Thí nghiệm được tiến hành theo tiêu chuẩn: IEC 1331 - 1: 1994 với chùm tia rộng bố trí như trên (hình 2.6) và chùm tia hẹp như trên (hình 2.7)
1 5 0 0 b w w A
BEAM LIMITING SYSTEM (Giới hạn chùm tia) Test object (Vật mẫu) DIAPHRAGM (Giới hạn chùm tia rộng) RADIATION DETECTOR (Vị trí máy đo Kerma)
Kcc Ks Ko, Kl Kls Kc Máy phát tia X Hình 2.6. Bố trí thí nghiệm chùm tia rộng Trong đó:
*Kl là vị trí đặt tâm đầu dò DETECTOR:
Nằm trên đường nối tiêu điểm chính của chùm tia rộng với tâm của vị trí mẫu thử. Cách mặt mẫu: b = 50mm.
Cách tường: w = 700mm
* Ko là vị trí đặt tâm đầu dò DETECTOR (khi không có mẫu thử):
Nằm trên đường nối tiêu điểm chính của chùm tia rộng với tâm của vị trí mẫu thử (khi có mẫu thử)
Cách mặt mẫu: b = 50mm. Cách tường: w = 700mm
* Kc là vị trí đặt tâm đầu dò DETECTOR:
Nằm trong khoảng từ máy phát tia X đến mẫu thử (gần máy phát tia X hơn), trong đoạn nối tiêu điểm chính của chùm tia rộng với tâm của vị trí mẫu thử.
* Kcc là vị trí đặt tâm đầu dò DETECTOR:
Nằm trong khoảng từ máy phát tia X đến mẫu thử (gần máy phát tia X hơn) nhưng nằm ngoài chùm tia.
Khoảng cách từ Kc đến máy phát tia X và khoảng cách từ Kcc đến máy phát tia X là như nhau.
Trong suốt quá trình đo thí nghiệm phải đảm bảo: Kcc ≤ 0,05*Kc * Kls là vị trí đặt tâm đầu dò DETECTOR (khi không có mẫu thử)
Nằm trong giới hạn chùm tia rộng, nhưng ngoài khoảng từ máy phát tia X đến mẫu thử.
Cách mặt dưới mẫu thử: b = 50mm. Cách tường: w = 700mm.
* Ks là vị trí đặt tâm đầu dò DETECTOR:
Nằm ngoài giới hạn mẫu thử chùm tia rộng và ngoài khoảng từ máy phát tia X đến mẫu thử.
Cách mặt dưới mẫu thử: b = 50mm. Cách tường: w = 700mm.
Trong suốt quá trình đo thí nghiệm phải đảm bảo: Ks ≤ 0,01*Kls
* Khoảng cách từ bề mặt mẫu thử đến máy phát tia X: 1500mm * A là đường kính giới hạn chùm tia rộng dưới mẫu thử: A = 200mm