Hình 3.2 Phương pháp chụp ảnh nhiệt
Hình 3.2 minh họa phương pháp đo nhiệt sử dụng chụp ảnh nhiệt. Một máy ảnh nhiệt ghi lại sự phân bố nhiệt độ trên bề mặt của phôi. Trong hình, kết quả được so sánh với
35
dự đoán từ mô phỏng FEM. Kỹ thuật này đưa ra một hình ảnh toàn bộ về trường nhiệt độ bao gồm cả những khu vực lân cận khu vực mài. Tuy nhiên, phương pháp này ít sử dụng để xác định chính xác nhiệt độ của điểm tiếp xúc trong quá trình mài.
Phương pháp chụp ảnh nhiệt có ưu thế là xác định được nhiệt độ tại lớp dưới bề mặt. Trường nhiệt độ được minh họa thông qua việc đọc dữ liệu trực tiếp trong suốt quá trình mài. Một bất lợi của phương pháp này là việc camera ghi lại bức xạ nhiệt từ một mặt phẳng đứng phía vuông góc với vùng tiếp xúc. Sự có mặt của chất lưu động có thể ảnh hưởng đến bức xạ và do đó ảnh hưởng đến việc ghi lại bức xạ. Ngoài ra, nhiệt độ đo trong mặt phẳng có thể không phải là tiêu biểu cho nhiệt độ trung tâm bên trong vùng tiếp xúc. Sự đối lưu nhiệt trong quá trình mài xảy ra trên bề mặt bên của phôi, trong khi đó ở mặt phẳng trung tâm của phôi sự truyền nhiệt xảy ra hai chiều.
Hình 3.3 Phương pháp sử dụng transistor quang
Hình 3.3 minh họa việc sử dụng một transistor quang (4) ghi lại bức xạ hồng ngoại từ vùng mài thông qua một lỗ (2) được thực hiện trong đá mài. Dòng điện được tạo ra bởi transistor quang tỷ lệ thuận với cường độ bức xạ hồng ngoại. Các tín hiệu được điều khiển bởi một bộ khuếch đại (6) và gửi đến một thiết bị thu (7). Phương pháp này cung cấp tín hiệu gần như không có nhiễu, nhưng lại nảy sinh vấn đề khác. Phương pháp này chỉ hoạt động tốt trong mài khô. Trong mài ướt, phoi và chất lỏng lấp đầy lỗ đo, dẫn đến mất tín hiệu đầu ra. Rất khó tạo lỗ trong đá mài cũng như đồi hỏi sự can thiệp từ các nhà
36
sản xuất đá mài. Việc kiểm soát sự thay đổi kích thước lỗ và góc độ nghiêng là rất khó. Thời gian xử lí tín hiệu phụ thuộc vào tốc độ đá mài và đường kính lỗ.
