Examen ou essai Publication de la CEI Détails et conditions Dimensions 747-10, par 4.2.2 et annexe B C2c Valeur limite d'énergie transitoire (si applicable) (D) A spécifier A spécifier C3 Robustesse des sorties 749, ch Il, art Comme spécifié s'il y a lieu pour le bottier C4 Résistance la chaleur de soudage 749, ch II, par 2.2 Comme spécifié C5 Variations rapides de température: a) Bottiers avec cavité Variations rapides de température suivies de: • Essais électriques choisis en A2 et A3 • Etanchéité, détection des microfuites et • Etanchéité, détection des fuites franches b) Dispositifs sans cavité et avec cavité scellement époxyde (D) Variations rapides de température, suivies de: • Examen visuel externe • Essai continu de chaleur humide • Essais électriques 749, ch Ill, par 1.1 10 cycles C6 Accélération constante (pour les dispositifs avec cavité) C7 Essai continu de chaleur humide a) Bottiers avec cavité b) Dispositifs sans cavité et avec cavité scellement époxyde (D) 749, ch III, par 7.3 ou 7.4 Comme en A2 et A3 Comme spécifié 68-2-17, essai Oc Comme spécifié 749, ch III, par 1.1 600 cycles 747-10, par 4.2.1.1 749, ch Ill, par 5B Sévérité 1, 24 h Comme en A2 et A3 749, ch Il, art Comme spécifié 749, ch Ill, par 5A Sévérité: 56 jours pour les catégories II et Ill, 21 jours pour la catégorie I Sévérité Polarisation: comme spécifié dans la spécification particulière Durée: 000 h pour les catégories 11 et III, 500 h pour la catégorie I 749, ch Ill, par 5B suivi de: -Essais électriques des sousgroupes A2 et A3 Comme en A2 et A3 Comme en A2 et A3 Comme en A2 et A3 Comme en A2 et A3 Voir le paragraphe 13.1.7 de cette spécification C8 Endurance électrique Voir le paragraphe 13.1.7 de cette spécification Durée: 000 h, conditions spécifiées aux paragraphes 12.3 et, si applicable, 12.4 de la spécification intermédiaire C9 Stockage haute température 749, ch Ill, art 000 h, Tsvmax LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Cl Limites - 39 - 748-2-6 © IEC TABLE III GROUP C Periodic Sub– group Examination or test IEC publication Details and conditions Dimensions 747-10, subd 4.2.2 and Appendix B C2c Transient energy rating (if applicable) (D) To be specified To be specified C3 Robustness of terminations 749, ch I1, d As specified where appropriate for the package C4 Resistance to soldering heat 749, ch II, subcl 2.2 As specified C5 Rapid change of temperature: a) Cavity packages Rapid change of temperature, followed by: • Electrical tests selected from A2 and A3 • Sealing, fine leak detection and • Sealing, gross leak detection b) Non-cavity and epoxysealed cavity devices (D) Rapid change of temperature, followed by: • External visual examination • Damp heat, steady state • Electrical tests 749, ch III, subcl 1.1 10 cycles C6 Acceleration, steady state (for cavity devices) C7 Damp heat, steady state a) Cavity packages b) Non-cavity and epoxy-sealed cavity devices (D) As in A2 and A3 749, ch III, subcl 7.3 or 7.4 As specified 68-2-17, test Oc As specified 749, ch III, subcl 1.1 500 cycles 747-10, subd 4.2.1.1 749, ch III, subci 5B Severity 1, 24 h As in A2 and A3 749, ch II, cl As specified 749, ch Ill, subcl SA Severity: 56 days for categories Il and III, 21 days for category I Severity Bias: as specified in the detail specification Duration: 000 h for categories I1 and III, 500 h for category I 749, ch III, subcl 5B Followed by: - Electrical tests of sub-groups A2 and A3 As in A2 and A3 As in A2 and A3 As in A2 and A3 As in A2 and A3 See subclause 13.1.7 of this specification C8 Electrical endurance See subdause 13.1.7 of this specification Duration: 000 h, conditions as specified in subclause 12.3 and, if applicable, 12.4 of sectional specification C9 Storage at high temperature 749, ch Ill, d 000 h, at 7s^9max LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU C1 Limits 748-2-6 © CEI - 40 TABLEAU Ill (suite) Sousgroupe Examen ou essai Publication de la CEI Détails et conditions Limites Permanence du marquage 749, ch IV, a rt Méthode C12 Capacité d'entrée Voir le paragraphe 6.4 de cette spécification Voir le paragraphe 6.4 de cette spécification Voir le paragraphe 6.4 de cette spécification C13 Capacité de sortie Voir le paragraphe 6.4 de cette spécification Voir le paragraphe 6.4 de cette spécification Voir le paragraphe 6.4 de cette spécification C14 Capacité d'entrée/sortie Voir le paragraphe 6.4 de cette spécification Voir le paragraphe 6.4 de cette spécification Voir le paragraphe 6.4 de cette spécification RCLA Informations par attributs pour C3, C4, C5, C6, C7, C8, C9 et C11 TABLEAU IV GROUPE D Essais d'homologation Sousgroupe D8 Examen ou essai Endurance électrique (voir note 10) Publication de la CEI Voir le paragraphe 13.1.7 de cette spécification Détails et conditions Catégorie I: non applicable Catégorie II: 000 h Catégorie Ill: 000 h Conditions: voir le paragraphe 12.3 et, si applicable 12.4, de la spécification intermédiaire Limites Voir le paragraphe 13.1.7 de cette spécification Note 10 — Les essais du groupe D doivent être initialement effectués immédiatement après l'homologation et annuellement par la suite 13.4 Livraisons différées Voir le paragraphe 3.6.7 de la Publication 747-10 de la CEI 14 Méthode de mesure supplémentaire Non appropriée LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU C11 -41 - 748-2-6 © IEC TABLE Ill (continued) Subgroup Examination or test Details and conditions IEC publication Limits Permanence of marking 749, ch IV, cl Method C12 Input capacitance See subclause 6.4 of this specification See subdause 6.4 of this specification See subdause 6.4 of this specification C13 Output capacitance See subclause 6.4 of this specification See subclause 6.4 of this specification See subdause 6.4 of this specification C14 Input/output capacitance See subclause 6.4 of this specification See subdause 6.4 of this specification See subclause 6.4 of this specification CRRL Attributes information for C3, C4, C5, C6, C7, C8, C9 and C11 TABLE IV GROUP D Qualification approval tests Sub group D8 Examination or test Electrical endurance (see note 10) IEC publication See subdause 13.1.7 of this specification Details and conditions Category I: not applicable Category II: 000 h Category III: 000 h Conditions: see subdause 12.3 and, if applicable, 12.4 of sectional specification Limits See subclause 13.1.7 of this specification Note 10 - Group D tests shall be initially performed immediately following qualification approval and annually thereafter 13.4 Delayed delivery See subclause 3.6.7 of IEC Publication 747-10 14 Additional measurement method Not appropriate LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU C11 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU ICS 31.200 Typeset and printed by the IEC Cen tral Office GENEVA, SWITZERLAND