CÁC HƯ HỎNG THƯỜNG GẶP TRấN KHỐI NGUỒN ATX

Một phần của tài liệu Quy trình sửa chữa nguồn máy tính (Trang 112 - 121)

5.2.1. Bật điện nổ cầu chỡ

- Nguyờn nhõn hư hỏng: Nguyờn nhõn gõy ra hiện tượng bật điện nổ cầu chỡ trờn mạch

nguồn ATX là do phần sơ cấp của mạch nguồn gõy nờn, cỏc tụ lọc, điện trở mắc trờn mạch lọc đầu vào bị chạm chập, cỏc Varistor bảo vệ quỏ dũng quỏ ỏp bị chập, cầu đi ốt đứt hỏng. Ngoài ra hiện tượng bật điện nổ cầu chi cũn do tụ lọc mắc sau cầu đi ốt chập hỏng gõy nờn cỏc Transistor ngắt mở chạm chập cũng gõy ra nguyờn nhõn này.

- Phương phỏp tiến hành sửa chữa: Khi cú hiện tượng bật điện nổ cầu chỡ, cần phải tiến

hành kiểm tra thật kỹ lưỡng phần sơ cấp của mạch nguồn ATX phỏt hiện linh kiện hỏng rồi mới tiến hành thay thế cầu chỡ mới. Để xỏc định được nguyờn nhõn gõy ra hiện tượng bật điện nổ cầu chỡ, dựa vào mạch nguyờn lý của nguồn ATX phõn tớch hiện tượng và tiến hành đo kiểm tra phỏt hiện cỏc linh kiện hỏng. Trước hết cần phải tiến hành đo kiểm tra cỏc tụ lọc và điện trở mắc trờn mạch lọc đầu vào của nguồn, trong mạch nguồn này tụ lọc đầu vào là cỏc tụ C1, C4 (220 nF/ 275 V), kết hợp với điện trở R1 (560 KΩ), qua Varistor Z1 (bảo vệ quỏ dũng, quỏ ỏp đầu vào khi sử dụng nguồn điện lưới 220 V xoay chiều, cũn khi sử dụng điện lưới 110 V thỡ Varistor bảo vệ quỏ dũng, quỏ ỏp là V2) qua cuộn lọc nhiễu đường dõy T1, T5, qua tụ lọc C2, C3 (4.7 nF) đưa tới đầu vào xoay chiều của cầu đi ốt (D21 – D24) sử dụng đi ốt loại 1N5406, nắn một chiều qua tụ lọc C5, C6 (470 àF/ 220 V) tạo điện ỏp một chiều bằng phẳng cấp cho cỏc thành phần trong mạch nguồn. Khi một trong cỏc linh kiện này bị chạm, chập sẽ gõy ra hiện tượng ngắn mạch trờn đầu vào của nguồn và gõy ra nổ cầu chỡ. Dựng đồng hồ vạn năng đặt ở thang R x 1 tiến hành đo kiểm tra cỏc linh kiện phỏt hiện hỏng và thay thế. Vị trớ bố trớ cỏc linh kiện của mạch lọc đầu vào được mụ tả như hỡnh 5.7.

Hỡnh 5.7. Vị trớ bố trớ cỏc linh kiện của mạch lọc đầu vào

Nếu khi đo mà khụng phỏt hiện thấy cú linh kiện nào của mạch lọc đầu vào bị hỏng, tiếp tục tiến hành kiểm tra cỏc linh kiện mắc sau cầu đi ốt, Dựng đồng hồ vạn năng đo kiểm tra hai tụ lọc C5, C6 (470 àF/ 220 V) xem cú bị chập thủng hay khụng, nếu hai tụ này khụng chập, thủng, kiểm tra hai điện trở phõn ỏp mắc ngay sau hai tụ C5, C6. Hai điện trở R2, R3 (220 KΩ) này cú nhiệm vụ chia đều điện ỏp trờn hai đầu của tụ, nếu một trong hai điện trở này đứt dẫn đến điện ỏp trờn hai đầu tụ C5, C6 sẽ bị lệch, khi đú một trong hai tụ C5 hoặc C6 sẽ chịu điện ỏp lớn hơn dẫn đến tụ bị đỏnh thủng và gõy ra ngắn mạch, nổ cầu chỡ. Kinh nghiệm cho thấy khi kiểm tra phỏt hiện tụ lọc nguồn DC C5, C6 bị chập, thủng thỡ thưũng một trong hai điện trở mắc sau tụ lọc bị hỏng. Chỳ ý: Khi nguồn cú hiện tượng bật điện nổ cầu chỡ, nếu phỏt hiện thấy tụ lọc nguồn hỏng trước khi thay thế tụ cần phải kiểm tra kỹ hai điện trở phõn ỏp mắc sau tụ. Nếu khụng khi thay thế tụ mới vỡ điện trở phõn ỏp mắc sau tụ hỏng sẽ dẫn đến hỏng tụ mới thay đồng thời dẫn đến hỏng cầu chỡ.

Sau khi đó tiến hành đo mạch lọc đầu vào, cỏc tụ lọc một chiều và điện trở mà vẫn khụng phỏt hiện thấy cú linh kiện nào hỏng, cần phải tiến hành đo cặp Transistor ngắt mở, khi hai Transistor ngắt mở này chập hỏng cũng dẫn đến nguyờn nhõn bật điện nổ cầu chỡ. Đặt thang đo của đồng hồ vạn năng về thang R x 10 đo kiểm tra Transistor ngắt mở Q1, Q2 (2SC4242) xem cú chập C - E khụng, phỏt hiện Transistor hỏng thay thế bằng linh kiện mới. Kiểm tra hai đi ốt D1, D2 (FR155) xem cú bị đỏnh thủng khụng, khi hai đi ốt này thủng dẫn đến mạch nguồn bị ngắn mạch gõy ra nổ cầu chỡ. Vị trớ của Transistor Q1, Q2 và đi ốt D1, D2 được mụ tả như hỡnh 5.8.

Hỡnh 5.8. Vị trớ của Transistor Q1, Q2 và đi ốt D1, D2

5.2.2. Mất dao động khụng cú điện ỏp ra

- Nguyờn nhõn hư hỏng: Mạch dao động của nguồn ATX được thiết kế rất phức tạp, đõy

chớnh là một trong những thành phần khú sửa chữa nhất của mạch nguồn do đú yờu cầu cần phải nắm vững nguyờn lý làm việc của nguồn ATX mới cú thể sửa chữa được. Cũng giống như nguồn AT nguyờn nhõn gõy ra hiện tượng mất dao động của nguồn ATX cũng cú nhiều. Cú thể liệt kờ ra đõy một số nguyờn nhõn chủ yếu dẫn đến hiện tượng mất dao động:

- Chập tải tại đầu ra của nguồn ATX.

- Mạch dao động ngắt mở tại tầng sơ cấp của nguồn bị hỏng. - IC dao động hỏng.

- Cỏc linh kiện mắc xung quanh IC dao động hỏng.

- Phương phỏp tiến hành sửa chữa:

+ Kiểm tra tải: Khi cú sự cố trờn đầu ra của nguồn ATX, mạch bảo vệ sẽ làm việc và cắt

dao động, nguồn khụng làm việc. Đầu ra của biến ỏp ngắt mở cung cấp cỏc điện ỏp ± 5 V và ± 12 V đồng thời cấp một đường điện ỏp + 5 V đưa tới đi ốt D29 nắn một chiều tạo ra điện ỏp + 3.3 V và được ổn ỏp bởi mạch ổn ỏp + 3.3 V sử dụng IC TL 431 C để tạo ra điện ỏp ổn ỏp + 3.3 V trờn đầu ra của nguồn. Để kiểm tra cỏc đi ốt nắn dựng đồng hồ vạn năng đặt ở thang đo R x 1 kiểm tra cỏc đi ốt D18, SBD1, cỏc đi ốt nắn trờn cỏc đầu ra õm – 12 V và õm - 5 V, đi ốt nắn D29 tại đầu ra + 3.3 Vxem cú hỏng khụng, kiểm tra cỏc cuộn dõy từ L1 đến L4, tụ lọc C27, C30, C35, điện trở R50, R52, R5 nếu phỏt hiện một trong cỏc linh kiện này hỏng, thay thế. Sau khi thay linh kiện hỏng xong,

dựng một dõy kim loại nối hai chõn 14 và 15 trờn đầu ra của nguồn lại với nhau, cắm điện nguồn, nếu thấy quạt quay và đo điện ỏp tại cỏc đầu ra đủ chứng tỏ nguồn đó hoạt động tốt. Nếu khi đo kiểm tra mà khụng phỏt hiện thấy cú linh kiện nào hỏng cần phải tiến hành kiểm tra IC ổn ỏp + 3. 3 V là IC TL 431C. Phỏt hiện hỏng, thay thế, nếu IC khụng hỏng đo kiểm tra cỏc linh kiện mắc xung quanh IC phỏt hiện hỏng, thay thế. Sau khi thay linh kiện hỏng cũng tiến hành thử nguồn như đó nờu ở trờn. Hỡnh 5.9 mụ tả vị trớ kiểm tra cỏc linh kiện trờn đầu ra của nguồn ATX.

Hỡnh 5.9. Mụ tả vị trớ kiểm tra cỏc linh kiện trờn đầu ra của nguồn ATX

Điểm kiểm tra

+ Kiểm tra mạch dao động ngắt mở tại tầng sơ cấp của nguồn: Khi bật nguồn, điện ỏp 220 V xoay chiều qua cỏc mạch lọc đầu vào đưa tới cầu đi ốt gồm cỏc đi ốt (từ D21 đến D24) nắn một chiều qua cỏc tụ lọc C5, C6 (470 àF/ 220 V), điện trở R2, R3 (220 KΩ) tạo ra điện ỏp một chiều bằng phẳng. Một phần điện ỏp qua điện trở R55 (220 KΩ/1W), và điện trở R56 (150 Ω) được đưa tới Bazơ Transistor Q12 (C3457). Transistor Q12 cú nhiệm vụ điều khiển nguồn hoạt động. Khi Transistor này hoạt động sẽ cú một dũng điện cảm ứng trờn biến ỏp T6, điện ỏp trờn đầu ra của biến ỏp T6 được nắn bởi đi ốt D28 và D30, điện ỏp sau khi đó được nắn bởi đi ốt D28 cấp cho IC3, là IC ổn ỏp 7805 tạo ra điện ỏp + 5 VSB, điện ỏp ổn ỏp + 5 V từ IC3 qua điện trở R23 (4.7 KΩ) tạo thành mức lo gic 1 tại đầu PS - ON của bộ nguồn, khi đú nguồn ở trạng thỏi tắt. Điện ỏp được nắn bởi đi ốt D30 đưa tới chõn 12 của IC1 (TL 494) cấp nguồn nuụi cho IC này. Khi nhấn cụng tắc nguồn trờn mặt trước của CPU mỏy tớnh, cú nghĩa là nối tắt chõn PS - ON với đất sẽ tạo ra mức lo gic 0, tớn hiệu điều khiện qua điện trở R31 (10 KΩ) đưa tới Bazơ của Transistor Q10 (C945) làm cho Transistor này khoỏ, và dẫn đến khoỏ Transistor Q1 ( A733) đưa vào chõn 13, 14, 15 của IC1, một phần tớn hiệu qua điện trở R24 (3.1 KΩ) đưa vào chõn 2 của mạch khuếch đại dũ sai thứ nhất trong IC1, đồng thời qua điện trở R18 (27 KΩ), qua tụ C1 (10 nF) đưa tới chõn 3 IC1, đầu vào mạch so sỏnh PWM, điều khiển IC1 hoạt động. Lỳc này tại đầu ra của IC1 chõn 8, 11 sẽ cú tớn hiệu điều khiển đưa tới hai Transistor Q3, Q4 (là hai Transistor tạo dao động). Tại phần thứ cấp của biến ỏp T2 sẽ cú điện ỏp cảm ứng từ phần sơ cấp của biến ỏp đưa sang và cấp cho Colector hai Transistor ngắt mở Q1, Q2 (2SC4242). Khi hai Transistor ngắt mở Q1, Q2 làm việc tạo điện ỏp cảm ứng trờn cuộn thứ cấp biến ỏp T3 và ổn định điện ỏp đầu ra của nguồn, trờn đầu ra của nguồn sẽ cú cỏc điện ỏp ra. Để tiến hành kiểm tra mạch dao động ngắt mở tại tầng sơ cấp của nguồn trước hết ta tiến hành kiểm tra hai Transistor ngắt mở Q1, Q2 xem cú tốt hay khụng, vỡ đõy là hai thành phần chủ yếu hay hỏng nhất trờn mạch nguồn. Đặt thang đo của đồng hồ vạn năng về thang R x 10 đo kiểm tra nếu phỏt hiện linh kiện hỏng, thay thế. Nếu hai Transistor Q1, Q2 khụng hỏng kiểm tra cỏc điện trở phõn ỏp R6 (2.2 Ω), R8 (2.7 KΩ), R10(2.2 Ω), R12 (2.7 KΩ) xem cú hỏng khụng. Đõy là cỏc điện trở phõn ỏp cấp vào Bazơ của Transistor Q1, Q2. Nếu khụng hỏng đo kiểm tra hai đi ốt D1, D2 (FR155) xem cú chập, hỏng hay khụng. Thay thế bằng đi ốt mới. Trường hợp ngược lại dựng đồng hồ vạn năng đặt ở thang R x 1 đo kiểm tra cỏc linh kiện mắc xung quanh tầng dao động ngắt mở phỏt hiện linh kiện hỏng và thay thế. Hỡnh 5.10 mụ tả vị trớ kiểm tra cỏc linh kiện mắc trong mạch dao động ngắt mở.

Hỡnh 5.10. Mụ tả vị trớ kiểm tra cỏc linh kiện mắc trong mạch dao động ngắt mở. Sau khi đó hoàn thành việc sửa chữa, lắp rỏp lại mạch hoàn chỉnh, hàn chặt cỏc linh kiện , bật nguồn để kiểm tra lại, chắc chắn rằng nguồn đó hoạt động tốt. Nếu khi tiến hành kiểm tra mà vẫn khụng phỏt hiện được linh kiện hỏng trong mạch dao động ngắt mở, tiến hành kiểm tra IC dao động.

+ Kiểm tra IC dao động: Khi IC dao động hỏng, mất dao động, nguồn sẽ khụng làm

việc. Trong mạch nguồn ATX này IC dao động cũng sử dụng loại IC kiểu TL 494. Khi IC dao động IC1 hỏng trờn đầu ra của IC1 chõn 8 và chõn 11 khụng cú tớn hiệu điều khiển làm cho hai Transistor Q3, Q4 khụng hoạt động, khi hai Transistor này ngừng hoạt động kộo theo cặp Transistor ngắt mở khụng làm việc mất điện ỏp tại đầu ra, nguồn tắt. Để kiểm tra IC dao động cú tốt khụng, dựng một nguồn + 12 V cấp vào chõn 12 của IC dao động dựng mỏy hiện súng kiểm tra tại chõn 8, và 11 của IC dao động xem cú tớn hiệu khụng, nếu khụng cú chắc chắn IC dao động đó hỏng cần phải thay thế bằng một IC khỏc. Nếu IC dao động khụng hỏng dựng đồng hồ vạn năng đặt thang đo về thang R x 1 đo kiểm tra đi ốt mắc từ đầu ra + 12 V của nguồn đưa về chõn 12 của IC1 xem cú tốt khụng, nếu đi ốt này hỏng mất nguồn cấp cho IC dao động, thay thế bằng một đi ốt khỏc. Hỡnh 5.11 mụ tả vị trớ cấp nguồn + 12 V cho IC dao động.

Hỡnh 5.11. Mụ tả vị trớ cấp nguồn + 12 V cho IC dao động

+ Kiểm tra cỏc linh kiện mắc xung quanh IC dao động: Khi cỏc linh kiện mắc xung

quanh IC dao động bị hỏng, dẫn đến mạch dao động làm việc sai IC dao động ngừng làm việc mạch nguồn tắt. Dựng đồng hồ vạn năng đặt ở thang R x 1 đo cỏc điện trở R18 (27 KΩ), R16 (12 KΩ), cỏc tụ C1 (10 nF), C11 (1.5 nF) xem cú hỏng khụng, kiểm tra hai Transistor Q3, Q4 (C945) xem cú hỏng khụng và cỏc đi ốt mắc trong mạch điều khiển. Nếu phỏt hiện hỏng thay thế bằng một linh kiện mới. Hỡnh 5.12 mụ tả vị trớ linh kiện mắc trong mạch dao động.

Hỡnh 5.12. Mụ tả vị trớ linh kiện mắc trong mạch dao động

5.2.3. Nguồn ra thấp hơn bỡnh thường

- Nguyờn nhõn hư hỏng: Nguyờn nhõn này gõy ra do cỏc đi ốt nắn tại đầu ra của biến ỏp (adsbygoogle = window.adsbygoogle || []).push({});

T3 bị chạm chập, cỏc tụ lọc, và điện trở mắc sau đi ốt nắn chạm chập gõy nờn. Khi cỏc đi ốt nắn bị chạm chập điện ỏp trờn đầu ra bị chạm chập sẽ giảm đi một nửa. Để kiểm tra cỏc linh kiện này đặt thang đo của đồng hồ vạn năng về thang R x 1 đo cỏc đi ốt nắn, tụ lọc, điện trở tại cỏc đầu ra của biến ỏp T3. Phỏt hiện linh kiện hỏng và thay thế. Ngoài ra nguyờn nhõn nguồn ra thấp hơn bỡnh thường cũng cú thể do cỏc điện trở mắc trờn mạch hồi tiếp bị hỏng, khi cỏc điện trở này hỏng, vỡ một lý do nào đú mà điện ỏp lưới đưa vào nguồn giảm, hoặc tải tăng, khiến cho đầu ra của nguồn bị giảm theo. Nếu mạch hồi tiếp tốt thỡ khi điện ỏp lưới giảm, hoặc tải tăng. Điện ỏp hồi tiếp được đưa qua cỏc điện trở R25 (27 KΩ), R26 (5.6 KΩ), R20 (3.9 KΩ), R21 (150 KΩ) đưa tới chõn 1 của IC1 (TL494), đõy là đầu vào của mạch khuếch đại dũ sai thứ nhất, làm cho chõn 1 giảm điện ỏp, dẫn đến sự chờnh ỏp giữa chõn 1 và chõn 2 của IC1, điện ỏp này tỏc động vào mạch điều biến độ rộng xung mắc trong IC1, làm cho độ rộng xung tại chõn 8, và 11 rộng hơn so với trước, kết quả là điện ỏp được nõng lờn, cho đến khi chõn 1 và chõn 2 của IC1 bằng nhau. Giữ ổn định điện ỏp ra. Như vậy khi cỏc điện trở R25, R26 bị hỏng dẫn đến mạch hồi tiếp khụng làm việc, điện ỏp đầu ra bị thay đổi.

Dựng đồng hồ vạn năng đo kiểm tra cỏc điện trở R25, R26 cú đứt khụng, nếu hỏng thay bằng điện trở khỏc cú cựng trị số. Nếu khụng tiếp tục kiểm tra tiếp hai điện trở R20, R21 phỏt hiện hỏng và thay thế. Hàn chặt cỏc linh kiện, bật điện kiểm tra để chắc chắn mạch nguồn đó làm việc tốt. Hỡnh 5.13 mụ tả vị trớ của cỏc điện trở mắc trong mạch hồi tiếp.

Hỡnh 5.13. vị trớ của điện trở mắc trong mạch hồi tiếp

5.2.4. Nguồn ra cao hơn bỡnh thường

- Nguyờn nhõn hư hỏng: Do IC dao động IC1 làm việc sai, hoặc mạch hồi tiếp hỏng, cỏc

điện trở mắc trờn mạch hồi tiếp sai trị số. Xột trường hợp nguyờn nhõn gõy ra do mạch hồi tiếp, khi mạch hồi tiếp hoạt động đỳng, ở thời điểm ban đầu khi cú nguồn điện lưới cấp cho mạch nguồn, mạch nguồn hoạt động và cú cỏc điện ỏp cấp ra trờn đầu ra của nguồn. Điện ỏp hồi tiếp đưa qua điện trở R25, R26, R20, R21 tới chõn 1 của IC1. thụng qua mạch điều biến độ rộng xung mắc trong IC1 điều khiển độ rộng xung tại chõn 8, và chõn 11 của IC1 ổn định điện ỏp tại đầu ra, vỡ một nguyờn nhõn nào đú mà mạch hồi tiếp hỏng, khi cú sự thay đổi điện ỏp trờn lưới điện do mạch hồi tiếp hỏng dẫn đến mạch điều biến độ rộng xung của IC 1 khụng làm việc và khụng ổn định được điện ỏp ra.

Trường hợp do mạch hồi tiếp sai trị số làm thay đổi điện ỏp đưa vào chõn 1 IC1 và làm cho độ rộng xung tăng, cấp cho phần tử ngắt mở một tớn hiệu cú tần số tăng làm cho nguồn hoạt động mạnh lờn và điện ỏp tại cỏc đầu ra của biến ỏp sẽ tăng theo.

- Phương phỏp sửa chữa:

Dựng đồng hồ vạn năng đặt ở thang R x 1 kiểm tra cỏc linh kiện mắc xung quanh IC dao động xem cú hỏng khụng, nếu khụng hỏng kiểm tra mạch hồi tiếp, kiểm tra cỏc điện trở R25, R26, R20, R21 xem cú hỏng khụng. Nếu phỏt hiện linh kiện hỏng, thay thế bằng một linh kiện mới. Xem sơ đồ nguyờn lý để kiểm tra cỏc linh kiện mắc xung quanh

Một phần của tài liệu Quy trình sửa chữa nguồn máy tính (Trang 112 - 121)