Theo truyền thống nhiều vấn đề phân loại cố gắng giải quyết tình huống hai hoặc phân loại nhiều lớp và mục tiêu của ứng dụng học máy là phân biệt dữ liệu kiểm thử giữa một số lớp sử dụng dữ liệu huấn luyện. Nhưng điều gì sẽ xảy ra nếu bạn chỉ có dữ liệu của một lớp và mục tiêu là kiểm tra dữ liệu mới và tìm hiểu xem nó có giống hay không giống với dữ liệu huấn luyện. Một phương pháp cho nhiệm vụ này đã trở nên phổ biến là máy véc tơ hỗ trợ một lớp (One-class Support Vector Machine). Ví dụ hãy tưởng tượng một loại thiết lập của nhà máy với các máy sản xuất rất lớn dưới sự giám sát của một số hệ thống tiên tiến và nhiệm vụ của hệ thống giám sát
là xác định khi có sự cố xảy ra, chất lượng của các sản phẩm có dưới chuẩn chất lượng không, các máy có tạo ra rung động gì lạ không hoặc một cái gì đó làm nhiệt độ tăng lên không? Việc thu thập dữ liệu huấn luyện về các tình huống tương đối dễ dàng do nó chỉ là trạng thái hoạt động bình thường nhưng mật khác dữ liệu huấn luyện thu thập từ các trạng thái bị lỗi là khá tốn kém và đôi khi là không thể thực hiện được. Để đối phó với vấn dề này, các giải pháp phân loại một lớp (one-class) được giới thiệu bằng cách chỉ cung cấp dữ liệu huấn luyện bình thường và thuật toán tạo ra một mô hình cho dữ liệu này. Nếu dữ liệu được thu được quá khác nhau cùng với một số phép đo thì nó được gán nhãn ngoài lớp từ mô hình này.
Trong phạm vi của nghiên cứu này chúng tôi sẽ trình bày 02 cách tiếp cận về thuật toán One-class SVM, một cách tiếp cận theo tác giả Schölkopf và một cách tiếp cận theo các tác giả Tax và Duin. Trước khi đi vào chi tiết thuật toán One-Class SVM, chúng ta tìm hiểu thuật toán máy véc tơ hỗ trợ (SVM – Support Vector Machine).