Phân tích nhiễu xạ tỉ a

Một phần của tài liệu Flash (8) (Trang 66 - 69)

Các mẫu được đem phân tích nhiễu xạ X-Ray là các mẫu M4, M5, M6, được sấy khô, nghiền dưới dạng bột mịn, bước sóng X = 1,54056 A°, góc nhiễu xạ 20 (từ 20° đến 70°).

Hình 34: Phổ

chuẩn của Fe304 [18]

*n tn I4 IV C C 0 4J nr 40 +5 50 2 Thetò Idegrees] ------s&ntiri ------Cởirci w 70

Qua phổ nhiễu xạ tia X của các mẫu trên ta thấy:

- Vị trí các đỉnh phổ đều tương ứng nhau và trùng với mẫu chuẩn của Fe304, chỉ sai lệch nhau về độ bán rộng nhưng cũng không nhiều lắm.

- Dựa vào độ rộng ở 1/2 đỉnh phố cực đại tính theo 20 của đỉnh phổ chính trong u tatnarn PetrolAum InstLÍMtA 2S*J-2009 13-qe

, _ 0,9X

phô XRD và thông qua công thức Scherrer: a = ——------------------------------— ta tính đươc kích thước

P(hid)-c os 0

trung bình của hạt như sau:

Bảng 6: Kích thước hạt tính theo

So sánh kết quả chụp FESEM và chụp XRD cho kết quả nhu sau:

So sánh kích thuớc hạt giữa ảnh chụp FESEM và ảnh chụp X-RAY ta thấy trong phương pháp chụp X-RAY cho kết quả kích thước hạt cũng nằm trong khoảng kích thước hạt khi chụp ảnh bằng FESEM. Vậy hai phương pháp chụp ảnh trên cho ta thấy kích thước hạt tương đối như nhau. Tuy cũng có sự khác biệt về kích thước của hạt nhưng sự khác biệt đó hầu như khơng đáng kể.

Một phần của tài liệu Flash (8) (Trang 66 - 69)

Tải bản đầy đủ (DOC)

(79 trang)
w