Sản phẩm CNT cụng nghiệp (MWNTs), dung dịch
2.3.1.Phương phỏp nhiễu xạ ti a
Phương phỏp XRD là một trong cỏc phộp đo để xỏc định cấu trỳc tinh thể và pha của vật liệu. Nguyờn lý của phộp đo dựa trờn hiện tượng cỏc chựm tia X nhiễu xạ trờn cỏc mật tinh the chat rắn, do tớnh tuần hoàn của cấu trỳc tinh thể tạo nờn cỏc cực đại và cực tiờu nhiễu xạ và tạo ành nhiễu xạ tia X trờn cỏc thiểt bị hiển thị. Qua đú cho chỳng ta cỏc thụng tin về cấu trỳc và pha của vật liệu.
Xột một chựm tia X cú bước súng Ằ chiểu tới một tinh thế chất rắn dưới gúc tới 0. Do tinh thể cú tớnh chất tuần hoàn, cỏc mặt tinh thể sẽ cỏch nhau những khoảng đều đặn d, đúng vai trũ giống như cỏc cỏch tử nhiễu xạ và tạo ra hiện tượng nhiễu xạ cựa cỏc tia X.
3 1
Hỡnh 2.5. Nhiễu xạ tia X bởi cỏc mặt phắng nguyờn tử Theo định luật Vulf-Bragg mụ tả hiện tượng nhiễu xạ tia X trờn cỏc mặt tinh thế, cỏc tia tỏn xạ sẽ cú cực đại giao thoa theo phương thoó món điều kiện phản xạ Bragg :
ÀL = 2.d.sin0 = n.A, ở đõy, n là số nguyờn nhận cỏc giỏ trị 1, 2,...
Trong đú: d : Khoảng cỏch giữa cỏc mặt mạng 0 : Gúc tới của chựm tia X n : Bậc nhiễu xạ
X : Bước súng tia X (~ 1.5417 8 Ả)
Ngoài ra, dựa trờn phố nhiễu xạ ta cũng cú thế ước lượng được kớch thước của tinh thể nhờ cụng thức Scherrer :
k. Ằ D = ——— [3. COS0
Trong đú k là hằng số thực nghiệm cú giỏ trị xấp xỉ 0,9p là độ rộng nửa đỉnh nhiễu xạ cực đại (FWHM) tớnh theo radian, D là kớch thước tinh thề và k là bước súng của tia X sứ dụng.