PHƯƠNG PHÁP NGHIÊN CU VÀ T HC NGHI Ệ 2.1 PH ƯƠNG PHÁP NGHIÊN C U Ứ
2.3.2. Phương pháp nhi ux ti aX (XRD) ạ
Theo lí thuyết cấu tạo mạng tinh thể, mạng tinh thể được xây dựng từ các nguyên tử hay ion phân bố đều đặn trong không gian theo một quy luật xác định. Khi chùm tia rơn ghen tới bề mặt tinh thể và đi vào bên trong mạng lưới tinh thể thì mạng lưới này đóng vai trị như một cấu tử nhiễu xạ đặc biệt. Các nguyên tử, ion bị kích thích bởi chùm tia X tới sẽ tạo thành các tâm phát ra các tia phản xạ. Mặt khác, các nguyên tử, ion này được được phân bố trên các mặt phẳng song song. Do đó, hiệu quang trình của hai tia phản xạ bất kì trên hai mặt phẳng song song. Do đó, hiệu quang trình của hai tia phản xạ bất kì trên hai mặt phẳng song song cạnh nhau được tính như sau:
Δ = BC +CD = 2dsinθ Trong đó :
D: là độ dài khoảng cách giữa hai mặt phẳng song song. θ: là góc giữa chùm tia X và mặt phẳng phản xạ.
Hình 2.3. Sự nhiễu xạ tia X trên bề mặt tinh thể
Theo điều kiện giao thoa, để các sóng phản xạ trên hai mặt phẳng cùng pha thì hiệu quang trình phải bằng số ngun lần độ dài bước sóng. Do đó:
2dsinθ = nλ (2.1)
Trong đó : λ là bước sóng của tia X N = 1,2,3, …
Đây là hệ thức Vufl – Bragg, là phương trình cơ bản để nghiên cứu cấu trúc mạng tinh thể. Căn cứ vào các cực đại nhiễu xạ trên giản đồ, tìm được 2θ. Từ đó suy ra d theo hệ thức Vufl – Bragg. So sánh giá trị d tìm được với d chuẩn sẽ xác định được thành phần cấu trúc mạng tinh thể của chất cần nghiên cứu. Vì vậy, các phương pháp này được sử dụng rộng rãi trong nghiên cứu cấu trúc tinh thể của vật chất.
Ngoài ra, phương pháp nhiễu xạ tia X còn sử dụng để tính tốn kích thước gần đúng của tinh thể. Dựa vào kết quả chỉ ra ở giản đồ nhiễu xạ tia X, ta có thể tính được cỡ hạt tinh thể theo phương trình Scherrer:
D = (2.2)
Trong đó:
D: kích thước tinh thể trung bình với góc nhiễu xạ 2θ K: hệ số hình học được chọn là 0,9
λ: bước sóng tia X, λ= 0,154nm : độ rộng tại vị trí nửa pic, radian θ: góc theo phương trình Vufl – Bragg
Các mẫu sản phẩm được ghi giản đồ nhiễu xạ tia X trên máy SIEMENS D5005 của Đức tại trung tâm hóa học vật liệu, khoa Hóa Học- trường Đại Học Tự Nhiên. Các chế độ ghi giản đồ như sau:
+ Góc quay 2θ từ 20 – 80o
+ Anot Cu với λCu = 1,54056.10-10 m
+Kích thước hạt tinh thể trung bình tính theo phương trình Scherre