Chương 2 : THỰC NGHIỆM VÀ CÁC PHƯƠNG PHÁP NGHIÊN CỨU
2.3. Nghiên cứu ảnh hưởng của phụ gia đến tính chất của vữa ximăng Hoàng
2.3.8. Phương pháp kính hiện vi điện tử quét (SEM)
Phương pháp kính hiển vi điện tử quét SEM là một phương pháp nghiên cứu đặc điểm hình dáng bề mặt vật liệu, hình thái cấu trúc (cung cấp thơng tin về sự kết tinh, kích thước hạt, cho phép quan sát vi cấu trúc), thành phần cấu tạo. Ngồi ra ảnh SEM cịn cung cấp thơng tin về thành phần pha, sự tương tác và phân bố giữa các pha.
Kính hiển vi điện tử quét (SEM – Scanning Electron Microscope) là một kỹ thuật phân tích cho phép sự tạo ảnh bề mặt mẫu với độ phân giải cao. Ở đây, một chum điện tử hẹp được quét đi quét lại bề mặt mẫu, bức xạ phát ra sau khi tương tác với mẫu sẽ được thu lại và phân tích, từ đó tạo ảnh biểu trưng hình thái cấu trúc của vật liệu. Kỹ thuật này được phát minh từ những năm 1940 của thế kỷ trước, thiết bị SEM thương mại đầu tiên được sản xuất tại Cambridge (Anh) năm 1965. Sau đó chúng được thay đổi cải tiến nhiều và trở thành một thiết bị thông dụng để nghiên cứu vật liệu.
Việc phát điện tử trong thiết bị SEM sử dụng sung phóng điện tử phát xạ nhiệt hoặc phát xạ trường, sau đó tăng tốc cho chum điện tử. Thế tăng tốc của SEM thường đạt từ 10kV đến 50kV. Điện tử sau khi được tăng tốc sẽ hội tụ
đó quét trên bề mặt mẫu nhờ lực quét tĩnh điện. Độ phân giải của SEM được xác định từ kích thước chùm điện tử hội tụ.
Khi tương tác với bề mặt mẫu chất rắn sẽ sinh ra một đám mây điện tử bật ngược trở lại, các tín hiệu này cho phép tạo ảnh bề mặt mẫu và thực hiện một số các phép phân tích như EDS, WDS, phổ Auger, phổ huỳnh quang catot.
Những hình ảnh SEM trong bản luận văn này được chụp tại phịng Bêtơng, Viện khoa học công nghệ Xây dựng.
*Ưu điểm của SEM:
+ Các thiết bị của SEM cho phép phóng đại > 100 000 lần.
+ Phân tích khơng cần phá hủy mẫu và làm việc ở mức độ chân khơng bình thường.
+ Chuẩn bị mẫu và điều khiển thiết bị đơn giản . + Giá thành thiết bị rẻ.