CEI 60749 11 (Première édition – 2002) Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Partie 11 Variations rapides de température – Méthode des deux bains IEC 60749 11 ([.]
CEI 60749-11 IEC 60749-11 (Première édition – 2002) (First edition – 2002) Dispositifs semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Partie 11: Variations rapides de température – Méthode des deux bains Part 11: Rapid change of temperature – Two-fluid-bath method CORRIGENDUM Page 10 Page 11 Tableau – Tolérances de températures de choc thermique et fluides suggérés Table – Thermal shock temperature tolerances and suggested fluids Sous A – Température Dans rangée Etape – Tolérance de température Under A – Temperature In row Step – Temperature tolerance Au lieu de: −40 −300 , Instead of: −40 −300 , lire: −40 −100 read: −40 −100 Janvier 2003 January 2003