2.2.2. P ơ á â í á ỏng thạch họ d ới kính hiển vi phân cực
Phương pháp phân tích lát mỏng thạch học dưới kính hiển vi phân cực là một phương pháp quan trọng để xác định các khoáng vật chính và khống vật đi kèm trong mẫu nghiên cứu. Kết quả phân tích lát mỏng cung cấp thơng tin để xác định các phân tích hóa học tiếp theo.
Trong luận văn này, các mẫu lát mỏng thạch học được chuẩn bị tại Viện Địa chất và Khống sản và phân tích tại Phòng Quang tinh, Khoa Địa chất, Trường ĐHKHTN. Các mẫu được gia cơng thành lát mỏng thạch học có độ dày tiêu chuẩn là 0,03 mm. Các khoáng vật được xác định bằng các thông số quang học của chúng ở dưới một nicon, hai nicon và các tính chất như: hình dạng tinh thể, cát khai, mặt sần, độ nổi, đa sắc, dấu kéo dài, màu giao thoa, góc tắt và quang dấu của chúng.
2.2.3. P ơ á ỳnh quang tia X (XRF)
Phương pháp huỳnh quang tia X (XRF) là kĩ thuật phân tích được sử dụng rộng rãi nhất hiện nay để xác định các nguyên tố chính và nguyên tố vết của các mẫu đá. Nó có thể phân tích đến 80 nguyên tố với phổ rộng của độ nhạy, nồng độ phát hiện từ 100% cho đến vài phần triệu. Nó là phương pháp nhanh và có thể phân tích số lượng lớn các phân tích chính xác trong khoảng thời gian tương đối ngắn. Nhược điểm chủ yếu là các nguyên tố nhẹ hơn Na (số nguyên tử = 11) không thể
Nguyên lý phát huỳnh quang tia X: Cấu tạo của vật chất bao gồm nguyên tử, và khi vật thể đó bị bắn phá bởi chùm electron hoặc tia X thì tia X với bước sóng (năng lượng) xác định sẽ phát ra từ vật thể. Khi vật liệu bị bắn phá bởi chùm electron hoặc chùm tia X, thì nó sẽ phát ra một nguồn năng lượng. Bộ detector sẽ thu lại nguồn năng lượng này, so sánh với bộ mẫu chuẩn từ đó xác định thành phần các nguyên tố.
Sử dụng phương pháp này nhằm xác định nguyên tố chính và nguyên tố vết trong mẫu pegmatit. Mẫu được phân tích tại trường Đại học Khoa học Tự nhiên bằng máy Shimadzu XRF – 1800.
2.2.4. P ơ á quang ph kế (ICP-OES)
Phương pháp ICP – OES là phương pháp xác định bằng cách đo cường độ quang học phát ra từ nguyên tử và ion của plasma.
Phương pháp được dùng để phân tích mẫu nước chứa dấu kim loại, kim loại nặng trong nước, kim loại kiềm thổ, đất hiếm và những sản phẩm xăng sinh học, mơi trường, thực phẩm, an tồn sản phẩm, dược phẩm. Phân tích đa nguyên tố 73 nguyên tố/phút, sử dụng dễ dàng.
Nguyên lý phương pháp: Mẫu được hóa lỏng, qua hệ thống bơm nhu động tạo thành khí, sau đó được bơm lên ống plasma. Tại đây, ánh sáng phát xạ sẽ được hấp thu vào cách tử nhiễu xạ, qua lăng kính, được thu lại vào bộ detector. Ở đây sẽ thực hiện các phép so sánh với bộ mẫu chuẩn cho ta kết quả.
Phương pháp nghiên cứu được áp dụng nhằm xác định thành phần hóa học của pegmatit. Các mẫu này được phân tích bằng máy Optima 7300 DV tại Trung tâm phân tích thí nghiệm Địa chất, Tổng cục Địa chất Việt Nam.