Ghi nhân và đánh giá kết quả: 1.Những số liệu được ghi nhận

Một phần của tài liệu Giáo trình Kiểm tra chất lượng mối hàn theo tiêu chuẩn quốc tế (Nghề: Hàn - Trung cấp): Phần 1 - Trường Cao đẳng Kỹ thuật Nguyễn Trường Tộ (Trang 35 - 37)

5.1.Những số liệu được ghi nhận

Khi một khuyết tật được phát hiện và có thể ghi nhận thì đặc trưng sau đây của khuyết tật nên được xác định để đánh giá cho phép hay loại bỏ một khuyết tật.

- Bản chất của khuyết tật - Chiều dài của khuyết tật - Độ sâu của khuyết tật

- Chiều cao của khuyết tật theo bề dày của vật kiểm

- Khả năng phản xạ theo giá trị dB nằm trên hoặc nằm dưới DAC hoặc mức chuẩn ban đầu (PRE)

5.2 Các phương pháp xác định kích thước khuyết tật

Biên độ xung phản hồi được sử dụng để xác định kích thước cảu khuyết tật. Có ba phương pháp phổ biến để đánh giá biên độ xung phản hồi: (a) phương pháp mẫu so sánh, (b) phương pháp biểu đồ DGS, (c)phương pháp quét. Hai phương pháp đầu tiên được sử dụng để đánh giá biên độ xung phản hồi tạo ra từ những khuyết tật có kích thước nhỏ hơn kích thước của chùm tia siêu âm.

5.2.1.Phương pháp giảm 6dB:

Trình tự để xác định kích thước của một khuyết tật theo phương pháp song song với phương dịch chuyển của đầu dò, nghĩa là các định c hiều dài khuyết tật là như sau:

36

1) Tìm vị trí đặt đầu dị sao cho nhận được xung phản hồi khuyết tật có chiều cao cực đại.

2) Sử dụng núm điều chỉnh biên độ của thiết bị siêu âm để điều chỉnh chiều cao biên độ xung phản hồi đến một vạch thích hợp nào đó trên màn hình.

3) Dịch chuyển đầu dò theo một hướng ngang qua khuyết tật cho đến khi chiều cao biên độ xung phản hồi giảm đi một nửa so với chiều cao xung phản hồi ban đầu đã điều chỉnh ở (2).

4) Đánh dấu vị trí trung tâm của đầu dị trên mẫu kiểm tra tại vị trí này.

5) Dịch chuyển đầu dò theo hướng ngược lại, đi qua vi trí vừa cho xung phản hồi cực đại và lại đến vị trí khác nhận được xung phản hồi khuyết tật có chiều cao bằng một nửa xung phản hồi khuyết tật đã cho ở mục (2).

6) Đánh dấu vị trí trung tâm của đầu dị trên mẫu kiểm tra tại vị trí này.

7) Khoảng cách giữa hai điểm đánh dấu là chiều dài của khuyết tật theo phương song song với phương dịch chuyển của đầu dò.

Nếu khả năng phản hồi sóng âm từ khuyết tật bị thay đổi một cách đáng kể trong quá trình khảo sát thì phải di chuyển đầu dị sao cho đến khi nhận được xung phản hồi khuyết tật có ý nghĩa cuối cùng còn quan sát được ngay trước một xung phản hồi khuyết tật có ý nghĩa này sẽ có chiều cao bằng 100% màn hình và sau đó di chuyển đầu dị như đã hướng dẫn ở mục (3). Để tìm đầu kia của khuyết tật, cũng tiến hành cùng phương thức tương tự như vậy.

Phương pháp giảm 6dB này rất thích hợp để tìm kích thước các khuyết tật có kích cỡ tương đương hay lớn hơn chiều rộng chùm sóng âm, nhưng sẽ cho kết quả khơng chính xác khi kích thước c ủa khuyết tật nhỏ hơn chiềm rộng chùm sóng âm. Do đó, nó thường dùng để xác định chiều dài của khuyết tật, chứ ít khi dùng để xác định chiều cao của khuyết tật.

5.2.2.Phương pháp giảm 20dB

Phương pháp này rất hữu hiệu để xác định kích thước khuyết tật với nguyên tắc: cạnh của chùm sóng âm sẽ có cường độ âm giảm giảm 10% (tương đương giảm 20dB) so với cường độ tại trục trung tâm của chùm sóng âm (hình vẽ)

37

20dB như sau:

1) Đặt đầu dị ở vị trí nhận được xung phản hồi của khuyết tật lớn nhất.

2) Sử dụng núm điều chỉnh biên độ của thiết bị siêu âm để điều chỉnh chiều cao biên độ xung phản hồi đến một vạch thích hợp nào đó trên màn hình.

3) Dịch chuyển đầu dò ngang qua vùng có khuyết tật theo một hướng cho đến khi chiều cao xung phản hồi khuyết tật bị giảm xuống còn 1/10 so với chiều cao xung phản cực đại ban đầu (nghĩa là 20dB).

4) Đánh dấu vị trí điểm ra của đầu dị trên bề mặt của vật kiểm tra ở tại vị trí này. 5) Lại tiếp tục di chuyển đầu dò theo hướng ngược lại với hướng ban đầu, đi qua vị trí có xung phản hồi khuyết tật cực đại và đến một vị trí nhận được xung phản hồi khuyết tật có chiều cao cịn 1/10 chiều cao xung phản hồi khuyết tật cực đại ban đầu.

6) Đánh dấu vị trí điểm ra của đầu dị ở vị trí này. 7) Đo khoảng cách giữa hai điểm đánh dấu.

8) Xác định chiều rộng của chùm sóng âm ở độ sâu tương ứng độ sâu khuyết tật “d”, từ biểu đồ biên dạng của chùm hoặc nhờ công thức sau:

Ф = D + 2 (d – X0) tang θ

Trong đó: Ф là chiều rộng chùm sóng siêu âm D là đường kính đầu dị (phần biến tử)

d là độ sâu khuyết tật X0 là chiều dài trường gần.

9) Lấy (7) trừ (8) sẽ thu được kết quả là kích thước của khuyết tật theo phương song song với phương dịch chuyển của chùm tia siêu âm.

Một phần của tài liệu Giáo trình Kiểm tra chất lượng mối hàn theo tiêu chuẩn quốc tế (Nghề: Hàn - Trung cấp): Phần 1 - Trường Cao đẳng Kỹ thuật Nguyễn Trường Tộ (Trang 35 - 37)