1. Sự tương tác và suy giảm của gamma khi đi qua môi trường vật chất
2.2.3.Đánh giá giới hạn phát hiện ăn mòn 1mm thép
Bức xạ phát ra mang tính chất ngẫu nhiên, và phép ghi đo gamma cũng tuân theo phân bố Gauss chuẩn, có phương sai bằng căn của giá trị trung bình:
0
σ= I (2.2)
Dựa vào tiêu chuẩn 3 sigma trong các tiêu chuẩn đánh giá số liệu Westgard, khi một giá trị đo nằm ngoài khoảng 3 của giá trị trung bình:
0 0
ΔI= I-I >3σ=3 I (2.3)
Lúc đó có thể đánh giá vị trí đó là khuyết tất, tùy theo trường hợp là ăn mòn (I >I0) hay đóng cặn (I < I0), độ tin cậy của kết quả là 99,7%.
Để đánh giá cường độ gamma tại một vị trí bất kỳ so với vị trí bình thường một cách thuận tiện, ta tính ra hệ số khác biệt về số đếm:
0 0 I-I ΔI F= = 3σ 3 I (2.4)
Nếu : F > 1: điểm bất thường F < 1: điểm bình thường
Dựa vào giá trị mô phỏng, tính toán hệ số F cho sự thay đổi 1mm thép với nguồn Se-75 và nguồn Cs-137 đối với vật liệu thép ở các bề dày khác nhau, ta được kết quả đồ thị 2.9.
26
Hình 2.9. Tỉ lệ độ thay đổi số đếm với sai số của phép đo
của đỉnh 661keV và số đếm tổng nguồn Se-75.
Trong hình 2.9 thể hiện giới hạn độ dày lớp thép che chắn ứng với ứng với độ nhạy phát hiện sự thay đổi 1mm thép của số đếm tổng nguồn Se-75 và nguồn 661 keV, giới hạn chiều dày thép ứng với độ nhạy phát hiện 1mm thép của các đỉnh như sau:
o Giới hạn lớp thép che chắn ứng với số đếm tổng nguồn Se-75 là 5,2cm o Giới hạn lớp thép che chắn ứng với đỉnh 661 keV là 5,2cm
Đồng thời có thể thấy rõ rằng hệ số khác biệt F giữa Io và I của tổng phổ Se-75 lớn hơn hẳn so với đỉnh 661 keV của Cs-137, điều đó cho thấy tổng phổ nguồn Se-75 có độ nhạy cao với sự thay đổi 1mm thép che chắn. Giới hạn độ dày thép che chắn ứng với độ nhạy phát hiện 1mm thép của một số đỉnh năng lượng khác cũng được thể hiện trong bảng 2.5 (phụ lục).