3 Các phơng pháp phân tích, đánh giá vật liệu

Một phần của tài liệu nghiên cứu quá trình trùng hợp acrylamitt và axit acrylic trong lớp nanoclay (Trang 38 - 39)

- 3400 1997 O Kamigaito (Toyota) Chế tạo nano composit MMT PP bằng phơng pháp hỗn hợp Phơng pháp cơ lý đặc biệt

2. 3 Các phơng pháp phân tích, đánh giá vật liệu

2.3.1 - Xác định trọng lợng phân tử trung bình của polyacrylamit nguyên gốc

Trọng lợng phân tử trung bình của polyacrylamit đợc xác định bằng phơng pháp đo độ nhớt, sử dụng nhớt kế Ubbelohde, tiến hành đo ở 300C. Trọng lợng phân tử trung bình đợc tính theo phơng Mark - Houwink nh sau:

[η] = K.Mα

Với: K = 6,8.10-4 và α = 0,66 ± 0,05

2.3.2 - Xác định độ trơng của sản phẩm bằng phơng pháp túi chè

Cân chính xác 50mg polyme siêu hấp thụ cho vào túi chè sau đó ngâm trong cốc đựng 500ml nớc cất hay các dung dịch muối có nồng độ khác nhau trong 8 giờ, để ở nhiệt độ phòng. Sau đó, lấy ra để ráo nớc, xác định khả năng hấp thụ nớc theo công thức sau:

Q = (m2 - m1)/m0 Trong đó:

Q: Độ trơng của polyme, g/g m0: Khối lợng polyme khô, g m1: Khối lợng túi vải, g

m2: Khối lợng túi vải và polyme sau khi trơng, g

2.3.3 - Khảo sát cấu trúc sản phẩm

2.3.3.1 - Nghiên cứu cấu trúc bằng kỹ thuật đo phổ hồng ngoại (FT - IR)

Phổ hồng ngoại đợc ghi trên máy quang phổ hồng ngoại với dải sóng từ 400 ữ

4000 cm- 1

Thiết bị phân tích: FT - IR Impact 410 Nicolet USA, Viện Khoa học Công nghệ Việt Nam.

2.3.3.2 - Nghiên cứu cấu trúc bằng phơng pháp nhiễu xạ tia X

Giản đồ nhiễu xạ tia X đợc ghi trên máy phân tích nhiễu xạ tia X với góc quét từ 20ữ 500

Thiết bị phân tích: Máy AXS SIEMENS D5005, Bruker

2.3.3.3 - Nghiên cứu cấu trúc hình thái học bằng kỹ thuật kính hiển vi điển tử quét (SEM) tử quét (SEM)

Kích thớc và hình thái học của vật liệu có thể đợc xác định bằng kỹ thuật chụp ảnh trên kính hiển vi điện tử quét phát xạ trờng (PE - SEM) với giới hạn kích thớc có thể phân biệt đợc trong phạm vi 5 ữ 10nm.

Thiết bị phân tích: Máy Hitachi S - 4800, Nhật

2.3.3.4 - Nghiên cứu thành phần, độ bền nhiệt của vật liệu bằng kỹ thuật phân tích nhiệt (TGA) phân tích nhiệt (TGA)

Nghiên cứu độ bền nhiệt trên thiết bị phân tích nhiệt DSC - TGA 131, Sertaram Labsys, Khoa hóa học, Trờng đại học Khoa học Tự nhiên, ĐHQG HN

Chế độ đo:

Nhiệt độ: từ 25 - 8000C Tốc độ nâng nhiệt: 100C/phút Môi trờng đo: Không khí

Một phần của tài liệu nghiên cứu quá trình trùng hợp acrylamitt và axit acrylic trong lớp nanoclay (Trang 38 - 39)

Tải bản đầy đủ (DOC)

(83 trang)
w