- A12(S 4)3.18H20, H2S0498%, (Trung Quốc) Mầm zeolit ZSM5 (Pháp) có tỷ lệ Si/AI =
2. Tính chất cấu trúc của các vật liệu thu được
CL Phổ nhiễu xạ ti a X (XRD)
Các pic ở giá trị 20 thấp dùng để đặc trưng cho cấu trúc vật liệu MQTB Kết quả Hình 3 cho thấy pic nhiễu xạ ở 20 = 2,2 - 2,3° ( c ũ ) đặc trưng cho vật liệu mao quan trung bình với khoảng cách d xấp xi 40A°. Kết quả XRD cho thấy cấu trúc lập phương Ia3d VỚI hàm lượng sản phẩm cao của MCM-48 thu được (Hình 3).
Hình 3: Kết quà nhiễu xạ tia X của vật liệu MCM-48
Ket quà đo nhiễu xạ XRD của gel tổng hợp đã cho mầm ZSM-5 truớc khi kết tinh không thấy xuất hiện pic nhiều xạ. Một vùng nhiễu xạ nền ở khoảng 20° đặc trưng cho nhiễu xạ nền cùa silicat vô định hình. Hàm lượng ZSM-5 thêm làm mầm quá nhò để cỏ thể xuất hiện pic nhiễu xạ (không đưa hỉnh kết quả XRD của gel và mầm ở đây).
Hình 4 cho thấy giản đồ nhiễu xạ XRD của mẫu tổng họp đều bao gồm các pic cơ bản cỏ cường độ lởn ứng với góc 20 là : 8°, 9° và nhóm pic từ 22° - 25° đặc trưng cho ZSM-5. Tuy nhiên, các pic nhiễu xạ 8°, 9° của mẫu tổng hợp được thấp hom nhóm pic 22° - 25°, trong mẫu ZSM-5 chuẩn nhóm pic 22° * 25° cao hcm. Các pic nhiễu xạ 8°, 9° càng thấp khi so sánh với nhóm pic 22° - 25° khi tỷ lệ Si/Al trong gẹl tông hợp càng thâp, điều này liên quan tới tỷ lệ tăng lên của A I trong các mâu ZSM-5 tông hợp được. Kêt quả cho thấy đã thu được mẫu ZSM-5 với tỷ lệ S i02/A l203 tương ứng với tỳ lệ cùa gel ban đầu khoảng 40.
V**>-MW.SíHMENS 0 5 0 » U M z#am t ZSM-5