Trong phần này luận văn sẽ trình bày kết quả liên quan đến vật liệu MMs có chiết suất âm. Như đã trình bày trong chương I, cấu trúc ô cơ sở của MMs có chiết suất âm gồm hai thành phần chính: thành phần từ và thành phần điện. Thành phần từ có vai trò sinh ra độ từ thẩm âm, thành phần điện có vai trò sinh ra độ điện thẩm âm. Khi hai thành phần này kết hợp với nhau chúng ta có thể thu được vật liệu có n < 0. Tuy nhiên, để thiết kế và chế tạo vật liệu có n < 0, thì vị trí tương đối của hai thành phần này đóng vai trò rất quan trọng trong việc hình thành vật liệu n < 0. Bên cạnh đó, các tham số cấu trúc của vật liệu cũng như sự phân cực của sóng điện từ ảnh hưởng mạnh đến tính chất của vật liệu.
Vật liệu MMs có chiết suất âm được thiết kế và chế tạo sử dụng hai cấu trúc khác nhau:
- MMs có chiết suất âm dựa trên cấu trúc hình phi ;
- MMs có chiết suất âm dựa cấu trúc dạng kết hợp (cặp dây kim loại bị cắt kết hợp với dây kim loại)
Hai cấu trúc vật liệu có chiết suất âm này được thiết kế dựa trên cấu trúc CWP được xem như là thành phần từ sinh ra độ từ thẩm âm kết hợp với thành phần điện gồm những dây kim loại đặt song song với nhau.
Cũng tương tự như cấu trúc CWP, sự tương tác của sóng điện từ với hai cấu trúc trên được giải thích dựa trên mô hình mạch điện LC. Để chứng minh sự tồn tại tính chất chiết suất âm của vật liệu MMs, chúng tôi sử dụng một trong hai phương pháp sau đây:
- Phương pháp phân tích thành phần: đối với phương pháp này chúng tôi sử dụng phổ truyền qua của các thành phần riêng biệt của cấu trúc (thành phần từ và thành phần điện) và so sánh với phổ truyền qua của cấu trúc tổng thể, đồng thời kết hợp với cấu trúc có thành phần từ của vật liệu được nối tắt.
- Phương pháp Robust method: phương pháp này có thể tính toán được các tham số như độ từ thẩm , điện thẩm và chiết suất dựa trên các số liệu phổ truyền qua và phản xạ thu được.
