Kiểm chuẩn chất lượng điện thoại qua quy trỡnh giỏ húa, nhiệt độ độ ẩm (aging test) được thực hiện với mục đớch kiểm tra độ tin cậy của điện thoại trong điều kiện nhiệt độ khắc nhiệt, rỳt ngắn thời gian kiểm tra già húa so với thực tế sử dụng bờn ngoài.
Cỏc yếu tố cầu thành nờn điện thoại cú cú cỏc đặc tớnh độ bền, già húa khụng giống nhau, và được thiết lập cơ học bởi cỏc liờn kết, qua quỏ trỡnh già húa và nhiệt độ độ ẩm sẽ phỏt sinh những sai khỏc, một số linh kiện hư hỏng hoặc cong vờnh, nứt vỡ… gõy hỏng thiết bị.
Dưới đõy dẫn ra một số yờu cầu của quy trỡnh kiểm chuẩn già húa sản phẩm:
- Điều kiện nhiệt độ cỏc mức 0 0C, 10 0C, 20 0C, 30 0C, 40 0C, 50 0C (vựng trung đụng, chõu phi).
- Điều kiện độ ẩm 75 %, 80 %, 85 %, 90 %.
- Quy trỡnh cú thể chọn 50 -100 sản phẩm của một model vào phũng kiểm tra như trờn trong vũng 24h – 72 h.
- Sản phẩm sẽ được lấy ra và kiểm tra toàn bộ tớnh năng sau mỗi 2h. 3.5.4. Lỗi xảy ra ở cụng đoạn kiểm chuẩn độ tin cậy
Lỗi phỏt sinh trong quỏ trỡnh kiểm chuẩn chủ yếu do cầu trỳc cơ khớ, hoặc lắp rỏp khụng tốt, hoặc thiết bị bị rũ dũng do thiết kế khụng tốt hoặc bản thõn linh kiện khụng tốt (bị nứt vỡ), rỉ tột… gõy cỏc lỗi đa dạng như: khụng lờn nguồn, rũ dũng, dũng ngủ cao, õm thanh rố, mic hỏng, khụng nhận SIM,… Dưới đõy là một số vớ dụ điển hỡnh.
3.5.4.1. Lỗi khụng õm
* Hiện tượng (model S7562-SS): - Khụng õm loa ngoài.
- Tỉ lệ lỗi 1/5- ~ 2 %.
- Điều kiện sau thả rơi lần thư 14. * Phõn tớch
- Lực bắt vớt ok.
- Kiểm tra khối õm thanh chõn kết nối của loa ngoài (Speaker) kết nối với PBA.
- Kiểm tra cỏc kớch thước của phần kết nối FPCB & loa ngoài đều nằm trong tiờu chuẩn.
- Kiểm tra tớn hiệu phỏt ra Speaker hoạt động bỡnh thường - Loa ngoài của sản phẩm lỗi hoạt động tốt.
- Kết luận chất lượng hàn khụng tốt, cải tiến cụng đoạn hàn. 3.5.4.2. Lỗi rũ dũng
* Hiện tượng (model T621A-SS):
- Dũng rũ khi chưa sử dụng 23 mA (tiờu chuẩn 0 mA). - Dũng ngủ 35 mA (tiờu chuẩn 0.2 – 3 mA).
* Phõn tớch:
- Kiểm lịch sử sản xuất của mẫu lỗi rất tốt.
- Ngoại quan cỏc linh kiện tụ trở khụng phỏt hiện hiện tượng sai hỏng, vỡ, vụn linh kiện.
- Kiểm tra dũng bằng mỏy cấp nguồn dũng rũ 23 mA, sleep 35 mA. - Kiểm tra điện ỏp bị rũ VBAT.
- Kiểm dũng rũ từ VBAT trong đú cú 1 số tụ điện bị đỏnh thủng gõy ra hiện tượng lỗi trờn.
- Lỗi do chõt lượng tụ điện khụng đảm bảo trong điều kiện mụi trường già húa.
KẾT LUẬN
Cỏc nhà hóng sản xuất điện thoại đang phải đẩy mạnh kiện toàn hệ thống sản xuất đỏp ứng nhu cầu sản lượng, tiết kiệm thời gian sản xuất. Bờn cạnh đú, việc nõng cao chất lượng và tớnh năng tớch hợp cho cỏc model thụng minh cũng hết sức cấp bỏch và mang tớnh chiến lược. Trong tương lai chắc chăn hệ thống sản xuất cỏc thiết bị di động thụng minh sẽ kiện toàn và tăng tỉ trọng tự động bằng mỏy múc, giảm phụ thuộc vào sức người và khộo lộo đụi bàn tay. Sản phẩm sẽ tớch hợp những phỏt minh mới nhất, như: cụng nghệ màn hỡnh dẻo,
Luận văn đó nờu được cấu trỳc, nguyờn lý hoạt động của điện thoại động, nền tảng cho việc kiểm chuẩn chất lượng điện thoại. Từ đú, luận văn xoay quanh vấn đề quy trỡnh tổ chức nhằm sản xuất hàng loạt chiếc điện thoại hoàn chỉnh từ cỏc thành phần cơ bản ban đầu như: PCB, vỏ, màn hỡnh, loa, chip, tụ, trở, LED, camera,… Một số tiờu chuẩn mà bất cứ nhà mỏy sản xuất điện thoại, thiết bị điện tử thụng minh đều phải cú, vớ dụ: tiờu chuẩn tĩnh điện, quy trỡnh xử lý hàng lỗi,…
Luận văn cũng nờu được cỏc đề xuất và cải tiến thực tế trong nhà mỏy như ở cụng đoạn SMD, lắp rỏp…
Cụng đoạn kiểm chuẩn ở SMD chỉ kiểm chuẩn sau cụng đoạn căn chỉnh hoàn thiện tại nhà mỏy lắp rỏp. Thực tế đó chứng minh, chỉ kiểm chuẩn dũng điện sau khi lắp rỏp và căn chỉnh mỏy hoàn thiện mang lại hiệu quả kinh tế cao hơn và đỏp ứng yờu cầu chất lượng như ban đầu. Tại cụng đoạn căn chỉnh, một số hạng mục chỉ cần căn chỉnh đại diện ở kờnh trung tõm, và 2 kờnh ngoại biờn (dựa vào thống kờ phõn bố của cỏc hạng mục kiểm chuẩn), cỏc model ỏp dụng chuyển đổi phương thức kiểm chuẩn (dựng tệp tin model) cú thể giảm thời gian kiểm chuẩn 5-20% mà vẫn đảm bảo yờu cầu tỉ lệ lỗi. Cỏc lỗi phõn tớch do nhà cung cấp IC, linh kiện… được cải tiến và kiểm tra tỉ lệ lỗi tại nhà mỏy. Lỗi do thao tỏc nhõn viờn lắp rỏp được thống kờ để tỡm ra trọng điểm vị trớ, nguyờn nhõn, cụng đoạn, model lỗi… qua đú đối sỏch tạm thời và lõu dài, thực tế cho thấy việc quản lý tốt sẽ giảm 15 -20% tỉ lệ lỗi trong nhà mỏy.
TÀI LIỆU THAM KHẢO
Tiếng Việt
1. ACROSEMI, Cụng nghệ đúng gúi bề mặt (SMT),
www.acrosemi.com/tech_files/SMT/
2. Từ khúa: SMT, điện thoại di động
www.vi.wikipedia.org/wiki/Cong_nghe_dan_be_mat
3. Xuõn Vinh, Sổ tay sửa chữa điện thoại di động,
www.hocnghe.com.vn.
4. http://www.sammobile.com/
Tiếng Anh
1‟. 3GPP, TS 45.005 V8.8.0 & TS 34.121. 3, www.3gpp.org\
2‟. Advanced Instruments, INC, Calibration explained ,
www.aicompanies.com, www.industrialcalibration.co.uk
3‟. Key word: SMT, Calibration, 3GPP, smartphone,…,
www.wikipedia.org/wiki