NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-2-1 QC 790132 Première édition First edition 1991-10 Deuxième partie: Circuits intégrés numériques Section un - Spécification particulière cadre pour les portes bipolaires circuits intégrés monolithiques (non valable pour les réseaux logiques prédiffusés) Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section one - Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates (excluding uncommitted logic arrays) IEC• Numéro de référence Reference number CEI/IEC 748-2-1: 1991 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Dispositifs semiconducteurs Circuits intégrés Numbering Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées partir de 60000 As from January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series Publications consolidées Consolidated publications Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles Par exemple, les numéros d'édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant l'amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements et Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment and the base publication incorporating amendments and Validité de la présente publication Validity of this publication Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état actuel de la technique The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue Les renseignements relatifs à, des questions l'étude et des travaux en c•urs entrepris par le comité technique qui a établi cette publication, ainsi que la liste des publications établies, se trouvent dans les documents cidessous: Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: ã ôSite webằ de la CEI* • IEC web site* • Catalogue des publications de la CEI Publié annuellement et mis jour régulièrement (Catalogue en ligne)* • Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates • Bufietin de la CEI Disponible la fois au «site web» de la CEI* et comme périodique imprimé • (On-line catalogue)* IEC Bulletin Available both at the IEC web site* and as a printed periodical Terminologie, symboles graphiques et littéraux Terminology, graphical and letter symbols En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur se reportera la CEI 60050: Vocabulaire Électrotechnique International (VEI) For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV) Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et les signes d' 'sage général approuvés par la CEI, le lecteur consulterL la CEI 60027: Symboles littéraux utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles graphiques utilisables sur le matériel Index, relevé et compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: Symboles graphiques pour schémas For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams * Voir adresse «site web» sur la page de titre * See web site address on title page LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Numéros des publications CEI IEC NORME INTERNATIONALE 748-2-1 INTERNATIONAL STAN DARD QC 790132 Première édition First edition 1991-10 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Dispositifs semiconducteurs Circuits intégrés Deuxième partie: Circuits intégrés numériques Section un - Spécification particulière cadre pour les portes bipolaires circuits intégrés monolithiques (non valable pour les réseaux logiques prédiffusés) Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section one - Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates (excluding uncommitted logic arrays) © CEI 1991 Droits de reproducti on réservés — Copyright — all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher Bureau central de la Commission Electrotechnique Internationale 3, rue de Varembé Genève Suisse e-mail: I nmail(CÛiec.ch IEC web site http://www.iec.ch Téléfax: +41 22 919 0300 IEC • Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE P MexiayHapOAHaa 3nenTpoTexHH4ectias HOMHCCHA • Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- 748-2-1 © CEI COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS Circuits intégrés Deuxième partie: Circuits intégrés numériques Section un - Spécification particulière cadre pour les portes bipolaires circuits intégrés monolithiques (non valable pour les réseaux logiques prédiffusés) 1) Les décisions ou accords officiels de la CEI en ce qui concerne les questions techniques, préparés par des Comités Études où sont représentés tous les Comités nationaux s'intéressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examinés 2) Ces décisions constituent des recommandations internationales et sont agréées comme telles par les Comités nationaux 3) Dans le but d'encourager l'unification internationale, la CEI exprime le voeu que tous les Comités nationaux adoptent dans leurs règles nationales le texte de la recommandation de la CEI, dans la mesure où les conditions nationales le permettent Toute divergence entre la recommandation de la CEI et la règle nationale correspondante doit, dans la mesure du possible, être indiquée en termes clairs dans cette dernière La présente norme a été établie par le Sous-Comité 47A: Circuits intégrés, du Comité d'Etudes n° 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs Cette norme est une spécification particulière cadre pour les portes bipolaires circuits intégrés monolithiques (non valable pour les réseaux logiques prédiffusés) Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Règle des Six Mois 47/47A(BC)987/151 Rapports de vote 47/47A(BC)1033/165 47/47A(BC)1033A/165A Règle des Six Mois Rapport de vote 47A(BC)212 47A(BC)239 Les rapports de vote indiqués dans le tableau ci-dessus donnent toute information sur le vote ayant abouti l'approbation de cette norme Le numéro QC qui figure sur la page de couverture de la présente publication est le numéro de la spécification dans le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IEGQ) LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU AVANT- PROPOS 748-2-1 © IEC - 3- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section One - Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates (excluding uncommitted logic arrays) 1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense 3) In order to promote international unification, the IEC expresses the wish that all National Committees should adopt the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the latter This standard has been prepared by Sub-Committee 47A: Integrated circuits, of IEC Technical Committee No 47: Semiconductor devices This standard is a blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates (excluding uncommitted logic arrays) The text of this standard is based on the following documents: Six Months' Rule Reports on Voting Six Months' Rule Report on Voting 47/47A(C0)987/1$1 47/47A(C0)1033/165 47/47A(CO)1033A1165A 47A(C0)212 47A(C0)239 Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the Voting Repo rt s indicated in the above table The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU FOREWORD - 4- 748-2-1 © CEI Les publications suivantes de la CEI sont citées dans la présente norme: Publications n°S 68-2-17 (1978): Essais d'environnement Deuxième partie: Essais - Essai Q: Étanchéité Symboles graphiques pour schémas Douzième partie: Opérateurs logiques binaires 747-10 (1991): Dispositifs semiconducteurs Dixième partie: Spécification générique pour les dispositifs discrets et les circuits intégrés 748-1 (1984): Dispositifs semiconducteurs Circuits intégrés Première partie: Généralités Amendement (1991) 748-2 (1985): Dispositifs semiconducteurs Circuits intégrés Deuxième partie: Circuits intégrés numériques Amendement (1991) 748-11 (1990): Dispositifs semiconducteurs Circuits intégrés Onzième partie: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés semiconducteurs l'exclusion des circuits hybrides 749 (1984): QC 001002 (1986): Dispositifs semiconducteurs Essais mécaniques et climatiques Règles de procédure du système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 617-12 (1991): 748-2-1 © IEC -5- The following IEC publications are quoted in this standard: Publications Nos 68-2-17 (1978): Environmental testing Part 2: Tests - Test Q: Sealing Graphical symbols for diagrams Part 12: Binary logic elements 747-10 (1984): Semiconductor devices Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits 748-1 (1984): Semiconductor devices Integrated circuits Part 1: General Amendment (1991) 748-2 (1985): Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Amendment (1991) 748-11 (1990): Semiconductor devices - Integrated circuits Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits 749 (1984): QC 001002 (1986): Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Rules of Procedure of the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 617-12 (1991): -6- 748-2-1 © CEI DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS Circuits intégrés Deuxième partie: Circuits intégrés numériques Section un - Spécification particulière cadre pour les portes bipolaires circuits intégrés monolithiques (non valable pour les réseaux logiques prédiffusés) INTRODUCTION Cette spécification particulière cadre fait partie d'une série de spécifications particulières cadres concernant les dispositifs semiconducteurs; elle doit être utilisée avec la publication suivante de la CEI: 747-10/QC 700000: Dispositifs semiconducteurs Dixième partie: Spécification générique pour les dispositifs discrets et les circuits intégrés Renseignements nécessaires Les nombres placés entre crochets sur cette page et les pages suivantes correspondent aux indications suivantes qui doivent être portées dans les cases prévues cet effet Identification de la spécification particulière [1] Nom de l'Organisme National de Normalisation sous l'autorité duquel la spécification particulière est établie [2] Numéro IECQ de la spécification particulière [3] Numéros de référence et d'édition des spécifications générique et intermédiaire [4] Numéro national de la spécification particulière, date d'édition et toute autre information requise par le système national Identification du composant [5] Fonction principale et numéro de type [6] Renseignements sur la construction typique (matériaux, technologie principale) et le btier Si un dispositif possède plusieurs types de produits dérivés, ces différences doivent être indiquées, par exemple les particularités des caractéristiques dans un tableau comparatif Pour les dispositifs sensibles aux charges électrostatiques, les précautions nécessaires observer doivent être ajoutées dans la spécification particulière LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques fonctionne conformément aux statuts de la CEI et sous son autorité Le but de ce système est de dộfinir les procộdures d'assurance de la qualitộ de telle faỗon que les composants électroniques livrés par un pays participant comme étant conformes aux exigences d'une spécification applicable soient également acceptables dans les autres pays participants sans nécessiter d'autres essais 748-2-1 © IEC -7- SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section One - Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates (excluding uncommitted logic arrays) INTRODUCTION This blank detail specification is one of a series of blank detail specifications for semiconductor devices and shall be used with the following IEC Publication: 747-10/QC 700000: Semiconductor devices Pa rt 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits Required information Numbers shown in brackets on this and the following pages correspond to the following items of required information, which should be entered in the spaces provided Identification of the detail specification [1] The name of the National Standards Organization under whose authority the detail specification is issued [2] The IECQ number of the detail specification [3] The numbers and issue numbers of the generic and sectional specifications [4] The national number of the detail specification, date of issue and any further information, if required by the national system Identification of the component [5] Main function and type number [6] Information on typical construction (materials, the main technology) and the package If the device has several kinds of derivative products, those differences shall be indicated, e.g feature of characteristics in a comparison table If the device is sensitive to electrostatic charges, a caution statement shall be added in the detail specification LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU The IEC Quality Assessment System for Electronic Components is operated in accordance with the statutes of the IEC and under the authority of the IEC The object of this system is to define quality assessment procedures in such a manner that electronic components released by one participating count ry as conforming with the requirements of an applicable specification are equally acceptable in all other participating countries without the need for further testing –8– 748-2-1 © CEI [7] Dessin d'encombrement, identification des bornes, marquage et/ou référence aux documents correspondants pour les encombrements [8] Catégorie d'assurance de la qualité conformément au paragraphe 2.6 de la spécification générique [9] Données de référence [Les articles indiqués entre crochets sur la page suivante de cette norme, qui correspond la première page de la spécification particulière, sont destinés guider le rédacteur de la spécification; ils ne doivent pas figurer dans la spécification particulière.] [Lorsqu'il existe un risque d'ambiguïté quant savoir si un paragraphe est uniquement destiné guider le rédacteur ou non, il doit être indiqué entre crochets.] LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU - 20 - 748-2-1 © CEI Renseignements supplémentaires Ces renseignements ne sont pas applicables pour les exigences de contrôle 9.1 [A ne donner que dans la mesure où cela est nécessaire la spécification et l'utilisation du dispositif, par exemple: - courbes de réduction en température, mentionnées dans les valeurs limites; - définition complète d'un circuit de mesure ou d'une méthode supplémentaire; - dessin d'encombrement détaillé.] 9.2 Mesure des caractéristiques statiques 9.3 Mesure des caractéristiques dynamiques 9.3.1 Circuit électrique d'essai de base [A spécifier dans la spécification particulière.] 9.3.2 Circuit de charge [A spécifier dans la spécification particulière.] 9.4 Circuits de charge pour l'endurance électrique [A spécifier dans la spécification particulière.] 9.5 Tension de bruit due aux alimentations 9.6 Facteur de charge d'entrée 9.7 Capacité de sortie 9.8 Précautions de manipulation 10 Sélection (si exigé) Voir l'article de la spécification intermédiaire 11 Procédure d'assurance de la qualité 11.1 Procédure d'homologation Voir l'article de la spécification générique et le paragraphe 5.1 de la spécification intermédiaire 11.2 Procédure d'agrément de savoir-faire A l'étude LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Donner ici toutes les informations particulières autres que celles indiquées dans la spécification intermédiaire ou dans la Publication 748-2 de la CEI 748-2-1 © IEC - 21 - Additional information The information here is not for inspection purposes 9.1 [To be given only as far as necessary for the specification and use of the device, for instance: - temperature derating curves referred to in the limiting values; - complete definition of a circuit for measurement, or of an additional method; - detailed outline drawing.] 9.2 Measurement of static characteristics 9.3 Measurement of dynamic characteristics 9.3.1 Basic electrical test circuit [To be specified in the detail specification.] 9.3.2 Loading circuit [To be specified in the detail specification.] 9.4 Electrical endurance loading circuits [To be specified in the detail specification.] 9.5 Supply noise voltage 9.6 Input loading factor 9.7 Output capacity 9.8 Handling precautions 10 Screening (if required) See clause of the sectional specification 11 Quality assessment procedures 11.1 Qualification approval procedure See clause of the generic specification and subclause 5.1 of the sectional specification 11.2 Capability approval procedure Under consideration LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Any particular information other than that given in the sectional specification or in IEC Publication 748-2 shall be given here - 22 - 748-2-1 © CEI 12 Procédures d'associativité Voir l'article de la spécification intermédiaire 13 Conditions d'essai et exigences de contrôle 13.1 Généralités [Elles figurent dans les tableaux suivants, où il convient de spécifier les valeurs et les conditions exactes utiliser pour un modèle donné, conformément aux essais correspondants indiqués dans la publication applicable.] [Lorsque plusieurs dispositifs sont couverts par la même spécification particulière, il convient d'indiquer les conditions et/ou les valeurs correspondantes sur des lignes successives, en évitant autant que possible de répéter les conditions et/ou valeurs identiques.] 13.2 Exigences de prélèvements Voir l'article de la spécification intermédiaire En ce qui concerne la constitution des lots de contrôle, voir également le paragraphe 5.1.1 de la spécification intermédiaire et le paragraphe 12.2 de la Publication QC 001002 de la CEI 13.3 Séquences d'essais Les essais doivent être effectués 25 °C, sauf spécification contraire Les essais suivis de (D) sont destructifs LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU [Le choix entre les méthodes d'essais ou les variantes doit être fait lors de la rédaction de la spécification particulière.] 748-2-1 © IEC - 23 - 12 Structural similarity procedures See clause of the sectional specification 13 Test conditions and inspection requirements 13.1 General [They are given in the following tables, where the values and exact test conditions to be used shall be specified as required for a given type, and as required by the relevant test in the relevant publication.] [When several devices are included in the same detail specification, the relevant conditions and/or values should be given on successive lines, where possible avoiding repetition of identical conditions and/or values.] 13.2 Sampling requirements See clause of the sectional specification For the formation of inspection lots, see also subclause 5.1.1 of the sectional specification and subclause 12.2 of IEC Publication QC 001002 13.3 Inspection tables Tests shall be made at 25 °C, unless otherwise specified Tests marked (D) are destructive LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU [The choice between alternative tests or test methods shall be made when a detail specification is written.] - 24 - 748-2-1 © CE1 TABLEAU I GROUPE A (voir note 6) Contrôles lot par lot Sous- groupe Examen ou essai Examen visuel externe A2 Vérification de la fonction 25 °C sauf spécification contraire A2a (Non applicable la catégorie I) Vérification de la fonction aux températures minimale et maximale de fonctionnement (voir note 5) A3 Caractéristiques statiques 25 °C A3a Caractéristiques statiques aux températures minimale et Caractéristiques dynamiques 25 °C sauf spécification contraire A4a (Non applicable la catégorie I) Caractéristiques dynamiques aux températures minimale et maximale de fonctionnement (voir note 5) Limites 747-10, par 4.2.1.1 748 748-2, ch Il, art 748-2, ch III, sect un, art maximale de fonctionnement A4 Détails et conditions 748-2, ch Ill, sect un, art Conformément l'article de cette spécification Voir le paragraphe 6.1 de cette spécification Voir le paragraphe 6.1 de cette spécification A Tamb = Tub max et Tamb Les limites peuvent être différentes de celles du sous-groupe A3 Voir le paragraphe 6.2 de cette spécification Voir le paragraphe 6.2 de cette spécification A Tamb = Tamb max et Tamb Les limites peuvent être différentes de celles du sous-groupe A4 Mêmes conditions que le sous-groupe A4 ci-dessus Note – Le fabricant peut utiliser les résultats des essais 25 °C, s'il peut démontrer, périodiquement, leur corrélation avec les résultats obtenus aux deux températures extrêmes Note – Les méthodes de mesure des caractéristiques sont indiquées au chapitre IV de la Publication 748-2 de la CEI LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Al Publication de la CEI 748-2-1 © IEC - 25 TABLE GROUP A (see note 6) Lot-by-lot Subgroup Examination or test External visual examination A2 Verification of the function at 25 °C unless otherwise specified A2a (Not applicable to category I) Verification of the function at minimum and maximum operating temperatures (see note 5) A3 Static characteristics at 25 °C A3a Static characteristics at minimum and maximum operating temperatures A4 Dynamic characteristics at 25 °C unless otherwise specified A4a (Not applicable to category I) Dynamic characteristics at minimum and maximum operating temperatures (see note 5) Details and conditions Limits 747-10, subd 4.2.1.1 748-2, ch II, cl 748-2, ch Ill, sect one, d 748-2, ch Ill, sect one, cl In accordance with clause of this specification See subdause 6.1 of this specification See subdause 6.1 of this specification At Units may be different from those in subgroup A3 Tamb = TBm b lamb max and See subdause 6.2 of this specification See subcause 6.2 of this specification At Tamb = TBm b max and Tam b Limits may be different from those in subgroup A4 Same conditions as subgroup A4 above Note — The manufacturer may use test results at 25 °C if he can demonstrate, on a periodic basis, the correlation with those at the two extremes of temperature Note — The measurement methods of characteristic are stated in IEC Publication 748-2, chapter IV LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Al IEC publication 748-2-1 © CEI - 26 TABLEAU II GROUPE B Contrôle lot par lot (dans le cas de la catégorie I, voir la spécification générique, paragraphe 2.6) Sous— groupe Examen ou essai Dimensions B2c Vérification des valeurs limites électriques B4 Soudabilité (D) B5 Variations rapides de température: a) Bottiers avec cavité Variations rapides de température suivies de: • Essais électriques choisis en A2 et A3 - Etanchéité, détection des microfuites et • Etanchéité, détection des fuites franches b) Dispositifs sans cavité et Détails et conditions Limites Voir article de cette norme 747-10, par 4.2.2 et ann B Non applicable 749, ch Il, par 2.1 Comme spécifié 749, ch III, par 1.1 10 cycles Comme en A2 et A3 749, ch III, par 7.3 ou 7.4 Comme spécifié 68-2-17, essai Oc Comme spécifié 749, ch III, par 1.1 10 cycles 747-10, par 4.2.1.1 749, ch III, par 5B Sévérité 1, 24 h Etamage correct Comme en A2 et A3 avec cavité scellement époxyde (D) Variations rapides de température, suivies de: - Examen visuel externe • Essai continu de chaleur humide • Essais électriques B8 RCLA Endurance électrique Voir le paragraphe 12.3 de la spécification intermédiaire Informations par attributs pour B4, BS et 88 Comme en A2 et A3 Comme en A2 et A3 168 h, conditions spécifiées aux paragraphes 12.3 et, si applicable, 12.4 de la spécification intermédiaire Voir le paragraphe 12.3 de la spécification intermédiaire LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU B1 Publication de la CEI 748-2-1 © IEC - 27 TABLE II GROUP B Lot-by-lot (in the case of category I, see the generic specification, subclause 2.6) Sub– group Examination or test Dimensions B2c Electrical ratings verification B4 Solderability (D) B5 Rapid change of temperature: a) Cavity packages Rapid change of temperature followed by: • Electrical tests selected from A2 and A3 • Sealing, fine leak detection and • Sealing, gross leak detection b) Non-cavity and epoxysealed cavity devices (D) Rapid change of temperature, followed by: • External visual examination • Damp heat, steady state 747-10, subd 4.2.2 and app B CRRL Electrical endurance See clause of this standard Not applicable 749, ch il, subd 2.1 As specified Good wetting 749, ch Ill, subd 1.1 10 cycles As in A2 and A3 As in A2 and A3 749, ch Ill, subcl 7.3 As specified or 7.4 68-2-17, test Oc As specified 749, ch Ill, subd 1.1 10 cycles 747-10, subcl 4.2.1.1 749, ch Ill, subd 5B Severity 1, 24 h • Electrical tests B8 Limits Details and conditions See subclause 12.3 of sectional spedfication Attributes information for B4, B5 and B8 As in A2 and A3 As in A2 and A3 168 h, conditions as specified in subdause 12.3 and if applicable, 12.4 of sectional specification See subdause 12.3 of sectional specification LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU B1 IEC publication 748-2-1 © CEI -28TABLEAU III GROUPE C Contrôles périodiques Sous– groupe Examen ou essai Publication de la CEI Détails et conditions Limites 747-10, par 4.2.2 et ann B Dimensions C2c Valeur limite d'énergie transitoire (D) A spécifier A spécifier C3 Robustesse des sorties (D) 749, ch II, art Comme spécifié s'il y a lieu pour le bottier C4 Résistance la chaleur de soudage 749, ch Il, par 2.2 Comme spécifié C5 Variations rapides de température: a) Bottiers avec cavité Variations rapides de température suivies de: • Essais électriques choisis en A2 et A3 • Etanchéité, détection des microfuites et • Etanchéité, détection des fuites franches b) Dispositifs sans cavité et avec 749, ch Ill, par 1.1 10 cycles Comme en A2 et A3 749, ch III, par 7.3 ou 7.4 Comme spécifié 68-2-17, essai Oc Comme spécifié Comme en A2 et A3 cavité scellement époxyde (D) Variations rapides de 749, ch III, p ar 1.1 température, suivies de: • Examen visuel externe 747-10, p ar 4.2.1.1 • Essai continu de chaleur humide 749, ch Iii, p ar 5B • Essais électriques C6 Accélération constante (pour les bottiers avec cavité) C7 Essai continu de chaleur humide 500 cycles Sévérité 1, 24 h Comme en A2 et A3 749, ch Il, art Comme spécifié a) Bottiers avec cavité 749, ch III, par 5A b) Dispositifs sans cavité et avec cavité scellement époxyde (D) 749, ch III, par 5B Sévérité: 56 jours pour les catégories li et III, 21 jours pour la catégorie I Sévérité Polarisation: comme spécifié dans la spécification particulière Durée: 000 h pour les catégories Il et 111, 500 h pour la catégorie I suivi de: -Essais électriques des sousgroupes A2 et A3 Comme en A2 et A3 Comme en A2 et A3 Voir le paragraphe 12.3 de la spécification intermédiaire C8 Endurance électrique Voir le paragraphe 12.3 de la spécification intermédiaire Durée 000 h, conditions spécifiées aux paragraphes 12.3 et, si applicable, 12.4 de la spécification intermédiaire C9 Stockage haute température 749, ch III, art 000 h, Te,9 max C11 Permanence du marquage 749, ch IV, art Méthode RCLA Comme en A2 et A3 Informations par attributs pour C3, C4, C5, C6, C7, C8, C9 et C11 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Cl - 29 - 748-2-1 © IEC TABLE Ill GROUP C Periodic Subgroup Examination or test Details and conditions IEC publication Dimensions 747-10, subd 4.2.2 and App B C2c Transient energy rating (D) To be specified To be specified C3 Robustness of terminations (D) 749, ch il, d As specified where appropriate for the package C4 Resistance to soldering heat 749, ch 11, subcl 2.2 As specified C5 Rapid change of temperature: a) Cavity packages Rapid change of temperature followed by: • Electrical tests selected from A2 and A3 • Sealing, fine leak detection and • Sealing, gross leak detection b) Non-cavity and epoxysealed cavity devices (D) Rapid change of temperature, followed by: External visual examination • Damp heat, steady state • Electrical tests 749, ch III, subcl 1.1 10 cycles As in A2 and A3 749, ch Ili, subcl 7.3 As specified or 7.4 68-2-17, test Oc As specified 749, ch III, subcl 1.1 500 cycles 747-10, subd 4.2.1.1 749, ch Ill, subcl 5B Severity 1, 24 h As in A2 and A3 749, ch II, cl As specified a) Cavity packages 749, ch Ill, subcl SA b) Non-cavity and epoxy-sealed cavity devices (D) 749, ch Ill, subcl 5B Severity: 56 days for categories Hand 111, 21 days for category I Severity Bias: as specified in the detail specification Duration: 000 h for categories II and Ill, 500 h for category I C6 Acceleration, steady state (for cavity packages) C7 Damp heat, steady state As in A2 and A3 Followed by: -Electrical tests of sub-groups A2 and A3 As in A2 and A3 As in A2 and A3 See subdause 12.3 of sectional specification C8 Electrical endurance See subclause 12.3 of sectional spedfication Duration: 000 h, conditions as specified in subclauses 12.3 and, if applicable, 12.4 of sectional specification C9 Storage at high temperature 749, ch Ill, d 000 h, at Ts^max Cif Permanence of marking 749, ch IV, cl Method CRRL Attributes information for C3, C4, C5, C6, C7, C8, C9 and C11 As in A2 and A3 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU C1 Limits 748-2-1 © CEI - 30 TABLEAU IV GROUPE D Essais d'homologation Sous— groupe D8 Examen ou essai Endurance électrique (voir note 7) (D) Publication de la CEI Voir le paragraphe 12.3 de la spécification intermédiaire Détails et conditions Umites Note — Les essais du groupe D doivent être initialement effectués immédiatement après l'homologation et annuellement par la suite 13.4 Livraisons différées Voir le paragraphe 3.6.7 de la Publication 747-10 de la CEI 14 Méthode de mesure supplémentaire Non approprié LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Voir le paragraphe 12.3 Catégorie I: de la spécification non applicable intermédiaire Catégorie II: 000 h Catégorie III: 000 h Conditions: voir les paragraphes12.3 et, si applicable, 12.4 de la spécification intermédiaire 748-2-1 © IEC -31 TABLE IV GROUP D Qualification approval tests Subgroup D8 Examination or test Electrical endurance (see note 7) (D) IEC publication See subclause 12.3 of sectional specification Details and conditions See subclause 12.3 of sectional specification Note - Group D tests shall be initially performed immediately following qualification approval and annually thereafter 13.4 Delayed deliveries See subclause 3.6.7 of IEC Publication 747-10 14 Additional measurement method Not appropriate LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Category I: not applicable Category II: 000 h Category III: 000 h Conditions: see subclauses 12.3 and, if applicable, 12.4 of sectional specification Limits LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU ICS 31.200 Typeset and printed by the IEC Central Office GENEVA, SWITZERLAND