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I E C 60 51 -2 -1 0 ® Edition 201 5-03 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE C on n e ctors for el ectron i c eq u i pm en t – Tests an d m eas u re m en ts – P art -1 0 : Si g n al i n teg ri ty tes ts u p to 50 M H z on M s tyl e n ectors – Tes ts a to g C on n ecteu rs pou r éq u i pem en ts él ectron i q u es – E ss s et m es u re s – P arti e -1 0 : E ss s d ' i n tég ri té d es s i g n au x j u s q u ' 50 M H z su r l e s IEC 6051 2-29-1 00:201 5-03(en-fr) n e cte u rs d e type M – E s sai s 9a g colour i n sid e T H I S P U B L I C AT I O N I S C O P YRI G H T P RO T E C T E D C o p yri g h t © I E C , G e n e v a , S wi tz e rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about I EC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local I EC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Ab ou t th e I E C The I nternational Electrotechnical Commission (I EC) is the leading global organization that prepares and publishes I nternational Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i ca ti o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I E C Catal og u e - webstore i ec ch /catal og u e The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad I E C pu bl i cati on s s earch - www i ec ch /search pu b The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications E l ectroped i a - www el ectroped i a org The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 30 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I E C G l os sary - s td i ec ch /g l oss ary More than 60 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i sh ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C C u stom er S ervi ce C en tre - webstore i ec ch /csc If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A propos d e l 'I E C La Commission Electrotechnique I nternationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A propos d es pu bl i cati on s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié Catal og u e I E C - webstore i ec ch /catal og u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad Rech erch e d e pu bl i cati on s I E C - www i ec ch /search pu b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectroped i a - www el ectroped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient plus de 30 000 termes et dộfinitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes équivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l oss re I E C - s td i ec ch /g l ossary Plus de 60 000 entrées terminologiques ộlectrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Définitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i s h ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email S ervi ce Cl i en ts - webstore i ec ch /csc Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I E C 60 51 -2 -1 0 ® Edition 201 5-03 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE colour i n sid e C on n ectors for el ectron i c eq u i pm e n t – Tests an d m eas u rem e n ts – P art -1 0 : S i g n al i n teg ri ty tes ts u p to 50 M H z on M s tyl e n ectors – Te s ts a to g C on n ecteu rs pou r éq u i pe m e n ts él ectron i q u es – E ss s et m es u res – P arti e -1 0 : E ss s d ' i n tég ri té d es s i g n au x j u s q u ' 50 M H z su r l e s n e cte u rs d e type M – E s sai s 9a g INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 31 220.1 ISBN 978-2-8322-2306-2 Warn i n g ! M ake s u re th at you obtai n ed th i s pu bl i ca ti on from an au th ori zed d i s tri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s ass u rer q u e vou s avez obten u cette pu bl i cati on vi a u n d i stri b u teu r ag ré é ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission –2– I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 CONTENTS FOREWORD Scope and obj ect Norm ative references Terms, definitions and abbreviations Terms and definitions Abbreviations Overall test arrangement Test instrum entation Coaxial cables and interconnect for network anal ysers 1 Measurem ent precautions 1 4 Reference components for calibration 4 Reference loads for calibration Termination loads for term ination of conductor pairs 4 Differential mode 4 Balun term inations 4 Term ination types Termination of screens Test specim en and reference planes General I nterconnections between device under test (DUT) and the calibration plane Termination of balun General requirem ents Centre tap connected to ground Centre tap open Sequence for calibration and measurement Connector measurem ent up to 00 MH z and 500 MH z 22 General 22 I nsertion loss, Test 29a 22 Object 22 2 Connector with m ale or fem ale contacts for insertion loss 23 Test m ethod 23 Test set-up 23 5 Procedure 23 Test report 24 Accuracy 24 Return loss, Test 29b 24 Object 24 Connector with male or female contacts for return loss 24 3 Test m ethod 24 Test set-up 24 5 Procedure 25 Test report 25 Accuracy 25 Near-end crosstalk (N EXT), Test 29c 26 Object 26 I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 –3– Connector with male or female contacts for N EXT 26 Test m ethod 26 4 Test set-up 26 5 Procedure 27 Test report 28 Accuracy 28 5 Far-end crosstalk (FEXT), Test 29d 28 5 Object 28 5 Connector with male or female contacts for FEXT 28 5 Test m ethod 28 5 Test set-up 28 5 Procedure 29 5 Test report 30 5 Accuracy 30 Transfer impedance (ZT), Test 29e 30 Transverse conversion loss (TCL), Test 29f 30 Object 30 Connector with male or female contacts for TCL 30 Test m ethod 30 Test set-up 30 Procedure 31 Test report 33 7 Accuracy 34 Transverse conversion transfer loss (TCTL), Test 29g 34 Object 34 Connector with male or female contacts for TCTL 34 Test m ethod 34 Test set-up 34 Procedure 35 Test report 35 Accuracy 35 Coupling attenuation 35 Construction and qualification of direct fixtures (DFP and DFJ) 35 General 35 Direct fixtures for DUT testing 36 Requirem ents for direct fixture up to 00 MH z 36 2 Requirem ents for direct fixture up to 500 MH z 37 Annex A (normative) I mpedance controlled m easurem ent fixture 39 A General 39 A Load 40 A Additional com ponents for connection to a network anal yzer 42 A Direct fixture 44 A Connecting hardware m easurement configuration 47 A DUT connections using header PCB assemblies 47 Annex B (informative) Reference source 48 B Test fixture components 48 Annex C (informative) Related connectors 49 Annex D (inform ative) I nterface to test fixtures 50 –4– I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 Bibliograph y 52 Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure Figure – Measurement strategies – 80° h ybrid used as a balun 1 – Measurement configurations for test bal un qualification – Calibration of reference loads – Resistor termination networks – Definition of reference planes – Balanced attenuator for balun centre tap grounded – Balanced attenuator for balun centre tap open – Open calibration – Short calibration 1 – Load calibration – Thru calibration 20 – Measurem ent of RL and N EXT on the DUT 21 – Measurem ent of I L and FEXT on the DUT 22 – Measuring set-up 23 – Return loss m easurement 25 – N EXT m easurement 27 – FEXT measurem ent for differential and comm on m ode term inations 29 – TCL measurem ent 31 20 – Coaxial lead attenuation calibration 31 21 – Back to back balun insertion loss m easurem ent 32 22 – Configuration for balun common mode insertion loss calibration 32 23 – Schem atic for balun comm on m ode insertion loss calibration 33 24 – TCTL measurem ent 34 25 – Reference planes 36 26 – Direct fixture M1 2, d-code mating face 37 27 – Direct fixture M1 2, d-code 37 28 – Direct fixture M1 2, x-code mating face 38 29 – Direct fixture M1 2, x-code 38 A – Test head assem bl y M 2, d-code with baluns attached 39 A – Test head assem bl y M 2, x-code with baluns attached 40 A – Test head assem bl y M mated with the load M1 41 A – Balun test fixture with the load M1 41 A – Load M1 2, x-code 42 A – Load M1 2, d-code 42 A – Test head showing shielding between baluns 43 A – Balun test fixture assem bl y 44 A – Direct fixture M1 2, d-code (DFJ ) for DUT with m ale contacts 45 A – Direct fixture M1 2, d-code (DFJ) for DUT with male contacts 45 A 1 – Direct fixture M1 2, x-code (DFJ) for DUT with m ale contacts 46 A – Direct fixture M1 2, x-code (DFJ) for DUT with m ale contacts – Cross-cut 46 I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 –5– Figure Figure Figure Figure A – Exploded assembly of the direct fixture (DFJ) 47 A – Exam ple of a connecting hardware m easurem ent configuration 47 D.1 – Test balun interface pattern 50 D.2 – Example pin and socket dimension 51 Table Table Table Table Table Table Table Table Table Table – Test balun perform ance characteristics up to 500 MH z 2 – Test balun perform ance characteristics up to 00 MH z – I nterconnection return loss – U ncertainty band of return loss m easurement at frequencies below 00 MH z 26 – U ncertainty band of return loss m easurement at frequencies above 00 MH z 26 – Direct fixture M1 2, performance up to 00 MH z 37 – Direct fixture M1 2, performance up to 500 MH z 38 A – Load M1 2, performance up to 500 M H z 42 A – Load M1 2, performance up to 00 MH z 42 C.1 – Related connectors 49 –6– I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 INTERNATI ONAL ELECTROTECHNI CAL COMMISSI ON C O N N E C T O R S F O R E L E C T RO N I C E Q U I P M E N T – T E S T S AN D M E AS U RE M E N T S – P a rt -1 0 : S i g n a l i n te g ri t y te s ts u p to 0 M H z o n M s t yl e c o n n e c t o rs – T e s ts a to g FOREWORD ) The I nternati on al Electrotechni cal Comm ission (I EC) is a worl d wid e organization for stan dardization com prisin g all n ation al el ectrotechnical comm ittees (I EC National Comm ittees) The object of I EC is to prom ote internati onal co-operation on all q uestions concerni ng stand ardi zati on in the el ectrical an d electronic fi elds To this en d and in additi on to other acti vities, I EC pu blish es I nternational Stan dards, Techn ical Specificati ons, Technical Reports, Publicl y Avail abl e Specificati ons (PAS) an d Gu ides (h ereafter referred to as “I EC Publication(s)”) Th ei r preparation is entrusted to tech nical comm ittees; any I EC N ational Comm ittee interested in the subj ect dealt with m ay partici pate in this preparatory work I nternational, governm ental an d n on governm ental organ izations l iaising with th e I EC also participate i n this preparation I EC collaborates closel y with the I ntern ational Organi zation for Stand ardization (I SO) in accordance with ditions determ ined by agreem ent between th e two organi zati ons 2) The form al decisions or ag reem ents of I EC on tech nical m atters express, as n early as possible, an i nternati onal consensus of opi nion on the rel evant subjects since each technical com m ittee has representati on from all interested I EC N ational Com m ittees 3) I EC Publications have the form of recom m endations for intern ational use an d are accepted by I EC National Com m ittees in that sense While all reasonable efforts are m ade to ensure that the tech nical content of I EC Publications is accu rate, I EC cann ot be h eld responsi ble for th e way in which th ey are used or for an y m isinterpretation by an y en d u ser 4) I n order to prom ote intern ational u niform ity, I EC National Com m ittees und ertake to apply I EC Publications transparentl y to the m axim um extent possible i n their national an d regi on al publicati ons Any d ivergence between an y I EC Publication and the correspondi ng national or regi on al publicati on sh all be clearl y in dicated in the latter 5) I EC itself d oes n ot provi de an y attestation of conform ity I n depend ent certificati on bodies provi de conform ity assessm ent services and, in som e areas, access to I EC m arks of conform ity I EC is not responsi bl e for an y services carri ed out by ind ependent certification bodi es 6) All users shou ld ensure that th ey have the l atest editi on of thi s publicati on 7) No liability shall attach to I EC or its directors, em ployees, servants or ag ents inclu din g in divi dual experts an d m em bers of its technical com m ittees and I EC Nati on al Com m ittees for any person al i njury, property d am age or other dam age of any nature whatsoever, wheth er di rect or indirect, or for costs (includ i ng l eg al fees) and expenses arisi ng out of the publ ication, use of, or relian ce upon, this I EC Publicati on or any other I EC Publications 8) Attention is drawn to th e N orm ative references cited in th is publ ication Use of the referenced publ ications is indispensable for the correct applicati on of this publication 9) Attention is drawn to the possibility that som e of the elem ents of this I EC Publication m ay be the su bject of patent rig hts I EC shall not be held responsibl e for identifyi ng any or all such patent ri ghts I nternational Standard I EC 6051 2-29-1 00 has been prepared by subcom mittee 48B: Electrical connectors, of I EC technical comm ittee 48: Electrical connectors and m echanical structures for electrical and electronic equipment The text of this standard is based on the following docum ents: FDI S Report on votin g 48B/241 0/FDI S 48B/2424/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 –7– This publication has been drafted in accordance with the I SO/I EC Directives, Part A list of all parts in the I EC 6051 series, published under the general title Connectors for electronic equipment – Tests and measurements , can be found on the I EC website The committee has decided that the contents of this publication will rem ain unchanged until the stability date indicated on the I EC web site under "http: //webstore iec.ch" in the data related to the specific publication At this date, the publication will be • • • • reconfirmed, withdrawn, replaced by a revised edition, or am ended I M P O RT AN T – T h e ' c o l o u r i n s i d e ' th at it co n tai n s u n d e rs t a n d i n g c o l o u r p ri n t e r of c o l o u rs i ts wh i c h c o n te n ts l og o a re U s e rs on th e co ve r p a g e o f th i s c o n s i d e re d sh ou l d to t h e re fo re be p u b l i c ati o n u s e fu l p ri n t th i s fo r i n d i c ate s th e d o cu m en t c o rre c t u sin g a –8– I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 C O N N E C T O R S F O R E L E C T RO N I C E Q U I P M E N T – T E S T S AN D M E AS U RE M E N T S – P a rt -1 0 : S i g n a l i n te g ri t y te s ts u p to 0 M H z o n M s t yl e c o n n e c t o rs – T e s ts a to g S cop e an d ob j ect This part of I EC 6051 specifies the test methods for transm ission performance for M1 2-style connectors up to 500 MH z I t is also suitable for testing lower frequency connectors if they meet the requirements of the detail specifications and of this standard NOTE All figu res show eq ui pm ent for conn ectors accordin g to I EC 61 076-2-1 09 as an exam ple The test methods provided herein are: – – – – – – insertion loss, test 29a; return loss, test 29b; near-end crosstalk (N EXT) test 29c; far-end crosstalk (FEXT), test 29d; transverse conversion loss (TCL), test 29f; transverse conversion transfer loss (TCTL), test 29g For the transfer im pedance (ZT) test, see I EC 6051 2-26-1 00, test 26e For the coupling attenuation see I SO/I EC 1 801 All test methods appl y for two and four pair connectors NOTE All figu res show schem es for four pair cabli ng and are also suitable for two pai r cabli ng N o rm a t i ve re fe re n c e s The following docum ents, in whole or in part, are normativel y referenced in this docum ent and are indispensable for its application For dated references, onl y the edition cited applies For undated references, the latest edition of the referenced docum ent (including an y amendments) applies I EC 60050 (all parts): http://www electropedia org) International Electrotechnical Vocabulary (available at I EC 6051 2-1 , Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 1: General I EC 6051 2-26-1 00, Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 26-100: Measurement setup, test and reference arrangements and measurements for connectors according to IEC 60603-7 – Tests 26a to 26g IEC 61 076-1 , Connectors for electronic equipment – Product requirements – Part 1: Generic specification – 94 – I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 IEC Figure A.2 – Assemblage de têtes d’essai, M1 2, code x, avec symétriseurs montés Des norm es d’étalonnage, utilisant les mêm es matériaux et le même positionnem ent, sont fournies Le plan d’étalonnage se situe ainsi sur la partie supérieure (extrém ité ouverte) des supports de la plaque de montage de l’adaptateur U ne plaque de montage équipée d’interfaces de support fournit une connexion directe aux sym étriseurs d’essai Deux dispositifs de ce type fournissent ports d’essai pour la connexion aux extrém ités proches et éloignées d’un dispositif en essai quatre paires Les interfaces du symộtriseur sont conỗues pour saccoupler aux sym ộtriseurs BH electronics 040-01 92 Des composants alternatifs équivalents peuvent aussi être utilisés Des évolutions techniques des dispositifs d’essai sont attendues Ces nouveaux dispositifs peuvent rem placer ou com pléter les dispositifs spécifi é s et recommandés dans la présente norme, s’ils satisfont aux exigences correspondantes spécifiées dans la présente norm e A.2 Charge La charge est nécessaire pour évaluer le connecteur M1 fixation directe La Figure A représente l'évaluation du connecteur M1 fixation directe I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 – 95 – Charge Fixation directe IEC F i g u re A – As s em b l ag e d e tête s d ’ es s , n ecteu r M a ccou pl é l a ch a rg e M Dans l'état connecté, les exigences de la fixation directe sont indiquées dans le Tableau pour les connecteurs M1 2, code d et dans le Tableau pour les connecteurs M1 code x Les exigences concernant les charges sont m esurées dans le sens inverse Les Figures A.4, A.5 et A représentent le montage d'essai pour évaluer les charges IEC F i g u re A – D i s p os i ti f d ' e s s d e s ym étri s eu r ave c l a ch a rg e M – 96 – I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 IEC Figure A.5 – Charge M1 2, code x IEC Figure A.6 – Charge M1 2, code d Le Tableau A et le Tableau A donnent les exigences concernant les charges lorsqu'elles sont mesurées dans le sens inverse Tableau A.1 – Charge M1 2, performances jusqu'à 500 MHz Charge M 2, jusqu 'à 500 MHz, paramètre de performances Valeur dB Affaiblissem ent paradi aphoni q ue résid uel pai re pai re > 04 – 20l og( f) , 75 dB m ax Affaiblissem ent de réflexion > 71 – 20log( f) , 40 dB m ax Tableau A.2 – Charge M1 2, performances jusqu'à 00 MHz Charge M 2, jusqu 'à 00 MHz, paramètre de performances Valeur dB Affaiblissem ent paradi aphoni q ue résid uel pai re pai re 03 – 20l og ( f) , 75 dB m ax Affaiblissem ent de réflexion > 63 – 20log( f) , 40 dB m ax I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 A.3 – 97 – Composants supplémentaires pour la connexion un analyseur de réseau Des câbles de type SMA, des connecteurs, des sorties SMA 50 Ω , sont nécessaires pour réaliser l’interface entre les ports coaxiaux des sym étriseurs et les ports de l’analyseur de réseau, comm e indiqué la Figure A et la Figure A Des supports de m ontage sont recom mandés pour maintenir les assem blages d’interfaces d’essai dans une position adaptée la fixation des connecteurs en essai Un ruban en feuille avec un adhésif conducteur, 3M 501 2C ou équivalent, peut être utilisé lorsqu’un blindage supplémentaire est nécessaire pour différents com posants Des composants alternatifs équivalents peuvent aussi être utilisés Ces informations ne signifient nullement que l'I EC approuve ou recomm ande ces composants IEC Figure A.7 – Tête d'essai représentant un blindage entre des symétriseurs – 98 – I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 IEC Figure A.8 – Assemblage de dispositif d'essai de symétriseur A.4 Fixation directe Une fixation destinée la m esure directe des propriétés d’un dispositif en essai possède des sondes blindées reliées en contact avec le connecteur avec des contacts m âles (DFP) ou fem elles (DFJ) U ne construction de DFJ est représentée aux Figures A A Le dispositif possède des niveaux de diaphonie et d’affaiblissement de réflexion conformes au Tableau Les mesures de perte d’insertion, d’affaiblissem ent paradiaphonique, d'affaiblissem ent télédiaphonique, d’affaiblissem ent de réflexion, de perte de conversion transverse et de perte de transfert de conversion transverse peuvent être réalisées l’aide de cette fixation I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 – 99 – IEC Figure A.9 – Connecteur M1 fixation directe, code d, (DFJ) pour dispositif en essai avec contacts mâles IEC Figure A.1 – Connecteur M1 fixation directe, code d, (DFJ) pour dispositif en essai avec contacts mâles – 00 – I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 IEC Figure A.1 – Connecteur M1 fixation directe, code x, (DFJ) pour dispositif en essai avec contacts mâles IEC Figure A.1 – Connecteur M1 fixation directe, code x, (DFJ) pour dispositif en essai avec contacts mâles – Vue en coupe I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 – 01 – IEC Légende ) Dem i-en vel oppe en m étal 2) Dem i-en vel oppe en m étal 3) Croi x de bli nd ag e 4) Aiguill es de contact 5) Fi xati on d irecte au circu it im prim é Figu re A.1 – Vu e éclatée de la fixation directe (DFJ) A.5 Configuration de mesure du matériel de connexion La Figure A montre un exem ple de configuration de m esure pour un matériel de connexion Plan de référence Plan de référence IEC Figure A.1 – Exemple de configuration de mesu re pour un matériel de connexion A.6 Connexions de dispositif en essai utilisant des ensembles de cartes imprimées embase Une des méthodes pour m inimiser les effets des fils d’interconnexion consiste utiliser des ensembles de cartes im primées embase dédiées pour réaliser la connexion entre le dispositif en essai et l’équipem ent d’essai Ces cartes imprim ées embase incluent des connexions perm ettant de faire l’interface avec le port d’essai et également des connexions réalisant l’interface avec les bornes du dispositif en essai ou les fentes de connexions autodénudantes NOTE Les sou rces de référen ce sont présentées l'Ann exe B – 02 – I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 Annexe B (informative) Source de référence B.1 Composants du dispositif d'essai Tous les composants du dispositif d’essai référencés dans l'Annexe A, y com pris la fixation directe DFJ ou DFP, peuvent être obtenus auprès de: Phoenix Contact GmbH Co KG, Flachsmarktstrasse 8, D-32825 Blomberg, Allemagne, www phoenixcontact.com Ces dispositifs d’essai sont fournis sous forme de kit comprenant des plaques d’adaptateur, des plaques de m ontage de sym étriseur, des sym étriseurs et des références d’étalonnage NOTE Les sources de référence sont d onn ées des fi ns d 'illustrati on uniqu em ent et ne signifi ent null em ent q ue l'I EC les approu ve ou les recomm ande I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 – 03 – Annexe C (informative) Connecteurs apparentés Les méthodes d'essai décrites dans la présente norm e s'appliquent spécialem ent aux connecteurs conform es au Tableau C Tableau C.1 – Connecteurs apparentés Norme sur l e connecteur Pôles Codage Fréquence max I EC 61 076-2-1 01 D 00 I EC 61 076-2-1 09 X 500 I EC PAS 61 076-2-1 H 500 MH z – 04 – I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 An n e xe D (informative) I n te rfa c e a ve c l e s d i s p o s i ti fs d ' e s s a i Pour faciliter le raccordement des dispositifs d'essai, il est recommandé d'utiliser une interface entre broches et support, dont les dimensions sont données la Figure D et la Figure D.2 I l est recommandé d'utiliser des supports plaqués or NOTE Référence de pièce M ill-Max 001 -0-1 5-1 5-30-27-04-0 com m e indiqué la Fi gu re D Des com posants alternatifs éq ui val ents peuvent aussi être utilisés Ces i nform ations n e signifi ent n ull em ent que l'I EC approu ve ou recom m ande ces com posants Dimensions en mm 2, 54 Com m un 4, 42 2, 21 Sortie d ifférentielle +/– Sortie d ifférentielle +/– Com m un (facultatif) , 27 F i g u re D – C o n fi g u t i o n IEC d ' u n e i n t e rfa c e d e s y m é t ri s e u r d ' e s s a i I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 – 05 – Dimensions en mm IEC Figure D.2 – Exemple de dimensions de broche et de support Exemple de description de support: Mill-M ax 001 -0-1 5-1 5-30-27-04-0 Matériau: alliage de laiton Contact: 30 = contact doigts normalisé Matériau de contact: cuivre au béryllium Placage de l'enveloppe: 0, 254 µm (1 µ ") de nickel recouvert d'or Placage du contact: 0, 762 µm (30 µ ") de nickel recouvert d'or Trou de m ontage: , 45 mm (0, 057 pouces) inséré force – 06 – I EC 6051 2-29-1 00: 201 © I EC 201 Bibliographie I EC 60050-581 , Vocabulaire Electrotechnique International – Partie 581: Composants électromécaniques pour équipements électroniques I EC PAS 61 076-2-1 0, Connectors for electronic equipment – Product requirements – Part 2- 110: Circular connectors – Detail specification for circular connectors M12 x with screwlocking, for high speed Ethernet and high speed data communication with frequencies up to 500 MHz and 10 gigabits/s (disponible en anglais uniquem ent) I EC 6051 2-27-1 00, Connecteurs pour équipements électroniques – Essais et mesures – Partie 27-100: Essais d'intégrité des signaux jusqu'à 500 MHz sur les connecteurs de la série IEC 60603-7 – Essais 27a 27g IEC 61 56 (toutes les parties), Câbles multiconducteurs paires symétriques et quartes pour transmissions numériques _ INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSI ON 3, rue de Varembé PO Box 31 CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel: + 41 22 91 02 1 Fax: + 41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch