- Trống quay được làm bằng hợp kim Cu/Cr, đường kính 300 mm.
2.2.Phân tích cấu trúc bằng phương pháp nhiễu xạ ti a
Nhiễu xạ tia X (XRD – X-ray Diffraction) là một trong những phương pháp hiệu quả và được sử dụng rộng rãi nhất trong nghiên cứu cấu trúc tinh thể của vật liệu. Nguyên lý của phương pháp dựa trên việc phân tích các ảnh nhiễu xạ thu được của tia X sau khi tương tác với mẫu.
Xét sự phản xạ của một chùm tia X trên hai mặt phẳng mạng song song và gần nhau nhất với khoảng cách d. Tia X có năng lượng cao nên có khả năng xuyên sâu vào vật liệu và gây ra phản xạ trên nhiều mặt phẳng mạng tinh thể ở sâu phía dưới. Từ hình vẽ ta thấy hiệu quang trình giữa hai phản xạ 1’ và 2’ từ hai mặt phẳng liên tiếp bằng 2dsin. Điều kiện để có hiện tượng nhiễu xạ được đưa ra bởi phương trình Bragg:
2dsin = n (2.1) Từ phương trình 2.1 ta thấy nhiễu xạ của mỗi mẫu sẽ thể hiện các đặc trưng cơ bản của tinh thể mẫu đó. Qua giản đồ nhiễu xạ tia X ta có thể xác định được các đặc tính cấu trúc của mạng tinh thể như kiểu mạng, thành phần pha tinh thể, độ kết tinh, các hằng số cấu trúc. Mặt khác, nhờ độ bán rộng của các đỉnh nhiễu xạ ta có thể tính được gần đúng kích thước hạt tinh thể trong mạng bằng công thức Scherrer:
D = 0,9
os( )
c
(2.2)
Trong đó: là bước sóng kích thích của tia X ( = 0,5406 0 A). là góc nhiễu xạ Bragg.
(rad) là độ bán rộng của đỉnh nhiễu xạ.
Hình 2.6. Thiết bị Siemen D-5000.
Các phép đo và phân tích nhiễu xạ tia X được thực hiện trên thiết bị Siemens D- 5000 với bức xạ Cu-K đặt tại phòng phân tích cấu trúc tia X thuộc Viện Khoa học Vật liệu, Viện Khoa học và Công nghệ Việt Nam (hình 2.6).