Đo kiểm tra hệ thống

Một phần của tài liệu đo thử trên hệ thống thông tin quang dwdm (Trang 71 - 72)

a. Hiệu ứng SPM

3.6 Đo kiểm tra hệ thống

Tiếp theo đây sẽ là danh sách các phép đo kiểm tra hệ thống dựa trên những thiết bị do nhà sản xuất cung cấp và các nhà vận hành mạng khuyến nghị để đảm bảo cung cấp dịch vụ và các thiết bị hoạt động với chất lợng tốt nhất. Các phép đo này sử dụng các công nghệ và các giá trị định nghĩa trong các mục đo phía trên.

3.6.1 Đo tần số trung tâm

Tần số trung tâm là bớc sóng hoặc mức công suất tại đỉnh phát xạ. Các hệ thống đơn kênh sử dụng các tần số trung tâm trong một dải bớc sóng làm việc của mạng quang. Các tần số trung tâm của các hệ thống đa kênh bị hạn chế về một màu cụ thể (bớc sóng cụ thể) vào 50 GHz khung 0,4 nm hoặc 100 GHz khung 0,8 nm. Bắt đầu từ tần số 193,1 THz (xem bảng 1.2 trang 5 về khung các kênh của ITU-T). Tần số trung tâm đợc đo với một máy phân tích phổ quang hay một dụng cụ đo bớc sóng.

3.6.2 Đo công suất phát trung bình

Công suất phát trung bình là giá trị trung bình của công suất của tín hiệu quang, đo bằng dBm khi tín hiệu phía phát là một chuỗi bit giả ngẫu nhiên (PRBS). Công

suất phát trung bình thờng đợc đo với một bộ tạo tín hiệu mẫu nh một máy BERT hay một máy kiểm tra đờng truyền và một đồng hồ đo công suất.

3.6.3 Đo tỷ số phân biệt

Tỷ số phân biệt (EX) là một phép đo độ sâu điều chế của nguồn phát. EX chỉ ra mối quan hệ giữa công suất của logic 1 với công suất của logic 0 sử dụng công thức:

10 (log (E1/E0))

Với E1 là công suất của logic 1 và E0 là công suất của logic 0.

EX là tỷ số trung bình đo đợc khi phát một chuỗi bit giả ngẫu nhiên (PRBS). Các phép đo EX rất khó thực hiện. Rất khó đảm bảo mức giá trị không hay mức tối của laser trớc khi có đợc phép đo EX. EX đợc đo với một máy hiện sóng và máy thu OE tham chiếu.

3.6.4 Đo mặt nạ biểu đồ mắt

Đo tra mặt nạ biểu đồ mắt cho phép đặc tính hoá thời gian lên và thời gian xuống, nhiễu và trôi pha. Tất cả các tham số này có thể thu đợc chỉ với một phép đo. Nhờ so sánh mặt nạ biểu đồ mắt với một mặt nạ tham chiếu có thể đánh giá đợc toàn bộ chất lợng của dạng sóng phát qua một phép đo.

Một phần của tài liệu đo thử trên hệ thống thông tin quang dwdm (Trang 71 - 72)

Tải bản đầy đủ (DOC)

(77 trang)
w